射频收发器批量快速测试装置的制作方法

文档序号:36420701发布日期:2023-12-20 09:47阅读:59来源:国知局
射频收发器批量快速测试装置的制作方法

本发明涉及射频收发器芯片成品测试技术。更具体地说,本发明涉及一种低成本的射频收发器批量快速测试装置。


背景技术:

1、目前对射频收发器芯片的测试主要有两种方式,一种是实验室测试,这种测试是利用频谱分析仪或综测仪等精密仪器进行测试,依托仪器的功能,可以使芯片测试更加准确、精细和全面。但是,全靠人工操作,专业技术要求比较高,总体操作效率低。另一种是工厂测试,利用专业的测试设备进行流水操作,测试效率高,但是不灵活,且价格严重依赖芯片的总量、测试指标的种类和单片测试耗费时间,相对而言成本高。

2、由于从芯片的研发到大批量生产的整个周期之间存在小批量生产的需求。对于小批量的生产,如果直接采用工厂测试,则风险大成本高,因为芯片在测试过程中可能还会发现问题,需要继续完善设计,直接定制工厂测试费用太高,后续改动测试流程代价太大。如果采用实验室测试,则效率就太低,因为实验室测试采用频谱分析仪或综测仪等精密仪器得到的检测结果即各项指标的具体值后,工作人员需要对每颗芯片的检测结果进行分析才能研判产品质量,非常耗费时间和精力,导致效率低下。因此,实验室的小批量测试技术非常必要。


技术实现思路

1、本发明提供一种射频收发器批量快速测试装置,其将时钟源子系统集成在用于测试射频收发器的测试电路板上,简单高效地解决了对射频收发器进行测试时需要的时钟源问题,成本低廉,需用时就可以接入使用,具有足够的精度和稳定度,能够达到与外部接入的高精度时钟源的时钟信号相近的电气性能。

2、为了实现本发明的这些目的并体现其优点,提供了一种射频收发器批量快速测试装置,包括:

3、测试电路板,其上装配有放置待测试射频收发器芯片的插座,在所述测试电路板上设置有用于测试的时钟系统;

4、时钟源子系统,其集成在所述测试电路板上,用于给所述时钟系统提供时钟源,所述时钟源子系统包括:

5、调压器,其与电压源连接并分出精确数值的控制电压;

6、压控振荡器,其控制信号输入端与所述调压器的信号输出端电连接,所述调压器输出的电压控制信号控制所述压控振荡器输出预期数值的时钟频率信号;

7、时钟缓冲器,其信号输入端与所述压控振荡器的信号输出端电连接,用以输出多路性能相同的时钟信号。

8、优选的是,所述的射频收发器批量快速测试装置,在所述测试电路板上配置有多个外接端子,用于连接外部的子系统或仪器,其中,所述时钟缓冲器集成有n路信号输出端口,其中一路信号输出端口电连接至所述测试电路板上的时钟系统,剩余n-1路信号输出端口分别与一个外接端子电连接。

9、优选的是,所述的射频收发器批量快速测试装置,在所述调压器的输入输出侧均设置有用于去耦的电容,具体为:第一电容一端与所述调压器的接地端电连接,另一端与所述调压器的电压信号输出端电连接;第二电容一端与所述调压器的电压源输入端电连接,另一端接地。

10、优选的是,所述的射频收发器批量快速测试装置,在所述压控振荡器的电压源输入端设置有去耦隔离的组合电路,具体为:第一磁铢的一端与所述压控振荡器的电压源输入端电连接,另一端与所述电压源电连接;第三电容和第四电容并联连接后一端与所述压控振荡器的电压源输入端电连接,另一端接地。

11、优选的是,所述的射频收发器批量快速测试装置,在所述时钟缓冲器的电压源输入端设置有去耦隔离的组合电路,具体为:第五电容、第六电容和第七电容并联连接后一端与所述时钟缓冲器的电压源输入端电连接,另一端与第二磁铢的一端电连接,所述第二磁铢的另一端与所述电压源电连接。

12、优选的是,所述的射频收发器批量快速测试装置,所述时钟缓冲器的每路信号输出端口处放置一阻值为0欧的电阻,该路不使用时,用以断掉该路信号。

13、优选的是,所述的射频收发器批量快速测试装置,所述预期的时钟频率数值为30.72mhz。

14、优选的是,所述的射频收发器批量快速测试装置,配置的多个外接端子具体的电气连接方式为微带线互连和sma端子连接器。

15、优选的是,所述的射频收发器批量快速测试装置,工作过程中,所述调压器的工作电流控制在10ma以内;所述压控振荡器的输出信号模式为cmos电平,输出时钟频率的稳定度在10ppm以内,所选用晶振的指标是400fs@40mhz载波或1.0ps@10mhz载波,在频率偏移12khz~20mhz之内测试,电压控制下频率牵拉能力即频率调整能力为±10ppm/±1.0v,相位噪声要求小于-145dbc/hz@10mhz载波,频率偏移100khz,输出带负载能力为10pf。

16、本发明至少包括以下有益效果:

