本发明属于γ射线探测技术,具体涉及一种鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法及系统。
背景技术:
1、氟化钡探测器是一种常用的无机闪烁体探测器,用于gamma射线(γ射线)的探测,广泛的应用于核数据、核天体物理、核医学等领域。它对γ射线探测效率高,具有能量分辨率好、时间分辨率好、中子灵敏度低的优点。同时氟化钡探测器中有天然放射性本底alpha粒子(α粒子)的存在,这是由镭元素的衰变产生的。镭与钡是同族元素,目前的生产工艺很难把氟化钡晶体原料中的镭杂质去除干净,因此在使用氟化钡探测器测量较宽能区(0.5mev~10mev)的γ射线时,能够更好把α粒子信号从γ射线信号中鉴别出来,具有很重要的意义。
2、目前鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法主要有两种:一种是直接通过两种粒子在探测器中的沉积能量来区分,镭元素衰变过程中会产生4种能量的α粒子在氟化钡探测器中沉积的能量范围是1.3mev~3.4mev,在此能量范围外的γ射线才能被区分出来。
3、另一种方法是采用快总成分比来鉴别两种粒子。氟化钡探测器有两种发光成分:其中快成分的光衰减时间为0.6ns,慢成分的光衰减时间为620ns。氟化钡探测器探测到的γ射线的信号波形有明显的快成分,之后信号幅度迅速下降,与慢成分重叠在一起;α粒子的信号波形没有快成分,只有慢成分,随着时间的推进,信号幅度缓慢下降。利用这两种粒子信号波形的特点,通常设定信号开始的前10ns为快成份、之后的70ns为慢成分,两者相加得到总成分。使用氟化钡探测器测量γ射线,通过计算每个探测器信号的快成分与总成分的比值可以得到如图1所示的分布。国际惯例通常采用鉴别品质因子fom评估鉴别能力,fom越大,表明鉴别效果越理想。
4、
5、式中,μα和μgamma分别为α峰和γ峰的均值;fwhmα和fwhmgamma分别为α峰和γ峰的半高全宽(即峰值一半位置的宽度)。使用氟化钡探测器(晶体尺寸:直径2英寸、厚度1英寸)分别测量放射源22na、137cs、60co的gamma射线,通过快总成分比鉴别粒子方法得到的fom为0.93~1.04,表明此方法并不能很好的区分开α粒子和γ射线。此方法的关键是完整得到γ射线信号波形的快成分,但是由于同种类型的信号波形并不是完全相同的。随着γ射线能量的增加,波形快成份的上升时间会增加,快成份的持续时间也会相应增加,再加上波形信号的时间晃动,使用固定时长的波形作为快成份必然无法满足真实的实验条件,对于低能的γ射线可能会包含一部分慢成分,对于高能的γ射线可能快成分又没有完全包含进来,因此快总成分比鉴别粒子方法存在一定的不足。
技术实现思路
1、本发明的目的是针对现有技术的缺陷,提供一种鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法及系统,基于α粒子和γ射线在氟化钡探测器中信号波形脉冲宽度的不同,在宽能区对这两种类型的粒子进行更好的鉴别。
2、为实现上述目的,本发明的技术方案如下:
3、一种鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法,包括如下步骤:
4、1)记录氟化钡探测器在测量过程中的所有信号波形;
5、2)得到各信号波形脉冲的峰值;
6、3)针对各信号波形,得到脉冲上升过程中到达50%峰值位置的时间tstart,以及脉冲下降过程中到达50%峰值的时间tend;
7、4)通过下式得到各信号波形的脉冲宽度,
8、t=tend-tstart
9、其中,t代表粒子波形的脉冲宽度;
10、5)比较脉冲宽度t与设定值的大小,如果t小于设定值,则该信号波形对应的为γ射线信号;如果t大于等于设定值,则该信号波形对应的为α粒子信号。
11、进一步,如上所述的鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法,步骤1)中采用flashadc高速采集卡记录信号波形,波形的横坐标为采样时长,纵坐标为脉冲幅度。
12、进一步,如上所述的鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法,步骤3)中采用插值计算的方式得到脉冲上升过程中到达50%峰值位置的时间tstart,以及脉冲下降过程中到达50%峰值的时间tend。
13、进一步,如上所述的鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法,步骤5)中所述的设定值的取值范围为20-50ns。
14、进一步,如上所述的鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法,步骤5)中数据获取模块只记录γ射线信号,将α粒子信号舍弃。
15、一种鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的系统,包括:
