本技术属于电子元件测试装置,具体涉及一种三极管测试工装。
背景技术:
1、半导体三极管,也称双极型晶体管、晶体三极管,是一种控制电流的半导体器件;晶体三极管,是半导体基本元器件之一,也是电子电路的核心元件;现有的三极管通常采用万用表进行检测,但是由于三极管的体积较小,且引脚较细,这就导致实际操作时存在诸多不便;经检索,申请号为cn202122588883.0的中国专利申请中记载了一种三极管测试夹具,该专利通过夹紧弹簧对夹紧块进行弹压,让夹紧块对三极管进行挤压,从而将三极管的位置固定。
2、但是上述专利在使用时仍然存在一定的弊端,由于夹紧弹簧的弹力始终存在,所以在进行对三极管的投入以及拆下时,人员需始终将夹紧块抵住,只能用一只手来完成对三极管的拆装,这便给测试工装的使用带来了不便,降低了测试工装的使用便捷性,因此,需要另外设计一种新的测试工装来解决此问题。
技术实现思路
1、本实用新型的目的在于提供一种三极管测试工装,以解决上述背景技术中提出的现有的测试工装在使用时,对于三极管的拆装不够便捷的问题。
2、为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种三极管测试工装,包括本体和开设在本体顶面的一排放置槽,所述放置槽的内部滑动设置有夹紧块,所述夹紧块与放置槽之间设置有限制结构,所述限制结构包括开设在夹紧块顶面的按压槽和滑动设置在按压槽内部的按压块,所述按压块的底部固定有连接片,所述按压槽一侧开设有供连接片贯穿的连接槽,所述放置槽一侧开设有供连接片端部嵌入的对接槽,所述连接片与对接槽之间设置有卡合组件。
3、优选的,所述卡合组件包括固定在连接片端部的卡块,所述对接槽顶部开设有与卡块卡合的卡槽。
4、优选的,所述按压槽内部设置有复位弹簧,所述复位弹簧的两端分别与按压槽和按压块相固定。
5、优选的,所述按压块的顶端设置有凸块,所述按压块与凸块棱角处均为圆角结构。
6、优选的,所述夹紧块与放置槽的两侧之间设置有滑动组件,所述滑动组件包括固定在夹紧块两侧的滑块,所述放置槽的两侧对称开设有与滑块滑动连接的滑槽,所述滑槽的内部设置有夹紧弹簧,所述夹紧弹簧的两端分别与滑块和滑槽相固定。
7、优选的,所述滑槽的内部固定有导向杆,所述滑块的内部开设有与导向杆滑动连接的贯穿孔。
8、优选的,所述放置槽的一端设置有引脚插管,所述本体的顶面设置有测试接口。
9、优选的,所述本体为矩形结构,所述本体的底部设置有橡胶防滑垫。
10、与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
11、通过在测试工装上设置限制结构,在对三极管进行拆装时,可先拨动夹紧块,然后利用限制结构对夹紧块进行限制固定,由此人员可解放双手,能够将三极管快速的安装在测试工装上,提升了对三极管进行拆装的效率,同时也增强了测试工装在使用时的便捷性,给人员带来了方便。
1.一种三极管测试工装,包括本体和开设在本体顶面的一排放置槽,其特征在于:所述放置槽的内部滑动设置有夹紧块,所述夹紧块与放置槽之间设置有限制结构,所述限制结构包括开设在夹紧块顶面的按压槽和滑动设置在按压槽内部的按压块,所述按压块的底部固定有连接片,所述按压槽一侧开设有供连接片贯穿的连接槽,所述放置槽一侧开设有供连接片端部嵌入的对接槽,所述连接片与对接槽之间设置有卡合组件。
2.根据权利要求1所述的一种三极管测试工装,其特征在于:所述卡合组件包括固定在连接片端部的卡块,所述对接槽顶部开设有与卡块卡合的卡槽。
3.根据权利要求1所述的一种三极管测试工装,其特征在于:所述按压槽内部设置有复位弹簧,所述复位弹簧的两端分别与按压槽和按压块相固定。
4.根据权利要求1所述的一种三极管测试工装,其特征在于:所述按压块的顶端设置有凸块,所述按压块与凸块棱角处均为圆角结构。
5.根据权利要求1所述的一种三极管测试工装,其特征在于:所述夹紧块与放置槽的两侧之间设置有滑动组件,所述滑动组件包括固定在夹紧块两侧的滑块,所述放置槽的两侧对称开设有与滑块滑动连接的滑槽,所述滑槽的内部设置有夹紧弹簧,所述夹紧弹簧的两端分别与滑块和滑槽相固定。
6.根据权利要求5所述的一种三极管测试工装,其特征在于:所述滑槽的内部固定有导向杆,所述滑块的内部开设有与导向杆滑动连接的贯穿孔。
7.根据权利要求1所述的一种三极管测试工装,其特征在于:所述放置槽的一端设置有引脚插管,所述本体的顶面设置有测试接口。
8.根据权利要求1所述的一种三极管测试工装,其特征在于:所述本体为矩形结构,所述本体的底部设置有橡胶防滑垫。