一种基于单稳态触发器与门三极管的LB测试控制电路的制作方法

本技术涉及控制电路领域，具体而言，涉及一种基于单稳态触发器与门三极管的lb测试控制电路。

背景技术：

1、近年来，随着半导体技术的不断发展，集成电路在电子产品中的应用越来越广泛。而在集成电路的制造过程中，需要进行各种可靠性测试，以保证电路的质量和性能。其中，lb（load board）测试是一种常用的测试方法。

2、一般情况下，是使用计数器来判断信号持续时间是否满足要求，我们提出一种基于单稳态触发器与门三极管的lb测试控制电路，通过1个cd4528单稳态触发器控制2个与门，检测lb测试是否满足要求。其中cd4528为双单稳态触发器集成电路，单稳态触发器只有一个稳定状态，一个暂稳态。在外加脉冲的作用下，单稳态触发器可以从一个稳定状态翻转到一个暂稳态，由于电路中电阻r3和电容c1构成rc延迟环节的作用，该暂稳态维持一段时间又回到原来的稳态，暂稳态维持的时间取决于rc的参数值。此电路用来产生lb测试时间信号表示内场测试仪前置偏差测试时间。此电路还控制dis信号，dis信号是由产品输来，表示产品接收了红外信号。此外此线路还控制26v战斗部信号的输送。当收到lb测试时间信号后，被测件电压26v形成26v战斗部信号输送至产品。lb测试时间经过光耦隔离后输出至cd4528单稳态触发器输出lb测试时间指令。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于：针对目前存在的背景技术提出的问题，为了实现上述实用新型目的，本实用新型提供了以下技术方案：一种基于单稳态触发器与门三极管的lb测试控制电路，包括单稳态触发器(cd4528)，四与门集成电路（cd4081），光电耦合器（tlp521-4），三极管（2n2222），电容器，电阻器，所述电阻r1至光电耦合器（tlp521-4）输入端电路连接，所述lb信号输出端口与u2单稳态触发器（cd4528）的输入端电路连接，u2单稳态触发器（cd4528）的输入端与电阻r3电路连接，所述lb信号输出端口与所述u2单稳态触发器（cd4528）的输入端，与所述电阻r3和电容c1构成延迟电路。

2、作为本实用新型优选的技术方案，所述u2单稳态触发器（cd4528）的q端输出端与lb信号数据连接。

3、作为本实用新型优选的技术方案，所述lb信号输出端口与四与门集成电路（cd4081）电路连接。

4、作为本实用新型优选的技术方案，所述四与门集成电路（cd4081）另一端口与三极管q2电路连接。

5、作为本实用新型优选的技术方案，所述三极管q2端输出dis信号。

6、作为本实用新型优选的技术方案，所述三极管q4端输出dis b信号。

7、作为本实用新型优选的技术方案，所述u2单稳态触发器（cd4528）端输出lb测试时间不合格信号。

8、作为本实用新型优选的技术方案，所述四与门集成电路（cd4081）相与后送至三极管q1和q3输出被测件电源信号和26v wh信号。

9、与现有技术相比，本实用新型的有益效果：

10、在本实用新型的方案中：lb测试时间信号经电阻r1至光电耦合器（tlp521-4）输入端，经光电转换后，lb信号输出至u2单稳态触发器（cd4528）的输入端，与电阻r3、电容c1构成的延迟时间比较后，q端输出lb测试时间信号，此信号经四与门集成电路（cd4081）相与后送至三极管q2输出dis信号，再经过三极管q4输出dis b信号。端输出lb测试时间不合格信号与26v战斗部接通信号经四与门集成电路（cd4081）相与后送至三极管q1和q3输出被测件电源信号和26v wh信号lb测试控制电路，能够判断lb信号是否合格，很好地保证了测试系统的工作安全性、可靠性，满足了使用要求。

技术特征：

1.一种基于单稳态触发器与门三极管的lb测试控制电路，其特征在于，包括单稳态触发器(cd4528)，四与门集成电路(cd4081)，光电耦合器(tlp521-4)，三极管(2n2222)，电容器，电阻器，电阻r1，lb信号输出端口；所述电阻r1至光电耦合器(tlp521-4)输入端电路连接，所述lb信号输出端口与u2单稳态触发器(cd4528)的输入端电路连接，u2单稳态触发器(cd4528)的输入端与电阻r3电路连接，所述lb信号输出端口与所述u2单稳态触发器(cd4528)的输入端，与所述电阻r3和电容c1构成延迟电路。

2.根据权利要求1所述的一种基于单稳态触发器与门三极管的lb测试控制电路，其特征在于，所述u2单稳态触发器(cd4528)的q端输出端与lb信号数据连接。

3.根据权利要求2所述的一种基于单稳态触发器与门三极管的lb测试控制电路，其特征在于，所述lb信号输出端口与四与门集成电路(cd4081)电路连接。

4.根据权利要求3所述的一种基于单稳态触发器与门三极管的lb测试控制电路，其特征在于，所述四与门集成电路(cd4081)另一端口与三极管q2电路连接。

5.根据权利要求4所述的一种基于单稳态触发器与门三极管的lb测试控制电路，其特征在于，所述三极管q2端输出dis信号。

6.根据权利要求5所述的一种基于单稳态触发器与门三极管的lb测试控制电路，其特征在于，三极管q4端输出dis b信号。

7.根据权利要求6所述的一种基于单稳态触发器与门三极管的lb测试控制电路，其特征在于，所述u2单稳态触发器(cd4528)端输出lb测试时间不合格信号。

8.根据权利要求7所述的一种基于单稳态触发器与门三极管的lb测试控制电路，其特征在于，所述四与门集成电路(cd4081)相与后送至三极管q1和q3输出被测件电源信号和26v wh信号。

技术总结
本技术提供了一种基于单稳态触发器与门三极管的LB测试控制电路，LB测试时间信号经电阻R1至光电耦合器（TLP521‑4）输入端，经光电转换后，LB信号输出至U2单稳态触发器（CD4528）的输入端，与电阻R3、电容C1构成的延迟时间比较后，Q端输出LB测试时间信号，此信号经四与门集成电路（CD4081）相与后送至三极管Q2输出DIS信号，再经过三极管Q4输出DIS B信号。端输出LB测试时间不合格信号与26V战斗部接通信号经四与门集成电路（CD4081）相与后送至三极管Q1和Q3输出被测件电源信号和26V WH信号LB测试控制电路，能够判断LB信号是否合格，很好地保证了测试系统的工作安全性、可靠性，满足了使用要求。

技术研发人员：程丰,余治民,方武震,刘永微,李焕阁
受保护的技术使用者：国营洛阳丹城无线电厂
技术研发日：20230524
技术公布日：2024/3/21