一种自动工装校准方法、装置、电子设备及存储介质与流程

本发明实施例涉及自动测试，特别涉及一种自动工装校准方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术：

1、因为无线通信电路中不同模块的工作频率不同，而电路在不同p(工艺角)v(供电电压)t(工作温度)下的工作状态不同，为了让芯片在不同pvt下都满足设计指标要求，就需要对不同状态下的不同芯片进行性能检测，也就是需要在工装测试时在不同pvt场景下都提供相同工作频率的精准参考信号作为芯片输入进行性能检测或者实时检测不同pvt场景下芯片输出信号的性能指标。

2、发明人发现相关技术中至少存在如下问题：无论是使用外部仪器在不同pvt场景下都提供相同工作频率的精准参考信号，还是对利用仪器检测不同pvt场景下芯片输出信号的性能指标，提供的都是频率相同的信号，这些方式对外部仪器的种类以及数量的需求大，产品的整体生产周期长，对产品进行工装测试的成本较高。

技术实现思路

1、本发明实施方式的目的在于提供一种自动工装校准方法、装置、电子设备及存储介质，使得降低了工装测试校准时对外部仪器种类以及数量的需求，并对模块进行做到实时性能检测，进而降低了产品的整体生产周期以及对产品进行工装测试时的成本。

2、为解决上述技术问题，本发明的实施方式提供了一种自动工装校准方法，包括：获取参考信号并获取所述待校准芯片内部电路对所述参考信号的响应；其中，所述参考信号的频率不同于所述待校准芯片内部电路正常工作时输入的工作信号的频率；根据所述参考信号的频点调节待校准芯片的内部电路中的输入隔直电容的电容值，以使所述待校准芯片内部电路在pvt波动时，对所述参考信号与所述工作信号的响应保持一致；根据所述待校准芯片内部电路对所述参考信号的响应，对所述待校准芯片内部电路进行校准。

3、本发明的实施方式还提供了一种自动工装校准装置，包括：信号响应模块，用于获取参考信号并获取所述待校准芯片内部电路对所述参考信号的响应；其中，所述参考信号的频率不同于所述待校准芯片内部电路正常工作时输入的工作信号的频率；电容调节模块，用于根据所述参考信号的频点调节待校准芯片的内部电路中的输入隔直电容的电容值，以使所述待校准芯片内部电路在pvt波动时，对所述参考信号与所述工作信号的响应保持一致；自动校准模块，用于根据所述待校准芯片内部电路对所述参考信号的响应，对所述待校准芯片内部电路进行校准。

4、本发明的实施方式还提供了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及，与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行上述的自动工装校准方法。

5、本发明的实施方式还提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述的自动工装校准方法。

6、在本发明实施方式中，获取参考信号并获取所述待校准芯片内部电路对所述参考信号的响应；其中，所述参考信号的频率不同于所述待校准芯片内部电路正常工作时输入的工作信号的频率；根据所述参考信号的频点调节待校准芯片的内部电路中的输入隔直电容的电容值，以使所述待校准芯片内部电路在pvt波动时，对所述参考信号与所述工作信号的响应保持一致；根据所述待校准芯片内部电路对所述参考信号的响应，对所述待校准芯片内部电路进行校准。可以利用频率不同于电路正常工作频率的外部信号源或芯片内部某个电路发出的频率不同于电路正常工作频率的信号作为芯片内部模块的参考信号，这样就可以降低工装测试校准时对外部仪器种类以及数量的需求，甚至任意时间内对模块进行性能检测，做到实时检测，使得该模块完全不再需要对工装测试校准，进而降低了产品的整体生产周期以及对产品进行工装测试时的成本。

7、另外，所述获取参考信号，包括：从所述待校准芯片内部电路中的发射链路中获取所述参考信号。从所述待校准芯片内部电路中的发射链路中的tx链路或者本振电路获取参考信号，可以完全不需要外部设备的加入，进一步降低对产品进行工装测试时的成本。

8、另外，所述从所述待校准芯片内部电路中的发射链路中获取所述参考信号，包括：复用所述待校准芯片内部电路中的发射链路中的数模转换器给所述待校准芯片内部电路中的射频电路，以获取所述参考信号。由于高频信号本身波动就较大，精准度比较差，而且高频信号对于版图环境更加敏感，环回的路径在高频下引入的误差也更大。复用所述待校准芯片内部电路中的发射链路中的数模转换器给所述待校准芯片内部电路中的射频电路，以获取所述参考信号可以提升精准度。

9、另外，在获取参考信号之前，降低所述待校准芯片的内部电路中的寄生电容的电容值。使得所述参考信号与所述工作信号的响应一致性得以进一步提升。

10、另外，所述根据所述待校准芯片内部电路对所述参考信号的响应，对所述待校准芯片内部电路进行校准，包括：对所述参考信号进行功率检测和数采，得到一组与所述参考信号对应的码值，将所述与所述参考信号对应的码值作为所述待校准芯片内部电路对所述参考信号的响应，根据所述参考信号对应的码值和两点运算公式进行运算以对所述待校准芯片内部电路进行校准。

11、另外，所述参考信号属于一种低频信号。选用低频信号随pvt波动相对更小，对于环回路径也更加不敏感，提供的信号精准度远远提高。

技术特征：

1.一种自动工装校准方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的自动工装校准方法，其特征在于，所述获取参考信号，包括：

3.根据权利要求2所述的自动工装校准方法，其特征在于，所述参考信号属于一种精准信号。

4.根据权利要求3所述的自动工装校准方法，其特征在于，所述从所述待校准芯片内部电路中的发射链路中获取所述参考信号，包括：

5.根据权利要求1中所述的自动工装校准方法，其特征在于，所述方法，还包括：

6.根据权利要求1所述的自动工装校准方法，其特征在于，所述根据所述待校准芯片内部电路对所述参考信号的响应，对所述待校准芯片内部电路进行校准，包括：

7.一种自动工装校准装置，其特征在于，包括：

8.一种电子设备，其特征在于，包括：

9.一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的自动工装校准方法。

技术总结
本发明实施例涉及自动测试技术领域，公开了一种自动工装校准方法、装置、电子设备及存储介质。本发明中，获取了频率不同于电路正常工作频率信号作为参考信号；根据参考信号的频点调节待校准芯片的内部电路中的输入隔直电容的电容值以使待校准芯片内部电路在PVT波动时，对参考信号与工作信号的响应保持一致，根据待校准芯片内部电路对所述参考信号的响应，对待校准芯片内部电路进行校准；利用频率不同于电路正常工作频率信号作为参考信号，这样就可以降低工装测试校准时对外部仪器种类以及数量的需求，任意时间内对模块做到实时检测，使得该模块完全不再需要对工装测试校准，进而降低了产品的整体生产周期以及对产品进行工装测试时的成本。

技术研发人员：王超然,请求不公布姓名
受保护的技术使用者：上海云攀半导体有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/3/21