16、信号波形采集模块,用于记录氟化钡探测器在测量过程中的所有信号波形;
17、脉冲波形处理模块,用于获取各信号波形脉冲的峰值,并得到脉冲上升过程中到达50%峰值位置的时间tstart,以及脉冲下降过程中到达50%峰值的时间tend;
18、脉冲宽度判断模块,得到各信号波形的脉冲宽度t=tend-tstart,并比较脉冲宽度t与设定值的大小关系,判断信号类型;
19、数据获取模块,记录脉冲宽度t小于设定值的γ射线信号,舍弃脉冲宽度t大于等于设定值的α粒子信号。
20、进一步,如上所述的鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的系统,所述的信号波形采集模块采用flashadc高速采集卡,分辨率≥8bi t,采样率≥1g,波形采样长度≥500ns。
21、进一步,如上所述的鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的系统,氟化钡探测器的阳极电流信号直接输入所述flashadc高速采集卡,所述flashadc高速采集卡通过以太网与计算机系统连接,将获取的原始信号波形传输至计算机系统进行数据分析处理和存储。
22、进一步,如上所述的鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的系统,所述flashadc高速采集卡具有多个信号输入通道,能够同时记录多个氟化钡探测器的信号波形。
23、进一步,如上所述的鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的系统,所述的设定值的取值范围为20-50ns。
24、本发明的有益效果如下:
25、(1)采用分辨率≥8bit,采样率≥1g的高速采集卡有利于记录氟化钡探测器的信号波形,进行波形分析处理;
26、(2)采用计算脉冲宽度的方法有利于展现出氟化钡探测器测量的γ射线和自身包含的α粒子的差异,达到有效去除α粒子的目的。同样使用氟化钡探测器(晶体尺寸:直径2英寸、厚度1英寸)分别测量放射源22na、137cs、60co的γ射线,通过脉冲宽度鉴别粒子方法得到的fom为1.89~1.92,相对于快总成分比方法,粒子鉴别的能力提高了90%以上;
27、(3)整个系统可以只记录有效的γ射线的信号,有利于提高氟化钡探测器的效应本底比,减少测量时间,节约数据存储空间。
1.一种鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法,其特征在于,包括如下步骤:
2.如权利要求1所述的鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法,其特征在于,步骤1)中采用flashadc高速采集卡记录信号波形,波形的横坐标为采样时长,纵坐标为脉冲幅度。
3.如权利要求1所述的鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法,其特征在于,步骤3)中采用插值计算的方式得到脉冲上升过程中到达50%峰值位置的时间tstart,以及脉冲下降过程中到达50%峰值的时间tend。
4.如权利要求1所述的鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法,其特征在于,步骤5)中所述的设定值的取值范围为20-50ns。
5.如权利要求1-4中任意一项所述的鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法,其特征在于,步骤5)中数据获取模块只记录γ射线信号,将α粒子信号舍弃。
6.一种鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的系统,其特征在于,包括:
7.如权利要求6所述的鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的系统,其特征在于,所述的信号波形采集模块采用flashadc高速采集卡,分辨率≥8bit,采样率≥1g,波形采样长度≥500ns。
8.如权利要求7所述的鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的系统,其特征在于,氟化钡探测器的阳极电流信号直接输入所述flashadc高速采集卡,所述flashadc高速采集卡通过以太网与计算机系统连接,将获取的原始信号波形传输至计算机系统进行数据分析处理和存储。
9.如权利要求8所述的鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的系统,其特征在于,所述flashadc高速采集卡具有多个信号输入通道,能够同时记录多个氟化钡探测器的信号波形。
10.如权利要求6所述的鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的系统,其特征在于,所述的设定值的取值范围为20-50ns。