精密气浮条上浮高度测量装置及测量方法与流程

本申请涉及基板玻璃生产，尤其涉及一种精密气浮条上浮高度测量装置及测量方法。

背景技术：

1、在基板玻璃生产行业，精密气浮条上方的送气孔能够向精密气浮条上方的基板玻璃送气，以使基板玻璃以悬浮在精密气浮条上方的方式被驱动结构驱动后传送，而相机能够在基板玻璃被传送至特定位置后对基板玻璃进行拍照，进而通过所获取的图像确认基板玻璃是否存在颗粒等异物，或者存在划痕等瑕疵。

2、当基板玻璃的上浮距离太高时，不仅会增大耗气量，而且会影响传输稳定性，在传输不稳定时会导致相机对基板玻璃的拍照模糊不清，进而难以通过图像准确检验基板玻璃是否存在异物及瑕疵；当基板玻璃的上浮距离太低时，会导致基板玻璃易和精密气浮条的上表面接触，进而在传送过程中基板玻璃和精密气浮条相互摩擦而均产生划痕，而精密气浮条的价格昂贵，维修及替换将带来更大的经济损失，且当替换精密气浮条时，需要用到角度尺、刀口尺和塞尺，操作较为繁琐。

3、如此，亟需提供一种精密气浮条上浮高度测量装置及测量方法，以在对基板玻璃进行传送前先对精密气浮条的上浮高度进行测量，以此来避免出现上述问题。

技术实现思路

1、本申请提供一种精密气浮条上浮高度测量装置及测量方法，其所要解决的一个技术问题是：在对基板玻璃进行传送前先对精密气浮条的上浮高度进行测量，以确保精密气浮条的上浮高度是合格的。

2、第一方面，本申请实施例提供一种精密气浮条上浮高度测量装置，精密气浮条上浮高度测量装置包括：限位结构和测量结构，限位结构设置有沿竖直方向延伸的上浮通道，且限位结构的侧部设置有对应上浮通道的可视窗口；测量结构的至少部分对应设置在可视窗口，且测量结构对应可视窗口的部分设置有沿竖直方向延伸的刻度。

3、在一些实施例中，可视窗口为限位结构侧部开设的可视通道；测量结构包括：刻度件，刻度件设置在上浮通道内、或者插设在限位结构的侧壁内、或者套设在限位结构的外侧，并封堵可视通道，刻度件为透光件，且刻度件设置有刻度。

4、在一些实施例中，刻度件呈环状，刻度件可拆卸的设置在上浮通道内，并至少抵接上浮通道的一圈内壁；和/或，刻度件的零刻度位于刻度件的下端。

5、在一些实施例中，刻度件设置在上浮通道内或者插设在限位结构的侧壁内；精密气浮条上浮高度测量装置还包括：放大结构，放大结构设置在可视通道内，并位于刻度件靠近限位结构外部的一侧，放大结构能够放大可视通道的视野。

6、在一些实施例中，放大结构滑动设置在可视通道，以能够向靠近或远离上浮通道的方向滑动。

7、在一些实施例中，放大结构包括：物镜和目镜，物镜和目镜设置在可视通道，物镜位于目镜和刻度件之间；其中，物镜和/或目镜能够相对自身的轴转动。

8、在一些实施例中，限位结构的下端对应上浮通道的两侧分别向下延伸有第一限位部和第二限位部，第一限位部和第二限位部之间的距离大于或等于精密气浮条的宽度。

9、在一些实施例中，第一限位部的下端连接有高度可调的第一支撑脚；第二限位部的下端连接有高度可调的第二支撑脚。

10、在一些实施例中，限位结构的多个侧部分别设置有可视窗口，且至少两个可视窗口的位置彼此相对；或，上浮通道彼此相对的两处内壁之间的距离等于基板玻璃彼此相背的两处侧表面之间的距离。

11、第二方面，本申请实施例提供一种测量方法，应用于上述中任一项的精密气浮条上浮高度测量装置，测量方法包括：将精密气浮条上浮高度测量装置放置在精密气浮条上表面，并将精密气浮条上浮高度测量装置的上浮通道与精密气浮条的送气孔对应；将基板玻璃送入上浮通道内；通过精密气浮条的送气孔向上浮通道内输送气体，以使基板玻璃悬浮于上浮通道内；通过精密气浮条上浮高度测量装置的可视窗口观察测量结构上对应基板玻璃位置的刻度值；根据刻度值确定精密气浮条上浮高度。

12、通过上述技术方案，本申请提供的精密气浮条上浮高度测量装置及测量方法中，精密气浮条上浮高度测量装置包括限位结构和测量结构，当精密气浮条的送气孔向限位结构的上浮通道内送入气体后，上浮通道内的基板玻璃上浮，进而可以通过可视窗口观察上浮通道内的基板玻璃所在位置对应的测量结构上的刻度值，最后根据该刻度值确认基板玻璃的上浮高度，即精密气浮条上浮高度，当所确认的精密气浮条上浮高度不符合预设上浮高度时，则说明该精密气浮条不合格，进而更换精密气浮条，并对更换后的精密气浮条的上浮高度进行测量，当更换后的精密气浮条所测得的上浮高度符合预设上浮高度时，通过该合格的精密气浮条对基板玻璃进行传送。这里，通过合格的精密气浮条对基板玻璃进行传送时，能够相对降低耗气量，并使得基板玻璃稳定在上浮后的位置，进而使得通过相机获取的图像清晰以能够准确的判断基板玻璃表面是否存在灰尘等异物、及划痕等瑕疵，同时，能够减少基板玻璃与精密气浮条之间相互摩擦而产生划痕的机率。另外，精密气浮条上浮高度测量装置放置在精密气浮条上方即可，如此，能够减少安装所损耗的时间，且精密气浮条上浮高度测量装置结构简单、成本低、方便移动。

13、上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本申请的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

技术特征：

1.一种精密气浮条上浮高度测量装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的精密气浮条上浮高度测量装置，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的精密气浮条上浮高度测量装置，其特征在于，

4.根据权利要求2所述的精密气浮条上浮高度测量装置，其特征在于，

5.根据权利要求4所述的精密气浮条上浮高度测量装置，其特征在于，

6.根据权利要求4所述的精密气浮条上浮高度测量装置，其特征在于，

7.根据权利要求1所述的精密气浮条上浮高度测量装置，其特征在于，

8.根据权利要求7所述的精密气浮条上浮高度测量装置，其特征在于，

9.根据权利要求1所述的精密气浮条上浮高度测量装置，其特征在于，

10.一种测量方法，应用于权利要求1至9中任一项所述的精密气浮条上浮高度测量装置，其特征在于，所述测量方法包括：

技术总结
本申请提供一种精密气浮条上浮高度测量装置及测量方法。精密气浮条上浮高度测量装置包括：限位结构和测量结构，限位结构设置有沿竖直方向延伸的上浮通道，且限位结构的侧部设置有对应上浮通道的可视窗口；测量结构的至少部分对应设置在可视窗口，且测量结构对应可视窗口的部分设置有沿竖直方向延伸的刻度。当精密气浮条的送气孔向限位结构的上浮通道内送入气体后，上浮通道内的基板玻璃上浮，进而可以通过可视窗口观察上浮通道内的基板玻璃所在位置对应的测量结构上的刻度值，最后根据该刻度值确认基板玻璃的上浮高度，以得到精密气浮条的上浮高度。

技术研发人员：兰双龙,安利营,何文德
受保护的技术使用者：甘肃光轩高端装备产业有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/3/5