微型发光二极管显示芯片的测试平台的制作方法

本技术特别涉及一种微型发光二极管(micro led)显示芯片的测试平台，属于屏幕展示或测试。

背景技术：

1、现有屏幕测试平台一般价格昂贵，且体积过大，随着microledar屏幕的小型化的发展，市场上的平台越来越不适合小型化的需要。

技术实现思路

1、本实用新型的主要目的在于提供一种微型发光二极管显示芯片的测试平台，从而克服现有技术中的不足。

2、为实现前述实用新型目的，本实用新型采用的技术方案包括：

3、本实用新型提供了一种微型发光二极管显示芯片的测试平台，包括：

4、测试腔室，用于容置待测微型发光二极管显示芯片，并提供对微型发光二极管显示芯片进行光学测试所需的暗室环境；

5、光谱仪，其至少用于对待测微型发光二极管显示芯片进行光学检测；

6、调节组件，其至少用于使待测微型发光二极管显示芯片于一三维坐标系内运动，以使光谱仪的光学中心与待测微型发光二极管显示芯片相对应，且使光谱仪提供的黑色测试光斑聚焦到待测微型发光二极管显示芯片上。

7、进一步的，所述调节组件包括承载台和驱动组件，所述承载台用于固定微型发光二极管显示芯片，所述驱动组件与所述承载台传动连接，并能够驱使所述承载台于所述三维坐标系内运动；

8、进一步的，所述驱动组件包括z轴升降机构、x轴平移机构、yz平移机构和x轴旋转机构中的至少一者，所述承载台与所述z轴升降机构、x轴平移机构、yz平移机构和x轴旋转机构中的至少一者传动连接，所述z轴升降机构用于驱使所述承载台沿所述三维坐标系的z轴升降，所述x轴平移机构用于驱使所述承载台沿所述三维坐标系的x轴平移，所述yz平移机构用于驱使所述承载台于所述三维坐标系的yz平面内平移，所述x轴旋转机构用于驱使所述承载台绕所述三维坐标系的x轴旋转。

9、进一步的，所述驱动组件包括z轴升降机构、x轴平移机构、yz平移机构和x轴旋转机构，所述z轴升降机构与所述x轴平移机构传动连接，所述x轴平移机构与所述yz平移机构传动连接，所述yz平移机构与所述x轴旋转机构传动连接，所述x轴旋转机构与所述承载台传动连接。

10、进一步的，所述微型发光二极管显示芯片的测试平台还包括：测试箱，所述测试箱包括底板和罩壳，所述罩壳设置在所述底板上并与所述罩壳围合形成所述的测试腔室，所述罩壳上还设置有可打开、关闭的罩门，所述调节组件和光谱仪均设置在所述测试腔室内。

11、进一步的，所述底板的表面设置有多个第一固定孔，所述罩壳上固定设置有多个第一固定柱，多个第一固定柱能够可拆卸地嵌入多个第一固定孔内而使所述罩壳被固定在所述底板上，所述光谱仪的底部与所述第一固定柱固定连接，所述光谱仪通过使所述第一固定柱嵌入第一固定孔内而固定在所述底板上。

12、进一步的，所述微型发光二极管显示芯片的测试平台还包括：立板，所述立板设置在所述测试腔室内，并且所述立板固定设置在所述底板上，所述z轴升降机构固定设置在所述立板上。

13、进一步的，所述立板的底部设置有所述第一固定柱，所述立板通过使所述第一固定柱嵌入所述第一固定孔内而固定在底板上。

14、进一步的，所述微型发光二极管显示芯片的测试平台还包括用于加强所述立板和底板连接强度的支撑架，所述支撑架分别与所述立板和底板固定连接。

15、进一步的，所述支撑架上固定设置有所述第一固定柱，所述支撑架通过使所述第一固定柱嵌入所述第一固定孔内而固定在底板上。

16、进一步的，所述支撑架为三棱柱结构，所述支撑架的两个侧面分别与所述立板、底板固定连接。

17、进一步的，所述立板的表面设置有多个第二固定孔，所述z轴升降机构和支撑架上固定设置有第二固定柱，所述第二固定柱能够可拆卸地嵌入所述第二固定孔内，从而使所述z轴升降机构和支撑架被固定在立板上。

18、进一步的，所述立板具有背对设置的第一面和第二面，所述第一面和第二面上均分布有多个所述第二固定孔，所述z轴升降机构设置在所述第一面上，所述支撑架与所述第二面固定连接。

19、进一步的，所述微型发光二极管显示芯片的测试平台还包括：源表，所述源表能够与待测微型发光二极管显示芯片电连接并点亮待测微型发光二极管显示芯片。

20、进一步的，所述微型发光二极管显示芯片的测试平台还包括：计算机，与所述光谱仪连接，并至少用于光谱仪的工作状态以及采集、处理光谱仪的测试数据。

21、与现有技术相比，本实用新型的优点包括：本实用新型提供的一种微型发光二极管显示芯片的测试平台，结构简单，组装和使用更加方便且体积更小；本实用新型提供的一种微型发光二极管显示芯片的测试平台更适合对微型发光二极管显示芯片幕进行测试，其性价比更高，且携带方便，从而可以更好的满足实际的测试需求。

