一种转速测量方法、装置、设备及介质与流程

本技术涉及转速测量，特别是涉及一种转速测量方法、装置、设备及介质。

背景技术：

1、当前，对旋转部件的转速的测量，主要通过转速传感器和转速测量设备来实现。其中，转速传感器能够感知旋转部件当前的转速，并将其转换为转速脉冲信号；转速测量设备能够获取转速传感器的转速脉冲信号，并根据其计算出转速脉冲的频率，进而计算出旋转部件当前的转速。也就是说，转速测量主要就是要测量出旋转部件当前的转速脉冲频率。

2、然而，当测量的旋转部件的转速脉冲频率比较低，例如测量到0.5hz的转速脉冲频率时，为了采集完整的一个旋转周期的数据用以计算转速，系统每次至少需要处理2s时长的信号数据。这在嵌入式环境中将会占用较多的内存资源和处理器资源，不利于系统的稳定。

3、鉴于上述问题，如何解决当前的转速测量过程在处理低转速脉冲频率时占用较多的内存资源和处理器资源，是该领域技术人员亟待解决的问题。

技术实现思路

1、本技术的目的是提供一种转速测量方法、装置、设备及介质，以解决当前的转速测量过程在处理低转速脉冲频率时占用较多的内存资源和处理器资源的问题。

2、为解决上述技术问题，本技术提供一种转速测量方法，包括：

3、根据预设采样频率对转速传感器传输的转速脉冲信号进行ad采样，以得到转速数字信号；其中，所述转速数字信号中包含多个采样点；

4、将所述转速数字信号依次划分为预设数量的样本；

5、分别获取各所述样本对应的单样本属性；其中，所述单样本属性包含所述转速数字信号的电平变化信息；

6、根据各所述样本的样本长度及其对应的所述单样本属性确定当前转速值。

7、优选地，所述将所述转速数字信号依次划分为预设数量的样本包括：

8、获取最低转速脉冲频率和预设单样本长度；

9、根据所述最低转速脉冲频率和所述预设单样本长度将所述转速数字信号依次划分为所述预设数量的所述样本，以得到综合分析区间；

10、对所述综合分析区间内各所述样本中的各所述采样点按顺序依次进行编号。

11、优选地，获取所述样本对应的所述单样本属性包括：

12、获取所述样本中的上升沿个数、第一个上升沿对应的所述采样点的编号和最后一个上升沿对应的所述采样点的编号。

13、优选地，所述获取所述样本中的上升沿个数、第一个上升沿对应的所述采样点的编号和最后一个上升沿对应的所述采样点的编号包括：

14、初始化设置所述样本中所述第一个上升沿对应的所述采样点的编号和所述最后一个上升沿对应的所述采样点的编号为预设值，并初始化设置所述上升沿个数为0；

15、获取所述样本中当前采样点的状态，并获取所述当前采样点对应的前一个所述采样点的状态；其中，所述采样点的状态包括低电平状态和高电平状态；当首次在所述样本中获取所述当前采样点时，所述当前采样点为第一个所述采样点；

16、根据所述当前采样点的状态和所述前一个所述采样点的状态判断所述当前采样点是否为上升沿；

17、若所述当前采样点不为上升沿，则获取所述样本中下一个所述采样点作为所述当前采样点，返回至所述获取所述样本中当前采样点的状态的步骤；

18、若所述当前采样点为上升沿，则判断所述第一个上升沿对应的所述采样点的编号是否为预设值；

19、若所述第一个上升沿对应的所述采样点的编号为所述预设值，则将所述第一个上升沿对应的所述采样点的编号和所述最后一个上升沿对应的所述采样点的编号设置为所述当前采样点的编号，并将所述上升沿个数加1；

