一种集成电路检测探针的制作方法

本技术涉及电路检测，具体为一种集成电路检测探针。

背景技术：

1、电路检测探针是一种用于测量电路中的电压、电流、频率等信号的工具，它可以与外部测试仪器(如示波器、万用表等)连接，通过探针尖与电路中的测试点接触，传输信号到测试仪器上，从而分析电路的性能和状态。

2、公开号为cn209231390u的专利公开了一种集成电路测试用的探针，包括探针主体与密封部件，所述探针主体内部活动设置有弹簧，所述弹簧顶部固定安装有上接触端，所述上接触端与探针主体顶部活动连接，所述弹簧底部固定安装有下接触端，所述下接触端与探针主体固定安装，所述密封部件固定安装在探针主体与上接触端连接处，所述密封部件内部固定设置有上密封圈，所述上密封圈底部固定安装有下密封圈，所述上密封圈和下密封圈之间通过卡槽相互扣合，所述上密封圈下端面固定安装有涨紧凸块，所述下密封圈的上端面开设有涨紧槽。本实用新型结构简单，使用便捷，通过在探针主体内部设置密封部件，可以有效的避免了后液体进入到探针主体内部影响测试的效率。

3、上述现有技术在具体使用过程中，虽然通过在探针主体内部设置密封部件，可以有效避免液体进入到探针主体内部影响测试的效率，但是电路检测探针在使用过程中，探针的下接触端在每次使用时都需要与电路上的测试点接触，导致探针的下接触端在长时间使用后易出现磨损的情况，而上述现有技术的电路检测探针的下接触端是与探针主体固定连接的，当探针下接触端因为磨损而影响使用后，就只能更换新的探针，这样对电路检测探针中其他未损坏的部件造成了浪费，鉴于此，我们提出一种集成电路检测探针。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种集成电路检测探针，以解决上述背景技术中提出的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

3、一种集成电路检测探针，包括六边形针筒，所述六边形针筒底部的中部开设有圆形孔a，所述六边形针筒内设有可拆卸的下接触杆，所述下接触杆的底端从圆形孔a穿过至外界，所述下接触杆的顶部设有滑动连接于六边形针筒内的圆形第一防脱滑块，使下接触杆可以上下移动，但是不会与六边形针筒滑脱；

4、所述六边形针筒的顶部设有可拆卸的六边形筒盖，六边形筒盖和六边形针筒的外侧均采用六边形结构，可以有效提高该电路检测探针放置时的稳定性，所述六边形筒盖顶部的中部开设有圆形孔b，所述圆形孔b内滑动连接有上接触杆，所述上接触杆的底端穿过圆形孔b且固定连接有圆形第二防脱滑块，所述圆形第二防脱滑块和圆形第一防脱滑块之间设有可上下移动的导电杆，使上接触杆和下接触杆形成通路，并且六边形针筒、六边形筒盖、下接触杆、上接触杆和导电杆均为可拆卸部件，以便于使用者更换磨损的部件，避免该集成电路检测探针整体更换，避免浪费。

5、优选的，所述六边形针筒内壁的顶部开设有螺纹连接槽，所述六边形筒盖的底部设有螺纹连接于螺纹连接槽内的螺纹连接管，便于六边形筒盖与六边形针筒的拆装。

6、优选的，所述六边形针筒内且位于螺纹连接槽底部的位置设有可拆卸的圆形限位槽盒，所述圆形限位槽盒的外壁与六边形针筒的内壁相贴合，所述圆形限位槽盒外壁的顶部设有环形支撑块，所述环形支撑块的底部与螺纹连接槽内壁的底部相贴合，螺纹连接管的底部与环形支撑块的顶部相抵，使圆形限位槽盒的位置被固定。

7、优选的，所述圆形限位槽盒底部的中部开设有圆形孔c，所述圆形第二防脱滑块底部的外边缘与圆形限位槽盒内壁底部的外边缘相贴合，螺纹连接管的底部与圆形第二防脱滑块的顶部相抵，对圆形第二防脱滑块的位置进行固定，从而使六边形针筒、圆形限位槽盒、上接触杆和六边形筒盖的相对位置固定。

8、优选的，所述圆形第二防脱滑块底部的中部开设有圆形滑槽，所述导电杆的顶端穿过圆形孔c且滑动连接于圆形滑槽内，导电杆外壁的顶部与圆形滑槽的内壁相贴合，使导电杆与圆形第二防脱滑块连接。

9、优选的，所述圆形第一防脱滑块的顶部开设有圆形凹槽，所述圆形凹槽内壁底部的中部开设有圆形定位槽，所述导电杆底部的中部设有活动插接于圆形定位槽内的圆形定位杆，使导电杆的底端与下接触杆的位置固定，使导电杆可以随着下接触杆同步上下移动。

10、优选的，所述导电杆的外壁套设有弹簧，所述弹簧的底端与圆形凹槽内壁的底部相抵，所述弹簧的顶端与圆形限位槽盒的底部相抵，由于采用导电杆将上接触杆和下接触杆连通，弹簧可以采用塑料弹簧，通过弹簧使向上移动后的下接触杆可以向下复位移动。

