一种基于直流电阻测试仪的接触检查系统的制作方法

本发明涉及测量，尤其涉及一种基于直流电阻测试仪的接触检查系统。

背景技术：

1、直流电阻测试仪是取代直流单、双臂电桥的高精度换代产品。直流电阻快速测试仪采用了先进的开关电源技术，由点阵式液晶显示测量结果。克服了其它同类产品由led显示值在阳光下不便读数的缺点，同时具备了自动消弧功能。

2、对于各类元器件及热敏材料、金属箔等导电材料及电池组连接桥、电芯连接电阻的测试，都离不开直流电阻测试仪的身影。

3、通常对被动产品进行测量时采用开尔文四端测试法(如图3)，即hd、hs和ld、ls。用仪器标配的测试夹测试时，分别夹在被测件两端即可。用于自动化测试时，用户会自己做工装以满足不同的测试产品。但总体接法依然大同小异，都是基于开尔文四端接法，即hd、hs接在被测件一端，ld、ls接在被测件另一端(如图4)。以减小引线及连接点对测试结果的影响。

4、随着科技的进步，对检测仪器的测试准确度提出更高的要求，由于测试线本身的接触不良或者断线造成的测量误差，致使合格率降低。更严重是将合格品判断为不合格品，不合格品判断为合格品，这就导致生产资源浪费，不满足人们的使用要求；

5、因此，用户希望能够自动检测测试线的接触是否可靠，比如检测hc和hp之间接触是否可靠，也能检查lp和lc之间接触是否可靠。从而大大减少被测件被误判的情况。然而在现有的直流电阻测试仪中，没有这种检查手段。

6、于是，发明人有鉴于此，秉持多年该相关行业丰富的设计开发及实际制作的经验，针对现有的结构及缺失予以研究改良，提供一种基于直流电阻测试仪的接触检查系统，以期达到更具有实用价值的目的。

技术实现思路

1、为了解决上述背景技术中提到的由于测试线本身的接触不良或者断线造成的测量误差，致使合格率降低。更严重是将合格品判断为不合格品，不合格品判断为合格品，这就导致生产资源浪费；

2、因此，用户希望能够自动检测测试线的接触是否可靠，比如检测hc和hp之间接触是否可靠，也能检查lp和lc之间接触是否可靠。从而大大减少被测件被误判的情况的问题，本发明提供一种基于直流电阻测试仪的接触检查系统。

3、为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

4、一种基于直流电阻测试仪的接触检查系统，包括直流信号单元、测量单元、检测单元、电平转换单元和cpu检测单元；

5、所述直流信号单元与测量单元电连接，用于产生电平变化；

6、所述检测单元与测量单元电连接，用于检测电平变化，并将电压放大；

7、所述电平转换单元与检测单元电连接，用于将放大的电压转化为单片机能识别的信号；

8、所述cpu检测单元与电平转换单元电连接，用于根据高低电平的转换判断线路是否正常。

9、优选的，所述直流信号单元包括光耦op1，所述光耦op1的发射端负极通过电阻r1接地，所述光耦op1中光电晶体管接收端正极通过电阻r2连接电压基准芯片t1的阴极与基准引脚，所述光耦op1中光电晶体管接收端的负极与电压基准芯片t1的阳极相连接在地agnd。

10、优选的，所述测量单元包括分压电阻r3和分压电阻r4，所述分压电阻r3的一端连接电压基准芯片t1的阴极与基准引脚，所述分压电阻r3的另一端与分压电阻r4连接，所述分压电阻r4的另一端连接地agnd。

11、优选的，所述检测单元包括仪表放大器的前级增益电路和仪表放大器的减法电路。

12、优选的，所述仪表放大器的前级增益电路包括运算放大器u1、增益电阻r7、增益电阻r8和增益电阻r9；

13、其中，所述分压电阻r4通过缓冲电阻r5和缓冲电阻r6分别连接运算放大器u1的同相输入端3脚和5脚，所述增益电阻r7的两端分别连接到运算放大器u1的反向输入端2脚和6脚，所述增益电阻r8的两端分别连接运算放大器u1a的反向输入端与输出端，所述增益电阻r9的两端分别连接运算放大器u1b的反向输入端与输出端。

14、优选的，所述仪表放大器的减法电路包括运算放大器u2a,增益电阻r10、增益电阻r11、增益电阻r12和增益电阻r13；

15、其中，所述增益电阻r10的一端连接运算放大器u1a的输出端，所述增益电阻r10的另一端连接运算放大器u2a的同相输入端与增益电阻r12的连接点，所述增益电阻r12的另一端接地agnd；

16、所述增益电阻r11的一端连接运算放大器u1b的输出端，所述增益电阻r11的另一端连接运算放大器u2a的反相输入端与增益电阻r13的连接点，所述增益电阻r13另一端连接运算放大器u2a的输出端；