20、若所述第一个上升沿对应的所述采样点的编号不为所述预设值，则将所述最后一个上升沿对应的所述采样点的编号设置为所述当前采样点的编号，并将所述上升沿个数加1；

21、获取所述样本中下一个所述采样点作为所述当前采样点，返回至所述获取所述样本中当前采样点的状态的步骤，直至遍历所述样本中的全部所述采样点。

22、优选地，所述获取所述样本中的上升沿个数、第一个上升沿对应的所述采样点的编号和最后一个上升沿对应的所述采样点的编号包括：

23、初始化设置所述样本中所述第一个上升沿对应的所述采样点的编号和所述最后一个上升沿对应的所述采样点的编号均为-1，并初始化设置所述上升沿个数为0；

24、获取所述样本中首个所述采样点的状态，并将首个所述采样点的状态赋值给状态标志位；其中，所述状态标志位表征当前所述采样点对应的前一个所述采样点的状态；

25、初始化当前循环次数为1；

26、判断所述当前循环次数是否小于所述样本的所述样本长度；

27、若所述当前循环次数小于所述样本的所述样本长度，则判断编号为所述当前循环次数的所述采样点的状态是否与所述状态标志位不同，且所述状态标志位为0；

28、若编号为所述当前循环次数的所述采样点的状态与所述状态标志位不同，且所述状态标志位为0，则判断所述第一个上升沿对应的所述采样点的编号是否为-1；

29、若所述第一个上升沿对应的所述采样点的编号不为-1，则将所述最后一个上升沿对应的所述采样点的编号设置为所述当前循环次数，并将所述上升沿个数加1；

30、若所述第一个上升沿对应的所述采样点的编号为-1，则将所述第一个上升沿对应的所述采样点的编号设置为所述当前循环次数，将所述最后一个上升沿对应的所述采样点的编号设置为所述当前循环次数，并将所述上升沿个数加1；

31、若编号为所述当前循环次数的所述采样点的状态与所述状态标志位相同，和/或所述状态标志位不为0，则将所述状态标志位设置为编号为所述当前循环次数的所述采样点的状态，并将所述当前循环次数加1；

32、返回至所述判断所述当前循环次数是否小于所述样本的所述样本长度的步骤；

33、若所述当前循环次数不小于所述样本的所述样本长度，则结束所述样本中的所述上升沿个数、所述第一个上升沿对应的所述采样点的编号和所述最后一个上升沿对应的所述采样点的编号的获取过程。

