本技术涉及到光通信及半导体芯片电子行业领域,特别是应用在光通信器件、传感光源器件、catv器件激光器封装制造过程内的一种应用于微型coc测试的系统。
背景技术:
1、随着光芯片的应用越来越广泛,激光器的封装形式也越来越多样化,例如传感应用激光器、激光雷达应用激光器、量子通讯应用激光器、catv应用激光器、激光美容医疗等等,都离不开各种各样激光器的封装。而在封装的过程中,coc的测试筛选显得较为重要。coc的测试对于芯片共晶工艺的评估验证、封装前的预筛选至关重要,一方面便于优化工艺,另一方面筛选出不合格的芯片可以避免没有必要的封装投入。
2、市场上自动测试设备很多,但是占地面积大,成本高,夹具兼容性低,更换产品类型需要付出高额成本去定制夹具,灵活性较差。这些自动设备主要为了大批量生产的生产效率为主;对于一些量级没有那么大的产品、变化较多的产品来说不够友好。为提高coc测试的兼容性、灵活性,降低投入成本,满足非大批量生产和前期研发等的需求,需要开发一款半自动的小型化coc测试平台,降低多变测试环境条件下的成本投入压力,同时满足研发阶段对于测试的迫切需求。
技术实现思路
1、本实用新型为解决上述使用的问题,提供一种同时满足现有激光器封装中封装形式多变、对于测试设备灵活性要求的应用于微型coc测试的系统。
2、本实用新型为实现上述目的所采用的技术方案是:一种应用于微型coc测试的系统,其特征在于,包括台座系统、仪器显示系统、探针系统、光纤积分球系统;
3、所述台座系统包括测试恒温台、系统底座、三轴耦合台,所述系统底座上连接三轴耦合台,所述三轴耦合台上连接测试恒温台;
4、所述仪器显示系统包括光谱仪、电脑、侧视ccd、ccd显示器、俯视ccd、piv扫描仪;所述光谱仪通过数据连接线连接电脑,所述侧视ccd与俯视ccd均连接于系统底座上,并分别连接ccd显示器,所述piv扫描仪连接光谱仪,其温控接口通过温控连接线连接测试恒温台;
5、所述探针系统包括探针台一、探针台二、探针、电机控制器,所述探针台一、探针台二上连接探针,所述探针连接电机控制器,并通过其自由上下调整,所述探针通过探针加电线连接piv扫描仪的电接口;
6、所述光纤积分球系统包括测试光纤、积分球、水平滑台、三轴耦合治具,所述积分球、三轴耦合治具均通过水平滑台连接于系统底座上,所述积分球连接piv扫描仪,所述三轴耦合治具上连接测试光纤,所述测试光纤连接光谱仪。
7、所述piv扫描仪通过光谱仪连接电脑,用于电脑操控测试进度以及控制测试条件。
8、所述俯视ccd安装在三轴耦合治具正上方,所述侧视ccd安装在三轴耦合治具侧面,与水平面呈20-30度角。
9、本实用新型的技术效果和优点:
10、测试系统体积小,成本低,可以放置在操作桌面上,人工作业更加方便、轻松。
11、采用探针台自由控制探针的位置,探针灵活性更高,该系统适用性更强。
12、测试数据可以通过电脑上传数据库并实现自动判定产品合格与否。
13、ccd的设计便于监控coc状态,操作更加直观,避免损伤芯片。
14、积分球与测试光纤的直线滑台设计,切换更加快速、便捷。
15、综上所述,本测试系统在低成本投入的条件下,更加灵活便利;保证测试准确的前提下,保护芯片不受损伤,同时也最大化的实现方便快捷的操作;测试数据上传服务器方便后期追溯查询。
1.一种应用于微型coc测试的系统,其特征在于,包括台座系统、仪器显示系统、探针系统、光纤积分球系统;
2.根据权利要求1所述的一种应用于微型coc测试的系统,其特征在于,所述piv扫描仪通过光谱仪连接电脑,用于电脑操控测试进度以及控制测试条件。
3.根据权利要求1所述的一种应用于微型coc测试的系统,其特征在于,所述俯视ccd安装在三轴耦合治具正上方,所述侧视ccd安装在三轴耦合治具侧面,与水平面呈20-30度角。