一种产品的缺陷检测方法及系统与流程

本发明属于机器视觉与图像处理领域，更具体地，涉及一种产品的缺陷检测方法及系统。

背景技术：

1、玻璃基板是构成液晶面板的一个重要部件，随着半导体产业大力发展，tft-lcd(薄膜晶体管液晶显示系统)，miniled(直径约100μm至200μm的led)，amoled(有源矩阵有机发光二极体或主动矩阵有机发光二极体)，直显或背光led(发光二极管)产品层出不穷。在封装成显示器前会经历多段工艺，各阶段均会出现不良样品。针对玻璃基板上缺陷进行检测，特别是现阶段玻璃基板的大面积化，更加容易产生瑕疵品。随着瑕疵玻璃基板流入后续工艺，可能引起后续新的缺陷，最终导致显示面板不合格，造成资源浪费和成本增加。目前的检测方法主要是通过goldendie(标准模板元器件)或者dietodie(元器件-元器件对比检测模式)的检测方式，因此需要提前确定玻璃基板上面led，ic(微电子元器件)，bonding(压接区域)焊盘等关键器件的检测位置。

2、传统检测技术确定检测位置是通过使用cad文件或者根据拍摄图像一帧帧的画检测区域；其中，cad文件保密程度高，且由多层图层组成并不能直接对应检测区域；后者由于玻璃基板的大面积化，其尺寸大小和结构也越来越多样。根据拍摄图像画检测区域费时费力，容易遗漏部分检测区域。

技术实现思路

1、针对现有技术的缺陷，本发明的目的在于提供一种产品的缺陷检测方法及系统，旨在解决传统检测技术确定检测位置是通过使用cad文件或者根据拍摄图像一帧帧的画检测区域，导致准确获取检测区域困难的问题。

2、为实现上述目的，第一方面，本发明提供了一种产品的缺陷检测方法，包括以下步骤：

3、采用检测roi与待检测产品的扫描图像对应，查找扫描图像对应的待检测产品实际检测位置；

4、采用与待检测产品匹配检测方法，结合扫描图像对应的产品实际检测位置，获取缺陷的位置及等级；

5、其中，检测roi的获取方法，包括以下步骤：

6、a.缩放参考产品的元器件坐标，使其与扫描系统的图像分辨率处于同一坐标系中；

7、b.根据扫描系统对参考产品的扫描轨迹确定每一帧扫描图像在参考产品坐标系中的位置，基于不同的接收文件获取检测roi；其中，参考产品与待检测产品为同类产品；对同类产品只进行一次检测roi的提取。

8、进一步优选地，步骤b包括以下步骤：

9、b.1：根据扫描系统的扫描轨迹确定每一帧扫描图像在参考产品坐标系中的位置，分割每一帧扫描图像点位区域；

10、b.2：当接收文件为点位文件，则读取点位文件，根据所有扫描图像确定参考产品中元器件的标准模板，并将标准模板复制到每一帧扫描图像点位区域，存储作为检测roi；当接收文件为cad文件，则分割后的每一帧扫描图像点位区域为检测roi；其中，点位文件中包含有参考产品中元器件坐标。

11、进一步优选地，产品的缺陷检测方法还包括以下步骤：

12、基于步骤a，将缩放后的元器件点位压缩到与邻近元器件距离n个像素，构建点位映射地图；

13、将检测到的缺陷坐标压缩到元器件与邻近元器件距离n个像素后，与点位映射地图对比，确定存在缺陷的元器件类型和编号；其中，n为大于等于1的整数。

14、进一步优选地，检测方法包括元器件-元器件对比检测模式、标准模板元器件检测方法和分区单独检测方法；

15、元器件-元器件对比检测模式为当每帧扫描图像中存在若干相同形貌的元器件时，则元器件相互之间作为参考基准，判断元器件是否存在缺陷；

16、标准模板元器件检测方法为元器件的标准模板与扫描图像中的检测区域进行作差比对，发现不一致位置记为缺陷；

17、分区单独检测方法为将检测roi分为不同区域分别设置参数检测。

18、进一步优选地，元器件为led或ic或fpc或压接区域焊盘；元器件固定在玻璃基板上，作为待检测产品或参考产品。

19、进一步优选地，扫描轨迹的获取方法为：

20、将玻璃基板放置在载物台上进行扫描，确定玻璃基板上的sn码；对参考产品或待检测产品的标记点进行定位确定扫描轨迹，获取轨迹文件；其中，sn码为每一待检测产品或参考产品的编号；标记点用于获取扫描的方向和扫描顺序；轨迹文件中记录有扫描位置和扫描图像的名称。

