测试座的制作方法

本发明涉及一种测试座，更加详细地，涉及一种使用在对待测设备的电性检测中的测试座。

背景技术：

1、待测设备(例如，半导体封装件)是微电子电路以高密度集成而成，在制造工序中，对各个电子电路是否正常进行检测工序。检测工序是测试待测设备是否正常运转，从而筛选良品和不良品的工序。

2、在测试待测设备的工序中，使用将待测设备和施加测试信号的测试仪电连接的测试座。即，测试仪和待测设备并不是直接接通，而是通过测试座间接接通。

3、在现有的半导体封装件中，当为作为接通端子使用焊球的球栅阵列(ball gridarray；bga)封装件时，测试座具有在测试座桶内设有测试座销的结构，并通过成形模型以及机械加工方法来制造。作为测试座销主要使用具有弹性的弹簧(pogo)针。

4、一般，弹簧针由如下结构构成，即，在桶的上下部各自配置有与待测设备接通的上部销和与测试仪的焊盘接通的下部销，在上部销和下部销之间夹着弹簧。

5、弹簧针随着使用次数的增加而作为形成在待测设备上的球的主成分的锡发生转移，从而发生问题。当在上部销堆积锡等的异物时，接触电阻变高，从而降低检测准确度以及可靠性。

6、为了恢复对弹簧针的检测的可靠性，可以使用通过超声波清洗探针的方法，然而这种清洗工序增加检测时间和费用，因此实用性降低。

7、作为又一其他清洗方法，通过刷子反复进行摩擦过程，由此进行清洗作业，然而由于上部销的接触部发生磨损，因此同样具有实用性降低的问题。

8、另外，现有的弹簧针在反复的检测过程中上部销发生损坏时，需要替换整体，因此具有花费很多替换费用的问题。

9、【现有技术文献】

10、【专利文献】

11、公开专利公报第2022-0043866号(2022.04.05)

技术实现思路

1、要解决的技术问题

2、本发明是鉴于如上所述问题而提出的，本发明的目的在于，提供一种容易制造，且可以仅替换与待测设备的端子反复接触的器件，从而减少器件替换导致的维修费用的测试座。

3、另外，本发明的目的在于，提供一种当与待测设备接触时，器件之间的电连接稳定，而且电阻小，能够稳定完成信号传递的测试座。

4、问题的解决手段

5、为了解决如上所述目的，根据本发明的测试座，其为将待测设备的端子与产生测试信号的测试仪的焊盘接通，从而对所述待测设备进行电性检测的测试座，其中，所述测试座包括：检测用探针，其包括下部柱塞、上部柱塞、弹簧探针以及接触探针，所述下部柱塞与所述焊盘接触，所述上部柱塞与所述下部柱塞结合，所述弹簧探针由施加弹性以使所述下部柱塞和所述上部柱塞彼此远离的圆柱形弹簧构成，所述接触探针上侧与所述待测设备的端子接触，下侧与所述上部柱塞接触；测试座壳体，在与所述待测设备的端子对应的每个位置具备壳体孔，并容纳所述接触探针以及所述弹簧探针以使所述接触探针的上侧从每个所述壳体孔突出；覆盖件，在与所述壳体孔对应的每个位置具备覆盖件孔，并与所述测试座壳体耦接以使所述下部柱塞的下侧从每个所述覆盖件孔突出，其中，所述上部柱塞具有滑移槽，所述下部柱塞具有插入到所述滑移槽中的一对滑移突起，从而通过滑移方式结合所述上部柱塞和所述下部柱塞。

6、所述下部柱塞可以包括：止动部，设在所述滑移突起上以与所述上部柱塞接触，从而防止所述滑移突起脱离所述滑移槽。

7、所述上部柱塞包括：上部柱塞接触部，与所述接触探针接触；第一上部柱塞臂以及第二上部柱塞臂，配置为从所述上部柱塞接触部延伸，从而彼此相对，其中，所述滑移槽位于所述第一上部柱塞臂和所述第二上部柱塞臂之间，在所述第一上部柱塞臂和所述第二上部柱塞臂中的至少任意一个可连接有制动部，所述制动部与所述止动部接触，从而防止所述滑移突起脱离所述滑移槽。