34、优选地，所述根据各所述样本的样本长度及其对应的所述单样本属性确定当前转速值包括：

35、根据各所述样本的所述单样本属性获取所述综合分析区间内全部的有效脉冲数量；其中，所述综合分析区间中包含全部所述样本；

36、分别获取各所述样本的采样点分析数；

37、将各所述样本的所述采样点分析数相加求和，以得到所述综合分析区间的采样点分析数；

38、根据所述有效脉冲数量、所述预设采样频率、所述综合分析区间的所述采样点分析数和所述转速传感器的齿数获取确定当前转速值。

39、优选地，所述分别获取各所述样本的采样点分析数包括：

40、获取全部所述样本中首个所述样本的所述样本长度与对应所述第一个上升沿对应的所述采样点的编号的差值，以得到首个所述样本的所述采样点分析数；

41、获取全部所述样本中最后一个所述样本的所述最后一个上升沿对应的所述采样点的编号，以得到最后一个所述样本的所述采样点分析数；

42、获取全部所述样本中其余各所述样本的所述样本长度，以得到其余各所述样本的所述采样点分析数。

43、优选地，在所述根据各所述样本的样本长度及其对应的所述单样本属性确定当前转速值之前，在所述分别获取各所述样本对应的单样本属性之后，还包括：

44、将所述综合分析区间内的各所述单样本属性写入属性缓存区中；

45、其中，所述属性缓存区的最大属性缓存个数与所述综合分析区内的所述样本个数相适应。

46、优选地，所述根据各所述样本的样本长度及其对应的所述单样本属性确定当前转速值包括：

47、判断所述属性缓存区中的所述单样本属性是否已满；

48、若所述属性缓存区中的所述单样本属性未满，则将所述当前转速值设置为0，并结束；

49、若所述属性缓存区中的所述单样本属性已满，则将所述综合分析区间中的所述上升沿个数和所述综合分析区间中的所述采样点分析数均设置为0；

50、遍历所述属性缓存区，并判断所述属性缓存区是否遍历完成；

51、若所述属性缓存区未遍历完成，则获取所述属性缓存区中的所述单样本属性；

52、判断所述单样本属性是否为所述属性缓存区中的首个所述单样本属性；

53、若确认为首个所述单样本属性，则获取所述样本长度与所述单样本属性中所述第一个上升沿对应的所述采样点的编号的第一差值，将所述综合分析区间中的所述采样点分析数与所述第一差值加和，以更新所述综合分析区间中的所述采样点分析数；将所述综合分析区间中的所述上升沿个数与所述单样本属性中的所述上升沿个数加和，以更新所述综合分析区间中的所述上升沿个数；

54、若确认不为首个所述单样本属性，则判断所述单样本属性是否为所述属性缓存区中的最后一个所述单样本属性；

55、若确认为最后一个所述单样本属性，则将所述综合分析区间中的所述采样点分析数与所述单样本属性中的所述最后一个上升沿对应的所述采样点的编号加和，以更新所述综合分析区间中的所述采样点分析数；将所述综合分析区间中的所述上升沿个数与所述单样本属性中的所述上升沿个数加和，以更新所述综合分析区间中的所述上升沿个数；

56、若确认不为最后一个所述单样本属性，则将所述综合分析区间中的所述采样点分析数与所述样本长度加和，以更新所述综合分析区间中的所述采样点分析数；将所述综合分析区间中的所述上升沿个数与所述单样本属性中的所述上升沿个数加和，以更新所述综合分析区间中的所述上升沿个数；

57、返回至所述判断所述属性缓存区是否遍历完成的步骤；

58、若所述属性缓存区遍历完成，则获取所述综合分析区间中的所述上升沿个数减1的第二差值，并获取所述综合分析区间中的所述采样点分析数与所述预设采样频率的第一商值；获取所述第二差值与所述第一商值的第二商值，以得到转速脉冲频率；

59、根据所述转速脉冲频率确定所述当前转速值。

60、优选地，所述将所述综合分析区间内的各所述单样本属性写入属性缓存区中包括：

61、判断所述属性缓存区中的所述单样本属性是否达到所述最大属性缓存个数；

62、若否，则将所述单样本属性写入所述属性缓存区中；

63、若是，则删除所述属性缓存区中写入时间最长的所述单样本属性，并将所述单样本属性写入所述属性缓存区中。

64、为解决上述技术问题，本技术还提供一种转速测量装置，包括：

65、采样模块，用于根据预设采样频率对转速传感器传输的转速脉冲信号进行ad采样，以得到转速数字信号；其中，所述转速数字信号中包含多个采样点；

66、处理模块，用于将所述转速数字信号依次划分为预设数量的样本；

67、获取模块，用于分别获取各所述样本对应的单样本属性；其中，所述单样本属性包含所述转速数字信号的电平变化信息；

68、确定模块，用于根据各所述样本的样本长度及其对应的所述单样本属性确定当前转速值。

69、为解决上述技术问题，本技术还提供一种转速测量设备，包括：

70、存储器，用于存储计算机程序；

71、处理器，用于执行所述计算机程序时实现上述的转速测量方法的步骤。

72、为解决上述技术问题，本技术还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的转速测量方法的步骤。

73、本技术所提供的转速测量方法，具体根据预设采样频率对转速传感器传输的转速脉冲信号进行ad采样，以得到转速数字信号；其中，转速数字信号中包含多个采样点；将转速数字信号依次划分为预设数量的样本；分别获取各样本对应的单样本属性；其中，单样本属性包含转速数字信号的电平变化信息；根据各样本的样本长度及其对应的单样本属性确定当前转速值。由此可知，上述方案通过对转速传感器传输的转速脉冲信号进行ad采样，并对采样得到转速数字信号进行样本划分，利用各样本的单样本属性进行当前转速值的计算，避免了利用原始转速脉冲频率数据进行转速计算，从而不受低转速脉冲频率的限制，极大地降低了计算量，节省了内存和处理器的资源。

74、此外，本技术还提供了一种转速测量装置、设备及介质，效果同上。