一种精密存放架失效检验治具的制作方法

本技术涉及精密存放架检验，尤其是一种精密存放架失效检验治具。

背景技术：

1、精密存放架主要用于半导体封装测试产线中，是料片的容器，精密存放架的稳定可靠决定了封装芯片的质量及产量，异常的精密存放架会影响产品的品质。通常对于精密存放架的检测大致分为外观检测，主要是通过肉眼查看是都带有毛刺、边角是否变形等大尺寸异常，若无大尺寸的异常，曾通过工具对内部的沟槽进行检测，检测是否有异常，同时对是否外扩或者内凹导致外形超差等无法用肉眼看的出来的小尺寸异常，因此导致工作量大，需多次测量，耗时长；并且测量、合格与否都是由人工操作和判定的，容易造成较大的误差，从而增加次品生产率

技术实现思路

1、为了解决现有技术中检验过程中耗费时间长并且认为因素误差大的问题，本实用新型提供了一种精密存放架失效检验治具。

2、本实用新型的技术方案为：一种精密存放架失效检验治具，包括底座、平行设置于底座上表面的滑轨、滑动设置滑轨上端的托盘、设置于底座上表面左右两侧对称的外形检测件、设置于底座上端的支架组件、设置于支架组件左右两端侧的内槽检测板，所述内槽检测板与外形检测件相互平行且之间留有间距，所述托盘用于放置存放架。

3、作为上述技术方案的进一步改进：

4、优选地，所述外形检测件为竖直平面检测板，所述竖直平面检测板通过支脚固定安装于底座上表面。

5、优选地，所述内槽检测板的侧面设置有与存放架内侧壁上的沟槽相匹配的齿缘。

6、优选地，所述托盘下表面设置有限位板，所述底座上方设置有两个与限位板处于一条直线上的限位座，两个所述限位座的连线与滑轨平行。

7、优选地，所述支架组件包括支撑座、滑板与t型连接架，所述支撑座固定设置于底座上表面，所述支撑座的竖直面上设置有两个轨道，所述滑板的竖直面滑动连接于轨道上，并且滑板两端通过螺栓与支撑座固定连接，所述滑板的另一侧竖直面上垂直连接有t型连接架一端，所述t型连接架另一端左右两侧设置有内槽检测板。

8、优选地，所述支撑座上设置有腰孔并通过螺栓与底座相连接，所述底座上设置上设有第一刻度槽，所述第一刻度槽位于支撑座前端。

9、优选地，所述支撑座顶端固定设置有竖直状态的千分尺，所述千分尺的输出端与滑板的顶端相接触。

10、优选地，所述托盘左右端与后端部均设置有挡块，后端的所述挡块上设置有推手。

11、优选地，所述支脚上设有第二刻度槽。

12、与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

13、1.本实用新型通过对外形检测件进行固定，由此可以检测精密存放架是否外扩，同时内槽检测板内的齿缘，可以检测精密存放架是否内凹，同时判断内部是否存在毛刺与垂直度检测，整体检测过程只需要放置并且推动即可完成检验，由此使得检测的过程简单高效，节约检测时间，可以避免因人为测量造成误差而影响产品质量的问题，检测精准。

14、2.支架组件可以轻微上下调节，并且可以左右调节，间接的对内槽检测板进行调节，由此适应精密存放架的尺寸，增加检测的精度。

技术特征：

1.一种精密存放架失效检验治具，其特征在于，包括底座(1)、平行设置于底座(1)上表面的滑轨(2)、滑动设置滑轨(2)上端的托盘(3)、设置于底座(1)上表面左右两侧对称的外形检测件、设置于底座(1)上端的支架组件、设置于支架组件左右两端侧的内槽检测板(4)，所述内槽检测板(4)与外形检测件相互平行且之间留有间距，所述托盘(3)用于放置存放架(5)。

2.根据权利要求1所述的精密存放架失效检验治具，其特征在于，所述外形检测件为竖直平面检测板(6)，所述竖直平面检测板(6)通过支脚(7)固定安装于底座(1)上表面。

3.根据权利要求1所述的精密存放架失效检验治具，其特征在于，所述内槽检测板(4)的侧面设置有与存放架(5)内侧壁上的沟槽相匹配的齿缘(8)。

4.根据权利要求1所述的精密存放架失效检验治具，其特征在于，所述托盘(3)下表面设置有限位板(9)，所述底座(1)上方设置有两个与限位板(9)处于一条直线上的限位座(10)，两个所述限位座(10)的连线与滑轨(2)平行。

5.根据权利要求1所述的精密存放架失效检验治具，其特征在于，所述支架组件包括支撑座(11)、滑板(12)与t型连接架(13)，所述支撑座(11)固定设置于底座(1)上表面，所述支撑座(11)的竖直面上设置有两个轨道(14)，所述滑板(12)的竖直面滑动连接于轨道(14)上，并且滑板(12)两端通过螺栓与支撑座(11)固定连接，所述滑板(12)的另一侧竖直面上垂直连接有t型连接架(13)一端，所述t型连接架(13)另一端左右两侧设置有内槽检测板(4)。

6.根据权利要求5所述的精密存放架失效检验治具，其特征在于，所述支撑座(11)上设置有腰孔并通过螺栓与底座(1)相连接，所述底座(1)上设置上设有第一刻度槽(15)，所述第一刻度槽(15)位于支撑座前端。

7.根据权利要求5所述的精密存放架失效检验治具，其特征在于，所述支撑座(11)顶端固定设置有竖直状态的千分尺(16)，所述千分尺(16)的输出端与滑板(12)的顶端相接触。

8.根据权利要求1所述的精密存放架失效检验治具，其特征在于，所述托盘(3)左右端与后端部均设置有挡块(17)，后端的所述挡块(17)上设置有推手(18)。

9.根据权利要求2所述的精密存放架失效检验治具，其特征在于，所述支脚(7)上设有第二刻度槽(19)。

技术总结
本技术公开了一种精密存放架失效检验治具，包括底座、平行设置于底座上表面的滑轨、滑动设置滑轨上端的托盘、设置于底座上表面左右两侧对称的外形检测件、设置于底座上端的支架组件、设置于支架组件左右两端侧的内槽检测板，所述内槽检测板与外形检测件相互平行且之间留有间距，所述托盘用于放置存放架。通过对外形检测件进行固定，由此可以检测精密存放架是否外扩，同时内槽检测板内的齿缘，可以检测精密存放架是否内凹，同时判断内部是否存在毛刺与垂直度检测，整体检测过程只需要放置并且推动即可完成，由此使得检测的过程简单高效，节约检测时间，可以避免因人为测量造成误差而影响产品质量的问题，检测精准。

技术研发人员：伍文杰
受保护的技术使用者：无锡捷荣精密机械有限公司
技术研发日：20230228
技术公布日：2024/1/15