芯片表面缺陷检测装置的制作方法

本技术涉及检测设备的，特别是涉及芯片表面缺陷检测装置。

背景技术：

1、随着近代信息化、电子化、智能化的发展，芯片作为现代电子产品、生产设备的核心，其用量逐年上涨，且随着生产生活的需要，对芯片自身的性能要求也不断提高，因此芯片是现代行业不可或缺的重要部件。

2、目前在芯片生产环节中，为了确保芯片不受到外界干扰而出现故障，往往会对芯片本身进行封装，将关键部件包裹只留下引脚在外部，而为了确保芯片封装有效，则需要对芯片进行外表面检测，以确保质量，如专利号202220169793.x公开一种芯片表面缺陷检测装置的专利，其操作过程为“在对芯片进行外观缺陷检测时，先将芯片均匀放入放置板2上的放置槽21内，放入完成后便可将放置板2放入底板1的定位框12内，从而对放置板2的位置进行限定，确保放置板2在检测过程中不会出现位移导致采集到的图像模糊情况”，其对芯片摆放和检测过程，通过人工进行操作，检测完成后取件在进行更换，本专利提供了一种“芯片表面缺陷检测装置”，在不影响检测的同时进行芯片更换，进一步提高芯片检测效率。

技术实现思路

1、为解决上述技术问题，本实用新型提供一种提高装置检测效率，增加操作便捷性的芯片表面缺陷检测装置。

2、本实用新型的芯片表面缺陷检测装置，包括检测箱、安装底座、移动台、定位框、传动梁、传动曲轴、传动蜗轮、驱动机构和传动机构，检测箱安装在安装底座上，移动台配合滑动安装在检测箱槽腔内部，移动台上设置有定位孔，两组定位框通过定位孔配合放置在移动台上，传动梁穿过检测箱通槽安装在移动台上，传动曲轴转动安装在安装底座空腔内部，传动曲轴与传动梁内腔配合滑动连接，传动蜗轮同轴安装在传动曲轴上，驱动机构安装在安装底座空腔内部，驱动机构与传动蜗轮配合连接，传动机构安装在检测箱槽腔内部。

3、本实用新型的芯片表面缺陷检测装置，驱动机构包括第一伺服电机、传动蜗杆和触碰开关，第一伺服电机安装在安装底座空腔内部，传动蜗杆同轴安装在第一伺服电机输出端，传动蜗杆与传动蜗轮啮合传动连接，两组触碰开关配合安装在检测箱槽腔内部，第一伺服电机与两组触碰开关电连接。

4、本实用新型的芯片表面缺陷检测装置，传动机构包括螺纹杆、移动梁、定位柱、采集摄像头和动力机构，螺纹杆转动安装在检测箱槽腔内部，移动梁螺纹孔与螺纹杆配合螺纹连接，定位柱安装在检测箱槽腔内部，定位柱与移动梁孔槽配合滑动连接，多组采集摄像头配合安装在移动梁上，采集摄像头数量与定位框上芯片放置槽列数相同，动力机构安装在检测箱槽腔内部并与螺纹杆配合连接。

5、本实用新型的芯片表面缺陷检测装置，动力机构包括第二伺服电机，第二伺服电机安装在检测箱上，第二伺服电机输出端与螺纹杆同轴配合连接，第二伺服电机与触碰开关电连接。

6、本实用新型的芯片表面缺陷检测装置，还包括支撑座，支撑座配合安装在安装底座空腔内部，传动蜗杆与支撑座配合转动连接。

7、本实用新型的芯片表面缺陷检测装置，还包括调节支脚，多组调节支脚配合安装在安装底座上。

8、本实用新型的芯片表面缺陷检测装置，还包括定位滑轨，定位滑轨配合安装在检测箱槽腔内部，移动台与定位滑轨配合滑动连接。

9、本实用新型的芯片表面缺陷检测装置，检测箱上设置有安装梁，螺纹杆和移动梁分别与安装梁配合连接。

10、与现有技术相比本实用新型的有益效果为：通过安装底座使检测箱稳定支撑，通过移动台使两组定位框配合滑动支撑在检测箱上，通过移动台定位孔使定位框与移动台连接位置便于快速定位摆放，通过定位框使芯片便于整齐摆放，通过传动蜗轮使传动曲轴与驱动机构配合连接，通过驱动机构使传动曲轴提供转动动力，通过传动曲轴转动与传动梁内腔配合使移动台带动两组定位框位置进行调节，通过传动机构使处于检测箱槽腔内部定位框上的芯片进行检测，进一步提高装置检测效率，增加操作便捷性。

