电容式触摸按键测试装置的制作方法

文档序号:35715524发布日期:2023-10-14 10:15阅读:21来源:国知局
电容式触摸按键测试装置的制作方法

本技术属于测试设备,具体的涉及一种电容式触摸按键功能测试的装置。


背景技术:

1、电容式触摸按键的触摸模式在家电控制领域中存在广泛的应用。很多家电产品上存在10个以上的触摸按键,数量较多,在这类产品的生产制造中,采用传统的手工触摸按键进行触摸按键的功能测试,不仅效率慢,对按键的灵敏度还无法进行量化。市面上存在的触摸按键自动测试工装大多为机械式模拟人手触摸按压测试,设计复杂,且成本较高,不易实现。


技术实现思路

1、本实用新型旨在提供一种电容式触摸按键测试装置,以解决现有触摸屏按键功能测试复杂,灵敏度差的问题。

2、具体方案如下:一种电容式触摸按键测试装置,包括机台以及设于机台上方的移动平台,该机台上设有容置槽,以用于盛装待测试触摸组件;该移动平台上设有触点区域,该触点区域设于该容置槽上方,且至少具有一导电的触点;还包括检测电路,该检测电路包括至少一电容支路,该检测支路包括一电容器,该电容器一端接地,另一端与该触点电连接。

3、本实用新型的进一步技术方案为:还包括一控制器,该导电触点还并联有至少两条该电容支路,每一电容支路均串接有一电控开关,该电控开关与该控制器电连接。

4、本实用新型的进一步技术方案为:该电控开关为光耦合器,每一该导电触点并联有三条该电容支路,以分别电连接标准电容器,上限电容器以及下限电容器。

5、本实用新型的进一步技术方案为:还包括显示器,该显示器与该控制器电连接,以显示电控开关状态。

6、本实用新型的进一步技术方案为:该移动平台上设有一电触pcb板,该检测电路以及该触点区域均设于该电触pcb板上,该触点区域具有多个该触点,每一该触点均电连接该电容支路。

7、其中,优选的,还包括竖直设置于该机台一侧的升降滑轨,该移动平台安装于该升降滑轨上,以具有贴近以及远离该机台上端面的检测位置和待机位置。

8、更进一步的,该机台上还设有环绕该容置槽的限位凸台,该限位凸台设于该移动平台投影下方位置。

9、更进一步的,该限位凸台为四周环绕容置槽的凸出条,且该凸出条上至少设有一操作缺口。

10、有益效果:一种电容式触摸按键测试装置,包括机台以及设于机台上方的移动平台,该机台上设有容置槽,以用于盛装待测试触摸组件;该移动平台上设有触点区域,该触点区域设于该容置槽上方,且至少具有一导电的触点;还包括检测电路,该检测电路包括至少一电容支路,该检测支路包括一电容器,该电容器一端接地,另一端与该触点电连接。通过检测电路的电容器,量化模拟人的手指容抗,经由触点接触待测试触摸组件上的弹簧,实现了自动化触摸按键测量,解决了现有触摸屏按键功能测试复杂,灵敏度差的问题。



技术特征:

1.一种电容式触摸按键测试装置,包括机台以及设于机台上方的移动平台,其特征在于:

2.根据权利要求1所述的电容式触摸按键测试装置,其特征在于:还包括一控制器,该导电触点还并联有至少两条该电容支路,每一电容支路均串接有一电控开关,该电控开关与该控制器电连接。

3.根据权利要求2所述的电容式触摸按键测试装置,其特征在于:该电控开关为光耦合器,每一该导电触点并联有三条该电容支路,以分别电连接标准电容器,上限电容器以及下限电容器。

4.根据权利要求2所述的电容式触摸按键测试装置,其特征在于:还包括显示器,该显示器与该控制器电连接,以显示电控开关状态。

5.根据权利要求1所述的电容式触摸按键测试装置,其特征在于:该移动平台上设有一电触pcb板,该检测电路以及该触点区域均设于该电触pcb板上,该触点区域具有多个该触点,每一该触点均电连接该电容支路。

6.根据权利要求1-5任一权利要求所述的电容式触摸按键测试装置,其特征在于:还包括竖直设置于该机台一侧的升降滑轨,该移动平台安装于该升降滑轨上,以具有贴近以及远离该机台上端面的检测位置和待机位置。

7.根据权利要求6所述的电容式触摸按键测试装置,其特征在于:该机台上还设有环绕该容置槽的限位凸台,该限位凸台设于该移动平台投影下方位置。

8.根据权利要求7所述的电容式触摸按键测试装置,其特征在于:该限位凸台为四周环绕容置槽的凸出条,且该凸出条上至少设有一操作缺口。


技术总结
本技术涉及电容式触摸按键测试装置,包括机台以及设于机台上方的移动平台,该机台上设有容置槽,以用于盛装待测试触摸组件;该移动平台上设有触点区域,该触点区域设于该容置槽上方,且至少具有一导电的触点;还包括检测电路,该检测电路包括至少一电容支路,该检测支路包括一电容器,该电容器一端接地,另一端与该触点电连接。通过检测电路的电容器,量化模拟人的手指容抗,经由触点接触待测试触摸组件上的弹簧,实现了自动化触摸按键测量,解决了现有触摸屏按键功能测试复杂,灵敏度差的问题。

技术研发人员:曾采虹,柯志坚,陈影华,肖俊
受保护的技术使用者:厦门华联电子科技有限公司
技术研发日:20230505
技术公布日:2024/1/15
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