一种用于多参数测量的比色装置的制作方法

本技术涉及比色池检测，特别涉及一种用于多参数测量的比色装置。

背景技术：

1、现在的多参数测量大多用30mm以下的比色池来进行测量，用长比色池(100mm)大多是单参数测量。这是由于在多参数测量时，采用的是机械分光或者是钨灯+(电机旋转)滤光片的形式，这种形式不仅造价昂贵，而且易出故障；现有技术中如果采用长比色池长，其进入其中光的能量会减少，信噪比降低，光纤系统分出的光容易打在比色池的侧壁上，从而造成不能准确的测量。

2、正是由于上述的问题，市面上基本上没有既能用长比色池，又能多参数测量的仪器。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于，针对上述不足之处提供一种用于多参数测量的比色装置，解决了现有技术中采用对于多参数测量时，仅造价昂贵，而且易出故障的问题，同时解决现有技术中不能采用长比色池进行多参数测量的问题。

2、本实用新型是通过下述方案来实现的：

3、一种用于多参数测量的比色装置，包括耦合器、壳体部和检测部；所述壳体部中设置有供比色池放置的比色腔，所述耦合器和检测部分别设置于壳体部长度方向的两端面上，所述耦合器中设置有调节组件和透镜组件。

4、基于上述一种用于多参数测量的比色装置的结构，所述耦合器上远离壳体部的端部上设置有供光纤容置的入口腔和供透镜组件容置的调节腔。

5、基于上述一种用于多参数测量的比色装置的结构，所述光纤为多合一光纤。

6、基于上述一种用于多参数测量的比色装置的结构，所述调节组件包括俯仰调节件和左右调节件；所述俯仰调节件设置在耦合器的竖向位置，所述左右调节件设置在耦合器的横向位置。

7、基于上述一种用于多参数测量的比色装置的结构，所述俯仰调节件为第一螺栓组和第二螺栓组，所述第一螺栓组和第二螺栓组设置在耦合器长度方向上，所述第一螺栓组与第二螺栓组间隔设置。

8、基于上述一种用于多参数测量的比色装置的结构，所述第一螺栓组包括分别设置在耦合器上下端面的第一螺栓和第二螺栓，所述第一螺栓和第二螺栓的位置相对应设置，耦合器上设置有与之相匹配的螺栓孔。

9、基于上述一种用于多参数测量的比色装置的结构，所述第二螺栓组包括分别设置在耦合器上下端面的第三螺栓和第四螺栓，所述第三螺栓和第四螺栓的位置相对应设置，耦合器上设置有与之相匹配的螺栓孔。

10、基于上述一种用于多参数测量的比色装置的结构，所述左右调节件包括第五螺栓和第六螺栓，所述第五螺栓和第六螺栓分别设置在耦合器宽度方向上的两侧位置，耦合器上设置有与之相匹配的螺栓孔，所述第五螺栓和第六螺栓的位置相对应设置。

11、基于上述一种用于多参数测量的比色装置的结构，所述比色腔不小于100mm。

12、基于上述一种用于多参数测量的比色装置的结构，所述检测部包括检测外壳、光阑、聚光透镜和检测器；所述检测外壳中设置有供卡接光阑、聚光透镜和检测器容置的腔体，光阑、聚光透镜和检测器的中心共线。

13、综上所述，由于采用了上述技术方案，本实用新型的有益效果是：

14、1、本方案在使用时将比色池放置于比色腔中，光纤与耦合器中的透镜组件连接，通过调节组件对透镜组件的位置进行调节，当光束在比色池中出现偏离的时候修正其光路位置，使光路始终与检测部连接，解决了现有技术无法使用长比色池进行测量的问题。

15、2、本方案结构简单，成本低廉，可以进行两个以上的波长的测量，实现多个参数测量，用了长比色池后，可以进行极低浓度的参数测量。

16、附图说明

17、图1为本实用新型整体的立体结构示意图；

18、图2为本实用新型中整体横向剖面结构示意图；

19、图3为本实用新型中耦合器的剖面结构图；

20、图4为本实用新型中耦合器的立体结构示意图图；

21、图5为本实用新型中检测部的剖面结构示意图；

技术特征：

1.一种用于多参数测量的比色装置，其特征在于：包括耦合器、壳体部和检测部；所述壳体部中设置有供比色池放置的比色腔，所述耦合器和检测部分别设置于壳体部长度方向的两端面上，所述耦合器中设置有调节组件和透镜组件。

2.如权利要求1所述的一种用于多参数测量的比色装置，其特征在于：所述耦合器上远离壳体部的端部上设置有供光纤容置的入口腔和供透镜组件容置的调节腔。

3.如权利要求2所述的一种用于多参数测量的比色装置，其特征在于：所述光纤为多合一光纤。

4.如权利要求3所述的一种用于多参数测量的比色装置，其特征在于：所述调节组件包括俯仰调节件和左右调节件；所述俯仰调节件设置在耦合器的竖向位置，所述左右调节件设置在耦合器的横向位置。

5.如权利要求4所述的一种用于多参数测量的比色装置，其特征在于：所述俯仰调节件为第一螺栓组和第二螺栓组，所述第一螺栓组和第二螺栓组设置在耦合器长度方向上，所述第一螺栓组与第二螺栓组间隔设置。

6.如权利要求5所述的一种用于多参数测量的比色装置，其特征在于：所述第一螺栓组包括分别设置在耦合器上下端面的第一螺栓和第二螺栓，所述第一螺栓和第二螺栓的位置相对应设置，耦合器上设置有与之相匹配的螺栓孔。

7.如权利要求5所述的一种用于多参数测量的比色装置，其特征在于：所述第二螺栓组包括分别设置在耦合器上下端面的第三螺栓和第四螺栓，所述第三螺栓和第四螺栓的位置相对应设置，耦合器上设置有与之相匹配的螺栓孔。

8.如权利要求6所述的一种用于多参数测量的比色装置，其特征在于：所述左右调节件包括第五螺栓和第六螺栓，所述第五螺栓和第六螺栓分别设置在耦合器宽度方向上的两侧位置，耦合器上设置有与之相匹配的螺栓孔，所述第五螺栓和第六螺栓的位置相对应设置。

9.如权利要求1～8任一所述的一种用于多参数测量的比色装置，其特征在于：所述比色腔不小于100mm。

10.如权利要求1～8任一所述的一种用于多参数测量的比色装置，其特征在于：所述检测部包括检测外壳、光阑、聚光透镜和检测器；所述检测外壳中设置有供卡接光阑、聚光透镜和检测器容置的腔体，光阑、聚光透镜和检测器的中心共线。

技术总结
本技术公开了一种用于多参数测量的比色装置，包括耦合器、壳体部和检测部；所述壳体部中设置有供比色池放置的比色腔，所述耦合器和检测部分别设置于壳体部长度方向的两端面上，所述耦合器中设置有调节组件和透镜组件；本方案在使用时将比色池放置于比色腔中，光纤与耦合器中的透镜组件连接，通过调节组件对透镜组件的位置进行调节，当光束在比色池中出现偏离的时候修正其光路位置，使光路始终与检测部连接，解决了现有技术无法使用长比色池进行测量的问题。

技术研发人员：易佑春,林江
受保护的技术使用者：成都新三可仪器有限公司
技术研发日：20230221
技术公布日：2024/1/14