一种新型恒温控制系统气体分析仪的制作方法

本技术属于气体分析相关，特别是涉及一种新型恒温控制系统气体分析仪。

背景技术：

1、气体分析仪除光源、测量室精度、光谱仪及信号处理除算法以外，对于气体分析仪测量精度影响最大的是温度引起的漂移，所以分析仪恒温控制系统的气体分析仪显得尤为重要，分析仪机箱安装在cems机柜内部，且cems机柜内部温度温度变化较大且不易控制，所以cems机柜内的温度很大程度上也会影响到分析仪机箱内温度，但它在实际使用中仍存在以下弊端：

2、气体分析仪在工作的过程中，直接将相应的样气导到其内部的测量室中，气体由于是管路导到测量室中，造成气体在测量室中流经地不够均匀，造成其在测量的过程中，可能产生一定地误差，造成数据上造成一定差别；

3、气体分析仪工作的过程中，其中由于采用电子元件较多，在其中温度发生变化的过程中，容易对这些仪器中相应的参数发生改变，造成测量的过程中，容易发生数据错误，或者温度过高，造成其内部的元器件发生损坏。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种新型恒温控制系统气体分析仪，通过设置机箱、测量室、tec半导体制冷器、连接柱和ptc恒温加热板，解决了气体分析仪工作过程中，样气进入测量室不够均匀，且控制内部温度恒定不够方便的问题。

2、为解决上述技术问题，本实用新型是通过以下技术方案实现的：

3、本实用新型为一种新型恒温控制系统气体分析仪，包括机箱、测量室、tec半导体制冷器、连接柱和ptc恒温加热板，所述机箱内顶部的一侧固定有双温控开关，所述机箱内的顶部中央固定有测量室，所述测量室内的一侧中间固定有挡板，所述机箱内顶部的一个拐角处固定有tec半导体制冷器，所述测量室一侧的机箱内壁上固定有连接柱，所述机箱的内底部固定有ptc恒温加热板，工作时，通过机箱将测量室、tec半导体制冷器、连接柱和ptc恒温加热板固定在其中，通过测量室在光源的作用下，通过光谱仪对测量室中经过的气体检测，通过tec半导体制冷器对机箱内进行降温，通过连接柱连接机箱内的结构，通过ptc恒温加热板对机箱内进行加热，防止机箱温度过低。

4、进一步地，所述机箱的顶部中央开设有通风孔，所述机箱顶部远离连接柱的一侧开设有仪器固定口，机箱通过固定孔排出热空气。

5、进一步地，所述测量室靠近挡板的一侧固定连通有样气进管，所述样气进管远离测量室的一端贯通固定在机箱内，所述测量室远离挡板的一侧固定连通有样气排管，所述样气排管远离挡板的一侧贯通固定在机箱内，测量室在工作时，通过样气进管将样气导到其中，通过样气排管导出样气。

6、进一步地，所述tec半导体制冷器的顶部中央固定连通有进气管，所述tec半导体制冷器的一侧固定连通有热气管，所述热气管贯通固定在机箱内，所述tec半导体制冷器远离热气管的一侧固定连通有冷气管，tec半导体制冷器通过进气管导入需要制冷的空气，并通过热气管导出热气，通过冷气管导出制作出的冷空气。

7、进一步地，所述连接柱靠近测量室的一端固定有光源，所述光源远离连接柱的一端与测量室固定，连接柱通过光源将测量用的光穿过测量室和其中的待检测样气后，导到光谱仪中。

8、进一步地，所述ptc恒温加热板顶部与仪器固定口位置对应地固定有光谱仪，所述光谱仪顶部固定在仪器固定口内，所述光谱仪靠近连接柱的一侧与测量室固定，通过光谱仪检测测量室中气体成分。

9、本实用新型具有以下有益效果：

10、本实用新型通过设置测量室，解决了气体分析仪工作过程中，样气进入测量室不够均匀的问题，样气通过样气进管导到测量室中，通过挡板的阻挡下，均匀地经过测量室，再通过测量室导到样气排管中，使得工作的过程中，样气进入测量室中更加方便。