技术特征：

1.一种微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于：所述调节组件包括承载台和驱动组件，所述承载台用于固定微型发光二极管显示芯片，所述驱动组件与所述承载台传动连接，并能够驱使所述承载台于所述三维坐标系内运动。

3.根据权利要求2所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于：所述驱动组件包括z轴升降机构、x轴平移机构、yz平移机构和x轴旋转机构中的至少一者，所述承载台与所述z轴升降机构、x轴平移机构、yz平移机构和x轴旋转机构中的至少一者传动连接，所述z轴升降机构用于驱使所述承载台沿所述三维坐标系的z轴升降，所述x轴平移机构用于驱使所述承载台沿所述三维坐标系的x轴平移，所述yz平移机构用于驱使所述承载台于所述三维坐标系的yz平面内平移，所述x轴旋转机构用于驱使所述承载台绕所述三维坐标系的x轴旋转。

4.根据权利要求3所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于：所述驱动组件包括z轴升降机构、x轴平移机构、yz平移机构和x轴旋转机构，所述z轴升降机构与所述x轴平移机构传动连接，所述x轴平移机构与所述yz平移机构传动连接，所述yz平移机构与所述x轴旋转机构传动连接，所述x轴旋转机构与所述承载台传动连接。

5.根据权利要求4所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于，还包括：测试箱，所述测试箱包括底板和罩壳，所述罩壳设置在所述底板上并与所述罩壳围合形成所述的测试腔室，所述罩壳上还设置有可打开、关闭的罩门，所述调节组件和光谱仪均设置在所述测试腔室内。

6.根据权利要求5所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于：所述底板的表面设置有多个第一固定孔，所述罩壳上固定设置有多个第一固定柱，多个第一固定柱能够可拆卸地嵌入多个第一固定孔内而使所述罩壳被固定在所述底板上，所述光谱仪的底部与所述第一固定柱固定连接，所述光谱仪通过使所述第一固定柱嵌入第一固定孔内而固定在所述底板上。

7.根据权利要求6所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于，还包括：立板，所述立板设置在所述测试腔室内，并且所述立板固定设置在所述底板上，所述z轴升降机构固定设置在所述立板上。

8.根据权利要求7所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于，所述立板的底部设置有所述第一固定柱，所述立板通过使所述第一固定柱嵌入所述第一固定孔内而固定在底板上。

9.根据权利要求7所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于，还包括用于加强所述立板和底板连接强度的支撑架，所述支撑架分别与所述立板和底板固定连接。

10.根据权利要求9所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于，所述支撑架上固定设置有所述第一固定柱，所述支撑架通过使所述第一固定柱嵌入所述第一固定孔内而固定在底板上。

11.根据权利要求9所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于，所述支撑架为三棱柱结构，所述支撑架的两个侧面分别与所述立板、底板固定连接。

12.根据权利要求9所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于：所述立板的表面设置有多个第二固定孔，所述z轴升降机构和支撑架上固定设置有第二固定柱，所述第二固定柱能够可拆卸地嵌入所述第二固定孔内，从而使所述z轴升降机构和支撑架被固定在立板上。

13.根据权利要求12所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于，所述立板具有背对设置的第一面和第二面，所述第一面和第二面上均分布有多个所述第二固定孔，所述z轴升降机构设置在所述第一面上，所述支撑架与所述第二面固定连接。

14.根据权利要求1所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于，还包括：源表，所述源表能够与待测微型发光二极管显示芯片电连接并点亮待测微型发光二极管显示芯片。

15.根据权利要求1所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于，所述微型发光二极管显示芯片的测试平台还包括：计算机，与所述光谱仪连接，并至少用于光谱仪的工作状态以及采集、处理光谱仪的测试数据。

技术总结
本技术公开了一种微型发光二极管显示芯片的测试平台。该测试平台包括：测试腔室，用于容置待测微型发光二极管显示芯片，并提供对微型发光二极管显示芯片进行光学测试所需的暗室环境；光谱仪，其至少用于对待测微型发光二极管显示芯片进行光学检测；调节组件，其至少用于使待测微型发光二极管显示芯片于一三维坐标系内运动，以使光谱仪的光学中心与待测微型发光二极管显示芯片相对应，且使光谱仪发出的黑色测试光斑聚焦到待测微型发光二极管显示芯片上。本技术提供的一种微型发光二极管显示芯片的测试平台更适合对微型发光二极管显示芯片幕进行测试，其性价比更高，且携带方便，从而可以更好的满足实际的测试需求。

技术研发人员：张斌,庄永漳
受保护的技术使用者：镭昱光电科技（苏州）有限公司
技术研发日：20230330
技术公布日：2024/1/15