一种集成电路测试装置的制作方法

本技术涉及集成电路，具体为一种集成电路测试装置。

背景技术：

1、集成电路在生产结束后，需要对其进行检测，普通集成电路检测过程采用人工手持检测仪器对集成电路针脚进行逐个检测，效率较低，有的先进单位采用集成仪器对集成电路进行逐个检测，但是集成电路安装替换速度慢，而检测速度较快，导致大量时间浪费在集成电路的工位安装过程中，不利于快速检测。

技术实现思路

1、针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种集成电路测试装置，解决了普通集成电路检测过程采用人工手持检测仪器对集成电路针脚进行逐个检测，效率较低，有的先进单位采用集成仪器对集成电路进行逐个检测，但是集成电路安装替换速度慢，而检测速度较快，导致大量时间浪费在集成电路的工位安装过程中，不利于快速检测的问题。

2、为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：一种集成电路测试装置，包括水平底板，所述水平底板的顶部固定连接有竖直板，所述竖直板的顶部固定连接有水平支架板，所述水平支架板的底部固定连接有轮替组件，所述轮替组件包括与水平支架板底部固定连接的动力电机，所述动力电机输出轴的底端固定连接有水平承载圆块，所述水平承载圆块的内部开设有四个通槽，所述通槽均匀对称分布，所述通槽的内部贯穿有衔接杆，所述衔接杆的顶端固定连接有花键盘，所述衔接杆的表面固定连接有伴随板，所述伴随板的底部转动连接有伸缩杆，所述通槽内壁的两侧均固定连接有环形板，所述环形板的顶部与伸缩杆的底端滑动连接，所述衔接杆的底端固定连接有放置槽块，所述放置槽块内壁的一侧固定连接有吸盘，所述放置槽块底部的两侧均固定连接有卡槽板，所述水平支架板的顶部活动连接有纠偏测试组件，所述水平底板内表面的底部固定连接有定位测试块。

3、优选的，所述纠偏测试组件包括与水平支架板顶部活动连接的顶板，所述顶板的形状为圆形。

4、优选的，所述顶板底部的中间固定连接有测试伸缩杆，所述测试伸缩杆的底端贯穿水平支架板并且延伸至水平支架板的底部。

5、优选的，所述测试伸缩杆的底端固定连接有花键套，所述花键套的表面设置加强筋。

6、优选的，所述顶板的顶部固定连接有控制把手，所述控制把手的表面设置防滑凸点。

7、优选的，所述顶板的底部固定连接有滚动球，所述滚动球的表面打磨光滑。

8、有益效果

9、本实用新型提供了一种集成电路测试装置。与现有技术相比具备以下有益效果：

10、(1)、该集成电路测试装置，通过水平支架板的底部固定连接有轮替组件，轮替组件包括与水平支架板底部固定连接的动力电机，动力电机输出轴的底端固定连接有水平承载圆块，水平承载圆块的内部开设有四个通槽，通槽均匀对称分布，通槽的内部贯穿有衔接杆，衔接杆的顶端固定连接有花键盘，衔接杆的表面固定连接有伴随板，伴随板的底部转动连接有伸缩杆，通槽内壁的两侧均固定连接有环形板，环形板的顶部与伸缩杆的底端滑动连接，衔接杆的底端固定连接有放置槽块，放置槽块内壁的一侧固定连接有吸盘，放置槽块底部的两侧均固定连接有卡槽板，通过轮替组件的设置，装置能够及时对待检测集成电路进行快速切换，能够在检测同时在卡槽板中对待检测集成电路进行安装，方便后续转动检测，整体操作过程统筹安排，效率较高，解决了集成电路安装替换速度慢，而检测速度较快，导致大量时间浪费在集成电路的工位安装过程中，不利于快速检测的问题。

11、(2)、该集成电路测试装置，通过纠偏测试组件包括与水平支架板顶部活动连接的顶板，顶板的形状为圆形，顶板底部的中间固定连接有测试伸缩杆，测试伸缩杆的底端贯穿水平支架板并且延伸至水平支架板的底部，测试伸缩杆的底端固定连接有花键套，花键套的表面设置加强筋，顶板的顶部固定连接有控制把手，控制把手的表面设置防滑凸点，顶板的底部固定连接有滚动球，滚动球的表面打磨光滑，通过纠偏测试组件的设置，装置能及时对集成电路进行角度纠正，避免转动歪斜的集成电路不能准确对准定位测试块，方便工作人员快速检测，并且相关结构十分简单，易于工作人员快速操作。

技术特征：

1.一种集成电路测试装置，包括水平底板(1)，其特征在于：所述水平底板(1)的顶部固定连接有竖直板(2)，所述竖直板(2)的顶部固定连接有水平支架板(3)，所述水平支架板(3)的底部固定连接有轮替组件(4)，所述轮替组件(4)包括与水平支架板(3)底部固定连接的动力电机(41)，所述动力电机(41)输出轴的底端固定连接有水平承载圆块(42)，所述水平承载圆块(42)的内部开设有四个通槽(43)，所述通槽(43)均匀对称分布，所述通槽(43)的内部贯穿有衔接杆(44)，所述衔接杆(44)的顶端固定连接有花键盘(45)，所述衔接杆(44)的表面固定连接有伴随板(46)，所述伴随板(46)的底部转动连接有伸缩杆(47)，所述通槽(43)内壁的两侧均固定连接有环形板(48)，所述环形板(48)的顶部与伸缩杆(47)的底端滑动连接，所述衔接杆(44)的底端固定连接有放置槽块(49)，所述放置槽块(49)内壁的一侧固定连接有吸盘(410)，所述放置槽块(49)底部的两侧均固定连接有卡槽板(411)，所述水平支架板(3)的顶部活动连接有纠偏测试组件(5)，所述水平底板(1)内表面的底部固定连接有定位测试块(6)。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述纠偏测试组件(5)包括与水平支架板(3)顶部活动连接的顶板(51)，所述顶板(51)的形状为圆形。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述顶板(51)底部的中间固定连接有测试伸缩杆(52)，所述测试伸缩杆(52)的底端贯穿水平支架板(3)并且延伸至水平支架板(3)的底部。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述测试伸缩杆(52)的底端固定连接有花键套(53)，所述花键套(53)的表面设置加强筋。

5.根据权利要求2所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述顶板(51)的顶部固定连接有控制把手(54)，所述控制把手(54)的表面设置防滑凸点。

6.根据权利要求2所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述顶板(51)的底部固定连接有滚动球(55)，所述滚动球(55)的表面打磨光滑。

技术总结
本技术公开了一种集成电路测试装置，包括水平底板，所述水平底板的顶部固定连接有竖直板，所述竖直板的顶部固定连接有水平支架板，所述水平支架板的底部固定连接有轮替组件，所述轮替组件包括与水平支架板底部固定连接的动力电机，所述动力电机输出轴的底端固定连接有水平承载圆块，所述水平承载圆块的内部开设有四个通槽，所述通槽均匀对称分布，所述通槽的内部贯穿有衔接杆，本技术涉及集成电路技术领域。该集成电路测试装置，通过轮替组件的设置，装置能够及时对待检测集成电路进行快速切换，能够在检测同时在卡槽板中对待检测集成电路进行安装，方便后续转动检测，整体操作过程统筹安排，效率较高。

技术研发人员：徐辉,廖志国,李斌
受保护的技术使用者：深圳市凯新达电子有限公司
技术研发日：20230110
技术公布日：2024/1/13