17、第一、由于本发明将时钟源子系统直接集成在用于测试射频收发器芯片的测试电路板上,因此,一般测试无需再从外部接入时钟源,简单高效地解决了对射频收发器进行测试时需要的时钟源问题,适用于射频收发器的小批量测试,也可以适用于实验室测试,以及当大批量测试时没有外部时钟源时的应急情况下,需要本备选时钟源作为时钟信号时,或者需要一个相同性能的内部时钟源进行系统协同工作时的情况。还可以适用于做测试结果比对时。

18、第二、本发明将时钟源子系统集成在用于测试射频收发器的测试电路板上,与测试工厂提供的时钟设备相比较,一是成本低廉,便于设计,占用很少的电路板面积,不会影响其它关键模块的设计和性能发挥;二是操作灵活,使用方便,不易出错,可以达到即插即用的使用效果,也不会因为操作不当引起性能下降。

19、第三、本发明设计的时钟源子系统包括调压器、压控振荡器和时钟缓冲器,所述调压器与电压源连接,能够按比例输出精确的控制电压,并据此控制压控振荡器输出精准数值的频率信号,这个精准的频率能够和工厂测试时的时钟源输出的时钟信号频率是一个级别的精度,从而调节时钟缓冲器输出准确的时钟源信号。因此,本发明设计的时钟源子系统时钟信号性能和测试工厂提供的时钟信号性能相当,有噪声水平低,抖动小,性能优异且稳定等优点。

20、第四、由于本发明在所述测试电路板上配置有多个外接端子,用于连接外部的子系统或仪器,因此,本发明时钟源子系统输出的时钟信号能够扩充输出供外部仪器使用,且扩充给外部使用的时钟信号、一路给本地使用的时钟信号以及外部时钟源提供的时钟信号在性能上没有明显的差别。

21、本发明的其它优点、目标和特征将部分通过下面的说明呈现,部分还将通过对本发明的研究和实践而为本领域的技术人员所理解。



技术特征:

1.射频收发器批量快速测试装置,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的射频收发器批量快速测试装置,其特征在于,在所述测试电路板上配置有多个外接端子,用于连接外部的子系统或仪器,其中,所述时钟缓冲器集成有n路信号输出端口,其中一路信号输出端口电连接至所述测试电路板上的时钟系统,剩余n-1路信号输出端口分别与一个外接端子电连接。

3.如权利要求1所述的射频收发器批量快速测试装置,其特征在于,在所述调压器的输入输出侧均设置有用于去耦的电容,具体为:第一电容一端与所述调压器的接地端电连接,另一端与所述调压器的电压信号输出端电连接;第二电容一端与所述调压器的电压源输入端电连接,另一端接地。

4.如权利要求1所述的射频收发器批量快速测试装置,其特征在于,在所述压控振荡器的电压源输入端设置有去耦隔离的组合电路,具体为:第一磁铢的一端与所述压控振荡器的电压源输入端电连接,另一端与所述电压源电连接;第三电容和第四电容并联连接后一端与所述压控振荡器的电压源输入端电连接,另一端接地。

5.如权利要求1所述的射频收发器批量快速测试装置,其特征在于,在所述时钟缓冲器的电压源输入端设置有去耦隔离的组合电路,具体为:第五电容、第六电容和第七电容并联连接后一端与所述时钟缓冲器的电压源输入端电连接,另一端与第二磁铢的一端电连接,所述第二磁铢的另一端与所述电压源电连接。

6.如权利要求2所述的射频收发器批量快速测试装置,其特征在于,所述时钟缓冲器集成的每路信号输出端口处设置一阻值为0欧的电阻,用以隔离信号。

7.如权利要求3所述的射频收发器批量快速测试装置,其特征在于,所述预期的时钟频率数值为30.72mhz。

8.如权利要求2所述的射频收发器批量快速测试装置,其特征在于,配置的多个外接端子具体的电气连接方式为微带线互连和sma端子连接器。

9.如权利要求1所述的射频收发器批量快速测试装置,其特征在于,工作过程中,所述调压器的工作电流控制在10ma以内;所述压控振荡器的输出信号模式为cmos电平,输出时钟频率的稳定度在10ppm之内,所选用晶振的指标是400fs@40mhz载波或1.0ps@10mhz载波,在频率偏移12khz~20mhz范围内测试,电压控制下频率牵拉能力即频率调整能力为±10ppm/±1.0v,相位噪声要求小于-145dbc/hz@10mhz载波,频率偏移100khz,输出带负载能力为10pf。


技术总结
本发明公开了一种射频收发器批量快速测试装置,包括:集成在测试电路板上的时钟源子系统,用于给测试电路板上的时钟系统提供时钟源。所述时钟源子系统包括:调压器,其与电压源连接并分出精确数值的控制电压;压控振荡器,其控制信号输入端与调压器的信号输出端电连接,调压器输出的电压控制信号控制压控振荡器输出预期的时钟频率信号;时钟缓冲器,其信号输入端与压控振荡器的信号输出端电连接,用以输出多路性能相同的时钟信号。该测试装置将时钟源子系统集成在测试电路板上,简单高效地解决了对射频收发器芯片进行测试时需要的时钟源问题,成本低廉,具有足够的精度和稳定度,能够达到与外部接入的高精度时钟源的时钟信号相近的电气性能。

技术研发人员:裴艳永,周礼兵,侯卫兵
受保护的技术使用者:北京力通通信有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/1/15
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