21、进一步优选地，对缺陷的特征筛选将缺陷分为不同的等级；其中，缺陷的特征包括缺陷的面积，长度和强度。

22、第二方面，本发明提供了相应的一种缺陷检测系统，包括：

23、实际检测位置的确定模块，用于采用已有的检测roi与待检测产品的扫描图像对应，查找扫描图像对应的待检测产品实际检测位置；

24、缺陷检测模块，用于采用不同的检测方法，结合扫描图像对应的产品实际检测位置，获取缺陷的位置及等级；

25、坐标缩放模块，用于缩放参考产品的元器件坐标，使其与扫描系统的图像分辨率处于同一坐标系中；

26、检测roi的获取模块，用于根据扫描系统对参考产品的扫描轨迹确定每一帧扫描图像在参考产品坐标系中的位置，基于不同的接收文件获取检测roi；其中，参考产品与待检测产品为同类产品。

27、第三方面，本发明提供一种电子设备，包括：至少一个存储器，用于存储程序；至少一个处理器，用于执行存储器存储的程序，当存储器存储的程序被执行时，处理器用于执行第一方面或第一方面的任一种可能的实现方式所描述的方法。

28、第四方面，本发明提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，当计算机程序在处理器上运行时，使得处理器执行第一方面或第一方面的任一种可能的实现方式所描述的方法。

29、第五方面，本发明提供一种计算机程序产品，当计算机程序产品在处理器上运行时，使得处理器执行第一方面或第一方面的任一种可能的实现方式所描述的方法。

30、可以理解的是，上述第二方面至第五方面的有益效果可以参见上述第一方面中的相关描述，在此不再赘述。

31、总体而言，通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比，具有以下有益效果：

32、本发明提供了一种产品的缺陷检测方法及系统，其中，缩放参考产品的元器件坐标，使其与扫描系统的图像分辨率处于同一坐标系中，根据扫描系统对参考产品的扫描轨迹确定每一帧扫描图像在参考产品坐标系中的位置，基于不同的接收文件获取检测roi；将检测roi进行存储，当待测产品与参考产品属于同一类产品时，只需要执行定位流程，调取检测roi，即可进行检测流程，不需要每一产品的缺陷检测均进行检测roi的提取，因此，本发明大大提高了缺陷检测的效率。

33、本发明提供了一种产品的缺陷检测方法及系统，其中，当接收文件为点位文件，则读取点位文件，根据参考产品的所有扫描图像确定参考产品中元器件的标准模板，并将标准模板复制到每一帧扫描图像点位区域，存储作为检测roi。与现有的通过cad文件获取检测roi相比，本发明不需要以元器件的具体结构和形态为基础，通过点位文件可一次性生成全部的检测区域，快速对应不同的产品，不仅提高了产品的保密性而且效率得到了很大的提升。

34、本发明提供了一种产品的缺陷检测方法及系统，其中，将缩放后的元器件点位压缩到与邻近元器件距离n个像素，构建点位映射地图；将检测到的缺陷坐标压缩到元器件与邻近元器件距离n个像素后，与点位映射地图对比，确定存在缺陷的元器件类型和编号；对于后续复查缺陷提供了支撑。

35、本发明提供了一种产品的缺陷检测方法及系统，其中，检测方法包括元器件-元器件对比检测模式、标准模板元器件检测方法和分区单独检测方法；基本可覆盖95％的产品型号，可针对不同尺寸的产品，与存储的检测roi相结合，可以应对客户频繁换型的要求，能有效节省时间，特别对于大尺寸、多合一产品提升效率非常明显。