11、与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

12、1、该集成电路检测探针，通过圆形限位槽盒和六边形筒盖的配合，可以对圆形第二防脱滑块的位置进行固定，从而使六边形针筒、圆形限位槽盒、上接触杆和六边形筒盖的相对位置固定，通过导电杆使上接触杆和下接触杆形成通路，并且六边形针筒、六边形筒盖、下接触杆、上接触杆和导电杆均为可拆卸部件，以便于使用者更换磨损的部件，避免该集成电路检测探针整体更换，避免浪费。

13、2、由于采用导电杆将上接触杆和下接触杆连通，弹簧可以采用塑料弹簧，避免弹簧作为导电连接件，因为弹簧受到冷加工的影响，可能会产生晶格畸变和缺陷，从而增加电子散射几率，使得电阻率增高，采用导电杆可以提高导电效率，通过塑料弹簧使向上移动后的下接触杆可以向下复位移动。

技术特征：

1.一种集成电路检测探针，包括六边形针筒(1)，其特征在于：所述六边形针筒(1)底部的中部开设有圆形孔a(11)，所述六边形针筒(1)内设有可拆卸的下接触杆(3)，所述下接触杆(3)的底端从圆形孔a(11)穿过至外界，所述下接触杆(3)的顶部设有滑动连接于六边形针筒(1)内的圆形第一防脱滑块(30)，所述六边形针筒(1)的顶部设有可拆卸的六边形筒盖(2)，所述六边形筒盖(2)顶部的中部开设有圆形孔b(21)，所述圆形孔b(21)内滑动连接有上接触杆(4)，所述上接触杆(4)的底端穿过圆形孔b(21)且固定连接有圆形第二防脱滑块(40)，所述圆形第二防脱滑块(40)和圆形第一防脱滑块(30)之间设有可上下移动的导电杆(6)。

2.根据权利要求1所述的集成电路检测探针，其特征在于：所述六边形针筒(1)内壁的顶部开设有螺纹连接槽(10)，所述六边形筒盖(2)的底部设有螺纹连接于螺纹连接槽(10)内的螺纹连接管(20)。

3.根据权利要求2所述的集成电路检测探针，其特征在于：所述六边形针筒(1)内且位于螺纹连接槽(10)底部的位置设有可拆卸的圆形限位槽盒(5)，所述圆形限位槽盒(5)的外壁与六边形针筒(1)的内壁相贴合，所述圆形限位槽盒(5)外壁的顶部设有环形支撑块(50)，所述环形支撑块(50)的底部与螺纹连接槽(10)内壁的底部相贴合。

4.根据权利要求3所述的集成电路检测探针，其特征在于：所述圆形限位槽盒(5)底部的中部开设有圆形孔c(51)，所述圆形第二防脱滑块(40)底部的外边缘与圆形限位槽盒(5)内壁底部的外边缘相贴合。

5.根据权利要求4所述的集成电路检测探针，其特征在于：所述圆形第二防脱滑块(40)底部的中部开设有圆形滑槽(400)，所述导电杆(6)的顶端穿过圆形孔c(51)且滑动连接于圆形滑槽(400)内。

6.根据权利要求3所述的集成电路检测探针，其特征在于：所述圆形第一防脱滑块(30)的顶部开设有圆形凹槽(300)，所述圆形凹槽(300)内壁底部的中部开设有圆形定位槽(31)，所述导电杆(6)底部的中部设有活动插接于圆形定位槽(31)内的圆形定位杆(60)。

7.根据权利要求6所述的集成电路检测探针，其特征在于：所述导电杆(6)的外壁套设有弹簧(7)，所述弹簧(7)的底端与圆形凹槽(300)内壁的底部相抵，所述弹簧(7)的顶端与圆形限位槽盒(5)的底部相抵。

技术总结
本技术涉及电路检测技术领域，具体为一种集成电路检测探针，包括六边形针筒，六边形针筒内设有可拆卸的下接触杆，下接触杆的顶部设有滑动连接于六边形针筒内的圆形第一防脱滑块，六边形针筒的顶部设有可拆卸的六边形筒盖，六边形筒盖顶部的中部开设有圆形孔b，圆形孔b内滑动连接有上接触杆，上接触杆的底端设有圆形第二防脱滑块，圆形第二防脱滑块和圆形第一防脱滑块之间设有可上下移动的导电杆。该集成电路检测探针，六边形针筒、六边形筒盖、圆形限位槽盒、下接触杆、上接触杆和导电杆均为可拆卸部件，以便于使用者更换磨损的部件，避免该集成电路检测探针整体更换，避免浪费。

技术研发人员：李莹,陈浩东,孙丽丽,金妍,秦蓉,樊晓波
受保护的技术使用者：西安正芯云尚电子技术有限公司
技术研发日：20230617
技术公布日：2024/1/15