8、所述上部柱塞包括连接所述第一上部柱塞臂的端部和所述第二上部柱塞臂的端部的连接部，所述制动部可设在所述连接部上。

9、所述上部柱塞可以包括：第一上部柱塞倾斜部以及第二上部柱塞倾斜部，各自倾斜形成在所述连接部的端部两侧，从而以所述上部柱塞的长度方向中心轴为基准呈对称。

10、所述上部柱塞可以包括：上部柱塞接触部，与所述接触探针接触；第一上部柱塞臂以及第二上部柱塞臂，配置为从所述上部柱塞接触部延伸，从而彼此相对，其中，所述滑移槽位于所述第一上部柱塞臂和所述第二上部柱塞臂之间，所述滑移突起在所述滑移槽内发生倾斜以使一端部与所述第一上部柱塞臂接触，另一端部与所述第二上部柱塞臂接触，从而与所述上部柱塞形成2个以上的接触点。

11、所述下部柱塞可以包括：下部柱塞接触部，与所述焊盘接触；第一下部柱塞臂以及第二下部柱塞臂，配置为从所述下部柱塞接触部延伸，从而彼此相对；狭缝，设在所述第一下部柱塞臂以及所述第二下部柱塞臂之间，其中，所述滑移突起分别设在所述第一下部柱塞臂以及所述第二下部柱塞臂上，所述上部柱塞包括：上部柱塞接触部，与所述接触探针接触；第一上部柱塞臂以及第二上部柱塞臂，配置为从所述上部柱塞接触部延伸，从而彼此相对；连接部，连接所述第一上部柱塞臂和所述第二上部柱塞臂以插入到所述狭缝中，其中，所述连接部在所述狭缝内发生倾斜以使一端部与所述第一下部柱塞臂接触，另一端部与所述第二下部柱塞臂接触，从而与所述下部柱塞形成2个以上的接触点。

12、所述下部柱塞可以包括：第一下部柱塞臂内部倾斜部，在所述第一下部柱塞臂端部的内侧面设置为倾斜的形态；第一下部柱塞臂外部倾斜部，在所述第一下部柱塞臂端部的外侧面设置为倾斜的形态；第二下部柱塞臂内部倾斜部，在所述第二下部柱塞臂端部的内侧面设置为倾斜的形态；第二下部柱塞臂外部倾斜部，在所述第二下部柱塞臂端部的外侧面设置为倾斜的形态，其中，所述第一下部柱塞臂内部倾斜部和所述第二下部柱塞臂内部倾斜部以所述下部柱塞的长度方向中心轴为基准呈对称，所述第一下部柱塞臂外部倾斜部和所述第二下部柱塞臂外部倾斜部以所述下部柱塞的长度方向中心轴为基准呈对称。

13、所述上部柱塞可以具备与所述接触探针点接触的接触突起。

14、所述接触探针可以具备与所述上部柱塞点接触的接触突起。

15、所述接触探针可以包括多个与所述待测设备的端子点接触的尖头部。

16、发明效果

17、根据本发明的测试座可以是在待测设备与检测用探针接触的同时，弹簧探针受到压缩力时，弹簧探针的下部柱塞和上部柱塞形成2个以上的接触点的同时，彼此保持接触的状态。因此，下部柱塞和上部柱塞之间的电连接、接触探针和弹簧探针之间的电连接稳定，而且电阻小，能够稳定完成信号传递。

18、另外，根据本发明的测试座制造容易，而且可以仅替换与待测设备的端子反复接触的接触探针，从而具有节约器件替换导致的维修费用的优点。

技术特征：

1.一种测试座，其为将待测设备的端子与产生测试信号的测试仪的焊盘接通，从而对所述待测设备进行电性检测的测试座，其特征在于，所述测试座包括：

2.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的测试座，其特征在于，

4.根据权利要求3所述的测试座，其特征在于，

5.根据权利要求4所述的测试座，其特征在于，

6.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，

7.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，

8.根据权利要求7所述的测试座，其特征在于，

9.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，

10.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，

11.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，

技术总结
根据本发明的测试座，其中，包括：检测用探针，其包括下部柱塞、上部柱塞、弹簧探针以及接触探针，下部柱塞与焊盘接触，上部柱塞与下部柱塞结合，弹簧探针由施加弹性以使下部柱塞和上部柱塞彼此远离的圆柱形弹簧构成，接触探针上侧与待测设备的端子接触，下侧与上部柱塞接触；测试座壳体，在与待测设备的端子对应的每个位置具备壳体孔，并容纳接触探针以及弹簧探针以使接触探针的上侧从每个壳体孔突出；以及覆盖件，在与壳体孔对应的每个位置具备覆盖件孔，并与测试座壳体耦接以使下部柱塞的下侧从每个覆盖件孔突出，其中，上部柱塞具有滑移槽，下部柱塞具有插入到滑移槽中的一对滑移突起，从而通过滑移方式结合上部柱塞和下部柱塞。

技术研发人员：吴昌洙
受保护的技术使用者：TSE有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/3/24