17、所述运算放大器u2a的输出端连接运算放大器u2b的同相输入端，所述运算放大器u2b的反相输入端连接输出端，组成电压跟随器，增大电流驱动能力。

18、优选的，所述电平转换单元包括缓冲电阻r14、光光耦op2和上拉电阻r15，所述缓冲电阻r14的一端连接运算放大器u2b的输出端，所述缓冲电阻r14的另一端连接光耦op2的发射端正极，所述光耦op2的发射端负极接地agnd，所述光耦op2的接收端集电极通过上拉电阻r15与电源+vdd连接，所述光耦op2的接收端发射极接地dgnd。

19、优选的，所述cpu检测单元通过检测光耦op2的接收端集电极上的电平变化来判断接触线是否正常。

20、当采用上述方法仪器测试线时，如果四根测试中的某一根接触不良或者断线，可直接检测出来，并通过显示屏将判断结果显示出来。也可以通过handler接口回传信号给测试系统。

21、与现有技术相比，本发明的有益效果是：

22、本发明记载了一种基于直流电阻测试仪的接触检查系统，解决了目前电阻测量方面由于测试线接触不良而导致的数据结果的偏差问题，这样大大减少了因此问题而造成的测量误差，提高了产品检验的合格率，提高了工作效率，从而降低了工作成本，本方法区别于交流信号源测试方法，此测试方法采用直流信号源，更加简单高效，具有良好的使用前景。

技术特征：

1.一种基于直流电阻测试仪的接触检查系统，其特征在于，包括直流信号单元、测量单元、检测单元、电平转换单元和cpu检测单元；

2.根据权利要求1所述的一种基于直流电阻测试仪的接触检查系统，其特征在于：所述直流信号单元包括光耦op1，所述光耦op1的发射端负极通过电阻r1接地，所述光耦op1中光电晶体管接收端正极通过电阻r2连接电压基准芯片t1的阴极与基准引脚，所述光耦op1中光电晶体管接收端的负极与电压基准芯片t1的阳极相连接在地agnd。

3.根据权利要求2所述的一种基于直流电阻测试仪的接触检查系统，其特征在于：所述测量单元包括分压电阻r3和分压电阻r4，所述分压电阻r3的一端连接电压基准芯片t1的阴极与基准引脚，所述分压电阻r3的另一端与分压电阻r4连接，所述分压电阻r4的另一端连接地agnd。

4.根据权利要求3所述的一种基于直流电阻测试仪的接触检查系统，其特征在于：所述检测单元包括仪表放大器的前级增益电路和仪表放大器的减法电路。

5.根据权利要求4所述的一种基于直流电阻测试仪的接触检查系统，其特征在于：所述仪表放大器的前级增益电路包括运算放大器u1、增益电阻r7、增益电阻r8和增益电阻r9；

6.根据权利要求5所述的一种基于直流电阻测试仪的接触检查系统，其特征在于：所述仪表放大器的减法电路包括运算放大器u2a,增益电阻r10、增益电阻r11、增益电阻r12和增益电阻r13；

7.根据权利要求6所述的一种基于直流电阻测试仪的接触检查系统，其特征在于：所述电平转换单元包括缓冲电阻r14、光光耦op2和上拉电阻r15，所述缓冲电阻r14的一端连接运算放大器u2b的输出端，所述缓冲电阻r14的另一端连接光耦op2的发射端正极，所述光耦op2的发射端负极接地agnd，所述光耦op2的接收端集电极通过上拉电阻r15与电源+vdd连接，所述光耦op2的接收端发射极接地dgnd。

8.根据权利要求7所述的一种基于直流电阻测试仪的接触检查系统，其特征在于：所述cpu检测单元通过检测光耦op2的接收端集电极上的电平变化来判断接触线是否正常。

技术总结
本发明公开了一种基于直流电阻测试仪的接触检查系统，涉及测量技术领域，包括直流信号单元、测量单元、检测单元、电平转换单元和CPU检测单元；所述直流信号单元与测量单元电连接，用于产生电平变化；所述检测单元与测量单元电连接，用于检测电平变化，并将电压放大；所述电平转换单元与检测单元电连接，用于将放大的电压转化为单片机能识别的信号。本发明记载的方案解决了目前电阻测量方面由于测试线接触不良而导致的数据结果的偏差问题，这样大大减少了因此问题而造成的测量误差，提高了产品检验的合格率，提高了工作效率，从而降低了工作成本，本测试方法采用直流信号源，更加简单高效，具有良好的使用前景。

技术研发人员：卓大庆,路芝荣,吴忠良,张湘铃
受保护的技术使用者：常州浩仪科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/2/8