对射传感器辅助调整治具的制作方法

本技术涉及芯片测试辅助用具领域，尤其涉及对射传感器辅助调整治具。

背景技术：

1、如图10所示，现有技术中，在对芯片进行测试时，需要将芯片02装入梭车的容置槽011中，梭车01上开设有与容置槽011连通的光通道012，梭车01的两侧各安装有对射传感器，其中一个是发射器03，另一个是接收器04，当放入容置槽011的芯片02处于放平状态时，发射器03发出的红外光被接收器04所接收，判断此时芯片02是正确摆放的，当放入容置槽011的芯片02处于倾斜状态或出现叠放时，发射器03发出的红外光被阻挡，接收器04接收不到红外光，判断此时该容置槽011出现错放。

2、因为不同款芯片的厚度不一样，在容置槽中的高度不同，红外光在光通道通过的光通量也就不同，对此需要重新调整发射器和接收器的位置，以保证测试的正常进行。目前调整时仅依靠感觉对发射器和接收器进行调整，每次调整后需要验证测试效果，整个过程需往复多次，操作繁复，标准低且效率低，过程中需要频繁松开和拧紧固定发生器和接收器的螺丝，消减作业情绪和体力。另外，在实际应用中，为了保证测试的准确性，通常将发射器和接收器一高一低设置，将接收器设置高于发射器，这无疑给调整又增加了难度。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供用于对梭车两侧的发射器和接收器的位置调整提供辅助，使发射器、接收器能快速、准确地进行位置调整。

2、为实现上述目的，本实用新型的对射传感器辅助调整治具用于对梭车两侧的发射器和接收器的位置调整提供辅助。对射传感器辅助调整治具包括基座定准件、芯片定准件、第一调整件和第二调整件。芯片定准件呈可上下滑动地安装于基座定准件，第一调整件设于芯片定准件的第一端的一侧，第一调整件呈可上下滑动地安装于基座定准件，第二调整件设于芯片定准件的第二端的一侧，第二调整件呈可上下滑动地安装于基座定准件。芯片定准件呈可上下滑动地安装于基座定准件，第一调整件设于芯片定准件的第一端的一侧，第一调整件呈可上下滑动地安装于基座定准件，第二调整件设于芯片定准件的第二端的一侧，第二调整件呈可上下滑动地安装于基座定准件，

3、较佳地，芯片定准件的下端穿设于基座定准件内，芯片定准件为薄片结构，芯片定准件的上端加厚布置。

4、较佳地，芯片定准件的上端的两侧安装有补充条，补充条的顶部与芯片定准件的顶部处于同一平面并共同拼接成第三定准面。

5、较佳地，基座定准件由两相固定安装的结构板组成，两结构板围出一活动腔，芯片定准件、第一调整件和第二调整件分别穿设于活动腔。

6、较佳地，第一调整件为弯折结构，第一调整件的第一端穿出基座定准件的顶面，第一调整件的第一端的端面形成第四定准面，第一调整件的第二端穿出基座定准件的侧面，第一调整件的底面形成第五定准面。

7、较佳地，第一调整件开设有竖直延伸的第一导向孔，基座定准件内安装有第一限位导柱，第一限位导柱穿设于第一导向孔。

8、较佳地，第二调整件为弯折结构，第二调整件的第一端穿出基座定准件的顶面，第二调整件的第一端的端面形成第六定准面，第二调整件的第二端穿出基座定准件的侧面，第二调整件的底面形成第七定准面。

9、较佳地，第二调整件开设有竖直延伸的第二导向孔，基座定准件内安装有第二限位导柱，第二限位导柱穿设于第二导向孔。

10、较佳地，第一调整件的第二端和/或第二调整件的第二端安装有调节件。

11、较佳地，芯片定准件开设有竖直延伸的第三导向孔，基座定准件内安装有第三限位导柱，第三限位导柱穿设于第三导向孔。

12、因为第三定准面的位置是基于第二定准面所处的位置的确定的，而第二定准面根据不同款的芯片会处于不同的位置，因此第三定准面的位置可以对应不同款的芯片进行调整，第三定准面的位置确定后，通过简单的操作便确定第五定准面、第七定准面的位置，便分别确定下发射器、接收器的定位基准。本实用新型的对射传感器辅助调整治具的结构简单，而且通过简单操作便确定发射器、接收器的定位基准，从而能够简单、快速地对发射器和接收器进行定位，且使发射器、接收器精准地进行定位。

