本发明涉及光学器件测试，尤其涉及一种光学器件的损耗测试装置及损耗测试方法。
背景技术：
1、光功率计是一种用于测量光信号功率或强度的仪器。它在光通信、光学系统调试、激光器性能测试以及光学实验室中广泛应用。光功率计的主要功能是测量光束中的光功率。
2、在不同的波长下，相同的光强会导致不同的电流或电压输出。在测量多波长激光器的光强时，传统的方法是将光功率计的探测波长与激光器波长一致，但这样操作复杂，成本高，而且由于光学器件输入端的光功率难以探测，光束经过光学器件时产生的损耗难以测量。
技术实现思路
1、本发明提供了一种光学器件的损耗测试装置及损耗测试方法，该损耗测试装置在功率计设置固定测试波长的调节下实现待测光学器件的损耗测试，简化测试流程，降低测试成本。
2、根据本发明的一方面，提供了一种光学器件的损耗测试装置，包括光源、分束器、功率计和处理单元；
3、所述光源的输出端与所述分束器的输入端连接，所述分束器的第一输出端与待测光学器件的输入端连接，所述待测光学器件的输出端与所述功率计的第一通道连接，所述分束器的第二输出端与所述功率计的第二通道连接，所述功率计与所述处理单元电连接；
4、所述光源用于输出测试光束，所述测试光束经过所述分束器分为第一光束和第二光束，所述第一光束经过所述待测光学器件后传输至所述功率计的第一通道，所述第二光束直接传输至所述功率计的第二通道；
5、所述功率计根据所述第一通道接收的光束得到第一测试功率，所述功率计根据所述第二通道接收的光束得到第二测试功率；
6、所述处理单元存储有所述分束器的分光比例补偿系数、所述功率计的第一通道补偿系数和第二通道补偿系数，所述处理单元用于获取所述第一测试功率和所述第二测试功率，根据所述第一测试功率和所述第一通道补偿系数确定第一实际功率，根据所述第二测试功率、所述第二通道补偿系数和所述分光比例补偿系数确定第二实际功率，根据所述第二实际功率和所述第一实际功率的差确定所述待测光学器件的损耗。
7、可选的，所述光源包括波长可调激光器，所述功率计设置固定测试波长。
8、可选的，所述功率计的第一通道补偿系数通过以下步骤得到：
9、将所述波长可调激光器的输出端与所述功率计的第一通道连接；
10、控制所述波长可调激光器输出第一波长至第二波长的多束光束，控制所述功率计的第一通道的测试波长与所述波长可调激光器的输出波长相同，获取所述功率计的第一通道获取的多个第一测试功率值；
11、控制所述波长可调激光器输出第一波长至第二波长的多束光束，控制所述功率计的第一通道的测试波长为第一固定波长，获取所述功率计的第一通道获取的多个第二测试功率值；
12、根据多个所述第一测试功率值和多个所述第二测试功率值，得到所述第一通道补偿系数；
13、其中，所述第一固定波长在所述第一波长和所述第二波长之间。
14、可选的，所述功率计的第二通道补偿系数通过以下步骤得到：
15、将所述波长可调激光器的输出端与所述功率计的第二通道连接；
16、控制所述波长可调激光器输出第一波长至第二波长的多束光束，控制所述功率计的第二通道的测试波长与所述波长可调激光器的输出波长相同，获取所述功率计的第二通道获取的多个第三测试功率值；
17、控制所述波长可调激光器输出第一波长至第二波长的多束光束，控制所述功率计的第二通道的测试波长为第一固定波长，获取所述功率计的第二通道获取的多个第四测试功率值；
18、根据多个所述第二测试功率值和多个所述第四测试功率值，得到所述第二通道补偿系数；
19、其中，所述第一固定波长在所述第一波长和所述第二波长之间。
20、可选的，所述分束器的分光比例补偿系数通过以下步骤得到：
21、将所述波长可调激光器的输出端与所述分束器的输入端连接，所述分束器的第一输出端与所述功率计的第一通道连接，所述分束器的第二输出端与所述功率计的第二通道连接；
22、控制所述波长可调激光器输出第一波长至第二波长的多束光束，控制所述功率计的第一通道的和第二通道的测试波长均与所述波长可调激光器的输出波长相同，获取所述功率计的第一通道获取的多个第五测试功率值和第二通道获取的多个第六测试功率值；
23、根据多个所述第五测试功率值和多个所述第六测试功率值，得到所述分光比例补偿系数。
24、可选的，所述分束器的分光比例补偿系数通过以下步骤得到：
25、将所述波长可调激光器的输出端与所述分束器的输入端连接，所述分束器的第一输出端与所述功率计的第一通道连接，所述分束器的第二输出端与所述功率计的第二通道连接；
26、控制所述波长可调激光器输出第一波长至第二波长的多束光束，控制所述功率计的第一通道的和第二通道的测试波长均为所述第一固定波长，获取所述功率计的第一通道获取的多个第七测试功率值和第二通道获取的多个第八测试功率值；
27、根据多个所述第七测试功率值和多个所述第八测试功率值，得到所述分光比例补偿系数。
28、可选的，根据多个所述第七测试功率值和多个所述第八测试功率值，得到所述分光比例补偿系数，包括：
29、根据所述第七测试功率值和所述第一通道补偿系数，得到所述分束器第一通道的第一真实功率值；
30、根据所述第八测试功率值和所述第二通道补偿系数，得到所述分束器第二通道的第二真实功率值；
31、根据所述第一真实率值和所述第二真实功率值，得到所述分光比例补偿系数。
32、可选的，所述分束器的第一输出端的输出功率大于所述分束器的第二输出端的输出功率。
33、可选的，所述光源、所述分束器、所述待测光学器件和所述功率计之间通过光纤连接。
34、根据本发明的另一方面，提供了一种光学器件的损耗测试方法，由上述的损耗测试装置执行，所述损耗测试方法包括：
35、光源输出测试光束，所述测试光束经过分束器分为第一光束和第二光束，所述第一光束经过待测光学器件后传输至功率计的第一通道，所述第二光束直接传输至所述功率计的第二通道；
36、所述功率计根据所述第一通道接收的光束得到第一测试功率，所述功率计根据所述第二通道接收的光束得到第二测试功率；
37、处理单元获取所述第一测试功率和所述第二测试功率，根据所述第一测试功率和第一通道补偿系数确定第一实际功率，根据所述第二测试功率、第二通道补偿系数和分光比例补偿系数确定第二实际功率，根据所述第二实际功率和所述第一实际功率的差确定所述待测光学器件的损耗。
38、本发明公开了一种光学器件的损耗测试装置及损耗测试方法。光学器件的损耗测试装置包括光源、光束器、功率计和处理单元；光源的输出端与分束器的输入端连接，分束器的第一输出端与待测光学器件的输入端连接，待测光学器件的输出端与功率计的第一通道连接，分束器的第二输出端与功率计的第二通道连接，功率计与处理单元电连接。本发明提供的光学器件的损耗测试装置可以精准测量到待测光学器件所损失的光强。
39、应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。