11、本实用新型通过设置机箱、测量室、tec半导体制冷器、连接柱和ptc恒温加热板，解决了气体分析仪控制内部温度恒定不够方便的问题，当机箱的温度过高时，双温控开关启动，此时启动tec半导体制冷器工作，通过进气管将需要制冷的空气导到tec半导体制冷器中，通过tec半导体制冷器制冷后，热气通过热气管排出，冷气通过冷气管导到机箱中，对机箱中进行冷却，在机箱中温度低于指定的温度后，双温控开关启动，此时启动ptc恒温加热板，对机箱内进行加热，直到机箱内达到合适的温度，使得机箱内保持合适的温度更加方便。

技术特征：

1.一种新型恒温控制系统气体分析仪，包括机箱（100）、测量室（200）、tec半导体制冷器（300）、连接柱（400）和ptc恒温加热板（500），其特征在于：所述机箱（100）内顶部的一侧固定有双温控开关（103），所述机箱（100）内的顶部中央固定有测量室（200），所述测量室（200）内的一侧中间固定有挡板（201），所述机箱（100）内顶部的一个拐角处固定有tec半导体制冷器（300），所述测量室（200）一侧的机箱（100）内壁上固定有连接柱（400），所述机箱（100）的内底部固定有ptc恒温加热板（500）。

2.根据权利要求1所述的一种新型恒温控制系统气体分析仪，其特征在于：所述机箱（100）的顶部中央开设有通风孔（102），所述机箱（100）顶部远离连接柱（400）的一侧开设有仪器固定口（101）。

3.根据权利要求1所述的一种新型恒温控制系统气体分析仪，其特征在于：所述测量室（200）靠近挡板（201）的一侧固定连通有样气进管（202），所述样气进管（202）远离测量室（200）的一端贯通固定在机箱（100）内，所述测量室（200）远离挡板（201）的一侧固定连通有样气排管（203），所述样气排管（203）远离挡板（201）的一侧贯通固定在机箱（100）内。

4.根据权利要求1所述的一种新型恒温控制系统气体分析仪，其特征在于：所述tec半导体制冷器（300）的顶部中央固定连通有进气管（302），所述tec半导体制冷器（300）的一侧固定连通有热气管（303），所述热气管（303）贯通固定在机箱（100）内，所述tec半导体制冷器（300）远离热气管（303）的一侧固定连通有冷气管（301）。

5.根据权利要求1所述的一种新型恒温控制系统气体分析仪，其特征在于：所述连接柱（400）靠近测量室（200）的一端固定有光源（401），所述光源（401）远离连接柱（400）的一端与测量室（200）固定。

6.根据权利要求1所述的一种新型恒温控制系统气体分析仪，其特征在于：所述ptc恒温加热板（500）顶部与仪器固定口（101）位置对应地固定有光谱仪（501），所述光谱仪（501）顶部固定在仪器固定口（101）内，所述光谱仪（501）靠近连接柱（400）的一侧与测量室（200）固定。

技术总结
本技术公开了一种新型恒温控制系统气体分析仪，涉及气体分析相关技术领域。本技术包括机箱、测量室、TEC半导体制冷器、连接柱和PTC恒温加热板，机箱内顶部的一侧固定有双温控开关，机箱内的顶部中央固定有测量室，测量室内的一侧中间固定有挡板，机箱内顶部的一个拐角处固定有TEC半导体制冷器，测量室一侧的机箱内壁上固定有连接柱，机箱的内底部固定有PTC恒温加热板。本技术通过设置机箱、测量室、TEC半导体制冷器、连接柱和PTC恒温加热板，解决了气体分析仪工作过程中，样气进入测量室不够均匀，且控制内部温度恒定不够方便的问题，本技术的优点为：气体分析仪工作时，样气进入测量室更加方便，且控制其内部温度恒定更加方便。

技术研发人员：裴建军,王庆庄,任保彦,王章澳,李先成
受保护的技术使用者：河南省厚朴环保科技有限公司
技术研发日：20230524
技术公布日：2024/1/15