技术特征：

1.对射传感器辅助调整治具，用于对梭车两侧的发射器和接收器的位置调整提供辅助，其特征在于，对射传感器辅助调整治具包括基座定准件、芯片定准件、第一调整件和第二调整件，所述芯片定准件呈可上下滑动地安装于所述基座定准件，所述第一调整件设于所述芯片定准件的第一端的一侧，所述第一调整件呈可上下滑动地安装于所述基座定准件，所述第二调整件设于所述芯片定准件的第二端的一侧，所述第二调整件呈可上下滑动地安装于所述基座定准件，所述基座定准件的底部配置为第一定准面，所述芯片定准件的底部和顶部分别配置为第二定准面和第三定准面，所述第一调整件的顶部和底部分别配置为第四定准面和第五定准面，所述第二调整件的顶部和底部分别配置为第六定准面和第七定准面，所述第一调整件长于所述第二调整件。

2.根据权利要求1所述的对射传感器辅助调整治具，其特征在于，所述芯片定准件的下端穿设于所述基座定准件内，所述芯片定准件为薄片结构，所述芯片定准件的上端加厚布置。

3.根据权利要求1所述的对射传感器辅助调整治具，其特征在于，所述芯片定准件的上端的两侧安装有补充条，所述补充条的顶部与所述芯片定准件的顶部处于同一平面并共同拼接成所述第三定准面。

4.根据权利要求1所述的对射传感器辅助调整治具，其特征在于，所述基座定准件由两相固定安装的结构板组成，两所述结构板围出一活动腔，所述芯片定准件、第一调整件和第二调整件分别穿设于所述活动腔。

5.根据权利要求1所述的对射传感器辅助调整治具，其特征在于，所述第一调整件为弯折结构，所述第一调整件的第一端穿出所述基座定准件的顶面，所述第一调整件的第一端的端面形成所述第四定准面，所述第一调整件的第二端穿出所述基座定准件的侧面，所述第一调整件的底面形成所述第五定准面。

6.根据权利要求1所述的对射传感器辅助调整治具，其特征在于，所述第一调整件开设有竖直延伸的第一导向孔，所述基座定准件内安装有第一限位导柱，所述第一限位导柱穿设于所述第一导向孔。

7.根据权利要求1所述的对射传感器辅助调整治具，其特征在于，所述第二调整件为弯折结构，第二调整件的第一端穿出所述基座定准件的顶面，所述第二调整件的第一端的端面形成第六定准面，所述第二调整件的第二端穿出所述基座定准件的侧面，所述第二调整件的底面形成所述第七定准面。

8.根据权利要求1所述的对射传感器辅助调整治具，其特征在于，所述第二调整件开设有竖直延伸的第二导向孔，所述基座定准件内安装有第二限位导柱，所述第二限位导柱穿设于所述第二导向孔。

9.根据权利要求1所述的对射传感器辅助调整治具，其特征在于，所述第一调整件的第二端和/或所述第二调整件的第二端安装有调节件。

10.根据权利要求1所述的对射传感器辅助调整治具，其特征在于，所述芯片定准件开设有竖直延伸的第三导向孔，所述基座定准件内安装有第三限位导柱，所述第三限位导柱穿设于所述第三导向孔。

技术总结
本技术公开了对射传感器辅助调整治具，其可发射器、接收器能快速、准确地进行位置调整。对射传感器辅助调整治具包括基座定准件、芯片定准件、第一调整件和第二调整件，芯片定准件呈可上下滑动地安装于基座定准件，第一调整件设于芯片定准件的第一端的一侧，第一调整件呈可上下滑动地安装于基座定准件，第二调整件设于芯片定准件的第二端的一侧，第二调整件呈可上下滑动地安装于基座定准件，基座定准件的底部配置为第一定准面，芯片定准件的底部和顶部分别配置为第二定准面和第三定准面，第一调整件的顶部和底部分别配置为第四定准面和第五定准面，第二调整件的顶部和底部分别配置为第六定准面和第七定准面，第一调整件长于第二调整件。

技术研发人员：林望,曹贺磊,曾小林,孙孝辉,郑朝生
受保护的技术使用者：广东利扬芯片测试股份有限公司
技术研发日：20230222
技术公布日：2024/1/14