具备高精度测温的两箱式冷热冲击试验箱的制作方法

文档序号:35548822发布日期:2023-09-23 22:03阅读:47来源:国知局

本技术涉及试验箱领域,特别涉及一种具备高精度测温的两箱式冷热冲击试验箱。


背景技术:

1、目前,随着经济的不断发展和设备的不断创新,人们对温度的测试越来越需要精确,但是目前具备高精度测温的两箱式冷热冲击试验箱的测温装置设置在材料箱外部,不能精准的反应材料箱内部材料的温度,因此需要进行改进。


技术实现思路

1、本实用新型的主要目的是提出一种具备高精度测温的两箱式冷热冲击试验箱,旨在精准的反应测试材料的温度。

2、为实现上述目的,本实用新型提出一种具备高精度测温的两箱式冷热冲击试验箱,所述具备高精度测温的两箱式冷热冲击试验箱包括:壳体,所述壳体内设置有热冲击室、冷冲击室、制冷制热设备,所述制冷制热设备分别与所述热冲击室和所述冷冲击室相连接,用于给所述热冲击室加热以及给所述冷冲击室降温;

3、门体,所述门体与所述壳体相连接,所述门体用于封闭或打开所述壳体;

4、材料箱,所述材料箱在所述热冲击室及所述冷冲击室之间往返运动,所5述材料箱可放置测试材料;

5、测温装置,所述测温装置设置于所述材料箱内部,用于测试所述测试材料的温度。

6、可选的,所述测温装置包括温度计,所述温度计设置于所述材料箱内部,用于测量所述测试材料的温度。

7、可选的,所述测温装置还包括固定杆,所述固定杆设置于所述材料箱与所述温度计之间。

8、可选的,所述材料箱两侧为网孔设置。

9、可选的,所述门体上设置有观察窗口,所述观察窗口用于观察材料箱。

10、可选的,所述观察窗口上安装有观察玻璃。

11、可选的,所述门体上设置有把手,所述把手用于将所述门体打开。

12、可选的,所述壳体上还设置有控制区,所述控制区用于调控所述热冲击室和所述冷冲击室的温度。

13、可选的,所述控制区包括屏幕显示区,所述屏幕显示区用于显示所述热冲击室和所述冷冲击室的温度。

14、可选的,所述控制区还包括按钮区,所述按钮区用于控制所述热冲击室和所述冷冲击室的温度。

15、本实用新型技术方案中,在使用该试验箱前首先通过制冷制热设备将热冲击室和冷冲击室加热或者降温到设定的温度,其次将材料箱内放置测试材料,之后将门体关上,此时热冲击室和冷冲击室中的热量或者寒气进入材料箱内,将材料箱内的测试材料加热或者降温到一定程度,材料箱在热冲击室和冷冲击室之间进行往返运动,从而实现在不同温度下的冲击实验,此时将测温装置设置于所述材料箱内部,用于测试所述测试材料的温度,这样就可以测试的温度更加准确。



技术特征:

1.一种具备高精度测温的两箱式冷热冲击试验箱,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的具备高精度测温的两箱式冷热冲击试验箱,其特征在于,所述测温装置包括温度计,所述温度计设置于所述材料箱内部,用于测量所述测试材料的温度。

3.如权利要求2所述的具备高精度测温的两箱式冷热冲击试验箱,其特征在于,所述测温装置还包括固定杆,所述固定杆设置于所述材料箱与所述温度计之间。

4.如权利要求1所述的具备高精度测温的两箱式冷热冲击试验箱,其特征在于,所述材料箱两侧为网孔设置。

5.如权利要求1所述的具备高精度测温的两箱式冷热冲击试验箱,其特征在于,所述门体上设置有观察窗口,所述观察窗口用于观察材料箱。

6.如权利要求5所述的具备高精度测温的两箱式冷热冲击试验箱,其特征在于,所述观察窗口上安装有观察玻璃。

7.如权利要求6所述的具备高精度测温的两箱式冷热冲击试验箱,其特征在于,所述门体上设置有把手,所述把手用于将所述门体打开。

8.如权利要求1所述的具备高精度测温的两箱式冷热冲击试验箱,其特征在于,所述壳体上还设置有控制区,所述控制区用于调控所述热冲击室和所述冷冲击室的温度。

9.如权利要求8所述的具备高精度测温的两箱式冷热冲击试验箱,其特征在于,所述控制区包括屏幕显示区,所述屏幕显示区用于显示所述热冲击室和所述冷冲击室的温度。

10.如权利要求8所述的具备高精度测温的两箱式冷热冲击试验箱,其特征在于,所述控制区还包括按钮区,所述按钮区用于控制所述热冲击室和所述冷冲击室的温度。


技术总结
本技术公开了一种具备高精度测温的两箱式冷热冲击试验箱,涉及试验箱领域,包括:壳体,所述壳体内设置有热冲击室、冷冲击室、制冷制热设备,所述制冷制热设备分别与所述热冲击室和所述冷冲击室相连接,用于给所述热冲击室加热以及给所述冷冲击室降温;门体,所述门体与所述壳体相连接,所述门体用于封闭或打开所述壳体;材料箱,所述材料箱在所述热冲击室及所述冷冲击室之间往返运动,所述材料箱可放置测试材料;测温装置,所述测温装置设置于所述材料箱内部,用于测试所述测试材料的温度。可以测试的温度更加准确。

技术研发人员:曾德龙
受保护的技术使用者:广东科文试验设备有限公司
技术研发日:20230109
技术公布日:2024/1/14
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