本申请涉及芯片测试，特别是涉及一种测试装置及测试机箱。
背景技术：
1、响应于芯片的发展，芯片测试也逐渐多样化。例如，芯片测试包括开短路测试、上电功能测试以及串口功能测试等。
2、多样化的芯片测试使得需要搭建的外围电路增多，很大程度上增加了测试成本，且浪费测试时间。
技术实现思路
1、基于此，有必要提供一种有效减少外围电路，节省测试时间的测试装置及测试机箱。
2、一种测试装置，包括：
3、测试板卡，包括测试治具以及测试电路，所述测试治具用于承载多个待测芯片；
4、源测量单元板卡，包括处理器芯片，所述处理器芯片用于控制所述测试电路对所述待测芯片进行开短路测试。
5、上述测试装置中，将进行开短路测试的测试电路直接形成在测试板卡上，有效减少了外围电路所需的仪器仪表的数量，降低成本，同时，降低测试时间成本，提高测试效率。
6、在其中一个实施例中，所述源测量单元板卡包括使能引脚、芯片选择引脚，所述使能引脚、所述芯片选择引脚共同控制将目标待测芯片接入所述测试电路，目标待测芯片为所述多个待测芯片中的其中一个待测芯片。
7、在其中一个实施例中，所述多个待测芯片包括第一待测芯片、第二待测芯片、第三待测芯片以及第四待测芯片，
8、所述芯片选择引脚包括第一引脚以及第二引脚，
9、所述使能引脚为高电平时，所述第一引脚与所述第二引脚选择所述多个待测芯片中的其中之一接入所述测试电路。
10、在其中一个实施例中，所述源测量单元板卡还包括控制电路，所述控制电路与所述处理器芯片连接。
11、在其中一个实施例中，所述测试装置还包括：
12、上位机，与所述控制电路连接。
13、在其中一个实施例中，所述测试板卡还设有烧录电路，所述烧录电路连接所述上位机，用于对待测芯片进行烧录。
14、在其中一个实施例中，所述源测量单元板卡还包括选通引脚，所述选通引脚用于控制所述待测芯片进行开短路测试或者软件烧录。
15、在其中一个实施例中，所述处理器芯片包括芯片开短路测试芯片、芯片上电功能测试芯片以及开关控制芯片。
16、在其中一个实施例中，所述源测量单元板卡还包括电源使能引脚，用于控制所述测试板卡的供电电源。
17、一种测试机箱，包括电源装置以及上述测试装置，电源装置用于为所述测试装置供电。
1.一种测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述源测量单元板卡包括使能引脚、芯片选择引脚，所述使能引脚、所述芯片选择引脚共同控制将目标待测芯片接入所述测试电路，目标待测芯片为所述多个待测芯片中的其中一个待测芯片。
3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，
4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述源测量单元板卡还包括控制电路，所述控制电路与所述处理器芯片连接。
5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：
6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述测试板卡还设有烧录电路，所述烧录电路连接所述上位机，用于对待测芯片进行烧录。
7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述源测量单元板卡还包括选通引脚，所述选通引脚用于控制所述待测芯片进行开短路测试或者软件烧录。
8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述处理器芯片包括芯片开短路测试芯片、芯片上电功能测试芯片以及开关控制芯片。
9.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述源测量单元板卡还包括电源使能引脚，用于控制所述测试板卡的供电电源。
10.一种测试机箱，其特征在于，包括电源装置以及根据权利要求1-9中任一项所述的测试装置，电源装置用于为所述测试装置供电。