一种便于移动的芯片测试机的制作方法

文档序号:36190014发布日期:2023-11-29 23:01阅读:32来源:国知局
一种便于移动的芯片测试机的制作方法

本技术涉及芯片测试机,尤其是一种便于移动的芯片测试机。


背景技术:

1、芯片测试机是一种用于电子与通信技术领域的电子测量仪器,适用于ic分检,整机采用自动入料、取放、分类及出料可确保测试良率及简化作业程序;芯片测试机放置在地面上,需要移动到不同的位置进行使用。

2、现有的芯片测试机大多依靠人工搬运来进行移动,十分的耗费人员体力,为此,我们提出一种便于移动的芯片测试机解决上述问题。


技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种便于移动的芯片测试机,以解决上述背景技术中提出的问题。

2、为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:

3、一种便于移动的芯片测试机,包括测试机本体,所述测试机本体的外表面固定安装有移动握杆,所述测试机本体的底面固定安装有保护箱,所述保护箱的外表面固定安装有控制器,所述保护箱的内底壁固定安装有电池,所述控制器通过导线与电池电连接,所述测试机本体的底面固定安装有四个电动推杆,每个所述电动推杆均通过导线与控制器电连接,每个所述电动推杆的输出端均固定安装有万向轮。

4、在进一步的实施例中,所述测试机本体通过合页铰接有两个箱门,每个所述箱门的外表面均固定安装有第一握把,每个所述箱门的外表面均镶嵌有玻璃窗,所述测试机本体的内部设有测试组件。

5、在进一步的实施例中,所述测试机本体的内壁固定安装有四组滑轨,每组所述滑轨相互靠近的一侧面共同滑动连接有抽屉。

6、在进一步的实施例中,每个所述抽屉的外表面分别固定安装有第二握把和安全锁。

7、在进一步的实施例中,所述测试机本体的上表面安装有两个显示器和状态指示灯,所述测试机本体的外表面固定安装有产品标识。

8、在进一步的实施例中,所述测试机本体的底面固定安装有四个支撑腿,每个所述支撑腿的底面均固定安装有支撑座。

9、与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:

10、本装置通过在测试机本体的底面设置保护箱并在保护箱的内部设置电池,使得保护箱可以对内部的电池起到保护作用,通过在测试机本体的底面设置四个电动推杆,并在电动推杆的输出端固定安装万向轮,使得工作人员可以通过控制器控制四个电动推杆的输出端带动万向轮下降,当万向轮代替支撑座将测试机主体托起时,工作人员仅需通过移动握杆即可轻松移动该装置,该装置解决了现有的芯片测试机不方便移动的问题。



技术特征:

1.一种便于移动的芯片测试机,其特征在于:包括测试机本体(11),所述测试机本体(11)的外表面固定安装有移动握杆(2),所述测试机本体(11)的底面固定安装有保护箱(5),所述保护箱(5)的外表面固定安装有控制器(4),所述保护箱(5)的内底壁固定安装有电池(19),所述控制器(4)通过导线与电池(19)电连接,所述测试机本体(11)的底面固定安装有四个电动推杆(18),每个所述电动推杆(18)均通过导线与控制器(4)电连接,每个所述电动推杆(18)的输出端均固定安装有万向轮(20)。

2.根据权利要求1所述的一种便于移动的芯片测试机,其特征在于:所述测试机本体(11)通过合页(14)铰接有两个箱门(21),每个所述箱门(21)的外表面均固定安装有第一握把(13),每个所述箱门(21)的外表面均镶嵌有玻璃窗(12),所述测试机本体(11)的内部设有测试组件(16)。

3.根据权利要求1所述的一种便于移动的芯片测试机,其特征在于:所述测试机本体(11)的内壁固定安装有四组滑轨(17),每组所述滑轨(17)相互靠近的一侧面共同滑动连接有抽屉(8)。

4.根据权利要求3所述的一种便于移动的芯片测试机,其特征在于:每个所述抽屉(8)的外表面分别固定安装有第二握把(7)和安全锁(9)。

5.根据权利要求1所述的一种便于移动的芯片测试机,其特征在于:所述测试机本体(11)的上表面安装有两个显示器(15)和状态指示灯(1),所述测试机本体(11)的外表面固定安装有产品标识(10)。

6.根据权利要求1所述的一种便于移动的芯片测试机,其特征在于:所述测试机本体(11)的底面固定安装有四个支撑腿(3),每个所述支撑腿(3)的底面均固定安装有支撑座(6)。


技术总结
本技术公开了一种便于移动的芯片测试机,包括测试机本体,所述测试机本体的外表面固定安装有移动握杆,所述测试机本体的底面固定安装有保护箱,所述保护箱的外表面固定安装有控制器,所述保护箱的内底壁固定安装有电池,所述控制器通过导线与电池电连接,所述测试机本体的底面固定安装有四个电动推杆。本装置通过在测试机本体的底面设置保护箱并在保护箱的内部设置电池,使得保护箱可以对内部的电池起到保护作用,通过在电动推杆的输出端固定安装万向轮,使得工作人员可以通过控制器控制四个电动推杆的输出端带动万向轮下降,工作人员仅需通过移动握杆即可轻松移动该装置,该装置解决了现有的芯片测试机不方便移动的问题。

技术研发人员:范正强,朱永兵
受保护的技术使用者:天津海瑞电子科技有限公司
技术研发日:20230417
技术公布日:2024/1/15
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