技术特征：

1.芯片表面缺陷检测装置，其特征在于，包括检测箱(1)、安装底座(2)、移动台(3)、定位框(4)、传动梁(5)、传动曲轴(6)、传动蜗轮(7)、驱动机构和传动机构，所述检测箱(1)安装在安装底座(2)上，所述移动台(3)配合滑动安装在检测箱(1)槽腔内部，所述移动台(3)上设置有定位孔，两组所述定位框(4)通过定位孔配合放置在移动台(3)上，所述传动梁(5)穿过检测箱(1)通槽安装在移动台(3)上，所述传动曲轴(6)转动安装在安装底座(2)空腔内部，所述传动曲轴(6)与传动梁(5)内腔配合滑动连接，所述传动蜗轮(7)同轴安装在传动曲轴(6)上，所述驱动机构安装在安装底座(2)空腔内部，所述驱动机构与传动蜗轮(7)配合连接，所述传动机构安装在检测箱(1)槽腔内部。

2.如权利要求1所述的芯片表面缺陷检测装置，其特征在于，驱动机构包括第一伺服电机(8)、传动蜗杆(9)和触碰开关(10)，所述第一伺服电机(8)安装在安装底座(2)空腔内部，所述传动蜗杆(9)同轴安装在第一伺服电机(8)输出端，所述传动蜗杆(9)与传动蜗轮(7)啮合传动连接，两组所述触碰开关(10)配合安装在检测箱(1)槽腔内部，所述第一伺服电机(8)与两组触碰开关(10)电连接。

3.如权利要求1所述的芯片表面缺陷检测装置，其特征在于，传动机构包括螺纹杆(11)、移动梁(12)、定位柱(13)、采集摄像头(14)和动力机构，所述螺纹杆(11)转动安装在检测箱(1)槽腔内部，所述移动梁(12)螺纹孔与螺纹杆(11)配合螺纹连接，所述定位柱(13)安装在检测箱(1)槽腔内部，所述定位柱(13)与移动梁(12)孔槽配合滑动连接，多组所述采集摄像头(14)配合安装在移动梁(12)上，所述采集摄像头(14)数量与定位框(4)上芯片放置槽列数相同，所述动力机构安装在检测箱(1)槽腔内部并与螺纹杆(11)配合连接。

4.如权利要求3所述的芯片表面缺陷检测装置，其特征在于，动力机构包括第二伺服电机(15)，所述第二伺服电机(15)安装在检测箱(1)上，所述第二伺服电机(15)输出端与螺纹杆(11)同轴配合连接，所述第二伺服电机(15)与触碰开关(10)电连接。

5.如权利要求2所述的芯片表面缺陷检测装置，其特征在于，还包括支撑座(16)，所述支撑座(16)配合安装在安装底座(2)空腔内部，所述传动蜗杆(9)与支撑座(16)配合转动连接。

6.如权利要求1所述的芯片表面缺陷检测装置，其特征在于，还包括调节支脚(17)，多组所述调节支脚(17)配合安装在安装底座(2)上。

7.如权利要求1所述的芯片表面缺陷检测装置，其特征在于，还包括定位滑轨(18)，所述定位滑轨(18)配合安装在检测箱(1)槽腔内部，所述移动台(3)与定位滑轨(18)配合滑动连接。

8.如权利要求3所述的芯片表面缺陷检测装置，其特征在于，所述检测箱(1)上设置有安装梁(19)，所述螺纹杆(11)和移动梁(12)分别与安装梁(19)配合连接。

技术总结
本技术涉及检测设备的技术领域，特别是涉及芯片表面缺陷检测装置，其提高装置检测效率，增加操作便捷性；包括检测箱、安装底座、移动台、定位框、传动梁、传动曲轴、传动蜗轮、驱动机构和传动机构，检测箱安装在安装底座上，移动台配合滑动安装在检测箱槽腔内部，移动台上设置有定位孔，两组定位框通过定位孔配合放置在移动台上，传动梁穿过检测箱通槽安装在移动台上，传动曲轴转动安装在安装底座空腔内部，传动曲轴与传动梁内腔配合滑动连接，传动蜗轮同轴安装在传动曲轴上，驱动机构安装在安装底座空腔内部，驱动机构与传动蜗轮配合连接，传动机构安装在检测箱槽腔内部。

技术研发人员：唐松林
受保护的技术使用者：王唐（苏州）机器人智能科技有限公司
技术研发日：20230315
技术公布日：2024/1/13