一种电子元件耐高温测试机箱及其测试系统的制作方法

文档序号:37202312发布日期:2024-03-05 11:59阅读:10来源:国知局
一种电子元件耐高温测试机箱及其测试系统的制作方法

本技术涉及电子元件测试相关,特别是一种电子元件耐高温测试机箱及其测试系统。


背景技术:

1、电子元器件是电子元件和小型的机器、仪器的组成部分,其本身常由若干零件构成,可以在同类产品中通用,在对电子元器件测试的过程中,电子元器件会产生热量,这些热量会对电子元器件的正常运作产生影响,因此需要通过测试机箱对电子元件的耐高温性能进行测试。

2、现有的专利(公告号:cn213715268u)公开了一种电子元器件耐高温用测试机箱,所述测试机箱本体顶部固定安装有固定架,所述固定架内部固定安装有风扇,所述测试机箱本体顶部位于风扇处固定安装有防护网,所述测试机箱本体表面一侧固定安装有第一防尘网,所述测试机箱本体表面另一侧固定安装有第二防尘网。在实现本方案的过程中发现现有技术中存在如下问题,没有得到良好的解决:该装置在使用时需要将电子元件放入测试机箱内部进行测试,当电子元件测试结束后需要将测试机箱打开才能够对电子元件进行拿取,此时测试机箱内的热量容易快速消散,从而容易造成热量的浪费。


技术实现思路

1、本部分的目的在于概述本实用新型的实施例的一些方面以及简要介绍一些较佳实施例。在本部分以及本技术的说明书摘要和实用新型名称中可能会做些简化或省略以避免使本部分、说明书摘要和实用新型名称的目的模糊,而这种简化或省略不能用于限制本实用新型的范围。

2、鉴于上述或现有技术中存在部分装置在使用时需要将电子元件放入测试机箱内部进行测试,当电子元件测试结束后需要将测试机箱打开才能够对电子元件进行拿取,此时测试机箱内的热量容易快速消散,从而容易造成热量浪费的问题,提出了本实用新型。

3、因此,本实用新型的目的是提供一种电子元件耐高温测试机箱。

4、为解决上述技术问题,本实用新型提供如下技术方案:一种电子元件耐高温测试机箱包括

5、保温机构,其包括测试箱、通口、装配槽、密封板、齿轮杆件与支撑件,所述通口开设在测试箱的外侧,所述装配槽开设在通口内壁的上侧,所述密封板活动插接在装配槽的内壁,所述齿轮杆件转动插接在装配槽的内壁,所述密封板螺纹套接在齿轮杆件的外壁,所述支撑件固定连接在测试箱内壁的底部;

6、承载机构,其包括第一齿板件、承载板、夹持组件与第二齿板件,所述第一齿板件活动插接在通口的内壁,所述第一齿板件的底面与支撑件的上端滑动抵接,所述第一齿板件与齿轮杆件啮合,所述承载板固定连接在第一齿板件的顶部,所述夹持组件设置在承载板的内侧,所述第二齿板件固定连接在测试箱内壁的底部,所述第二齿板件与夹持组件啮合。

7、基于上述技术特征:首先拉动第一齿板件移动带动齿轮杆件旋转并促使密封板上移,从而促使通口打开,进而便于操作员将承载板移动至测试箱外侧,随之齿轮杆件继续旋转并促使密封板下移并对通口进行封堵,从而便于减少测试箱内热量不断流失的可能。

8、作为本实用新型电子元件耐高温测试机箱的一种优选方案,其中:所述测试箱包括箱体、电加热设备与散热风机,所述电加热设备设置在箱体的内部,所述散热风机设置在箱体的顶部。

9、基于上述技术特征:通过电加热设备便于对测试箱进行加热,从而便于增加测试箱内部的温度,当测试箱内部温度过高时通过散热风机便于将测试箱内的热气排放出去。

10、作为本实用新型电子元件耐高温测试机箱的一种优选方案,其中:所述齿轮杆件包括往复丝杆与第一齿轮盘,所述第一齿轮盘固定套接在往复丝杆外壁的下端,所述往复丝杆的一端与装配槽内壁的底部转动插接,所述往复丝杆的另一端与密封板螺纹插接。

11、基于上述技术特征:通过第一齿轮盘便于带动往复丝杆旋转,通过往复丝杆旋转便于控制密封板上下移动。

12、作为本实用新型电子元件耐高温测试机箱的一种优选方案,其中:所述支撑件包括横板与若干个圆柱,所述横板固定连接在测试箱内壁的底部,若干个所述圆柱等距离呈直线分布在横板的顶部,所述圆柱上端的棱做圆角处理。

13、基于上述技术特征:通过横板与若干个圆柱配合便于对第一齿板件进行限位,从而便于增加第一齿板件与承载板移动时的稳定性。

14、作为本实用新型电子元件耐高温测试机箱的一种优选方案,其中:所述第一齿板件包括两个活动板、拉板与四个第一齿条,两个所述活动板的一端通过拉板相连接,四个所述第一齿条分别设置在两个活动板相背一侧的两端,所述第一齿条与第一齿轮盘啮合,所述活动板的底部开设有竖槽,所述圆柱与竖槽的内壁滑动连接。

15、基于上述技术特征:通过竖槽与圆柱配合便于增加承载板移动时的稳定性,通过拉板便于同时拉动两个活动板移动,通过靠近通口一侧第一齿条便于带动第一齿轮盘与往复丝杆旋转,从而促使密封板上移并促使通口打开。

16、作为本实用新型电子元件耐高温测试机箱的一种优选方案,其中:所述承载板的顶面开设有放置槽,所述承载板与两个活动板的顶部固定连接。

17、基于上述技术特征:通过放置槽便于对电子元件进行放置,通过将承载板推送至测试箱内便于对电子元件的耐高温性能进行测试。

18、作为本实用新型电子元件耐高温测试机箱的一种优选方案,其中:所述夹持组件包括滑槽、双螺纹杆、两个夹板与第二齿轮盘,所述滑槽开设在承载板内壁的底部,所述双螺纹杆转动插接在滑槽的内壁,两个所述夹板分别螺纹套接在双螺纹杆外壁的两端,所述第二齿轮盘固定套接在双螺纹杆的外壁。

19、基于上述技术特征:通过滑槽便于对双螺纹杆、两个夹板与第二齿轮盘进行装配,当操作员承载板推送至测试箱内部时通过第二齿板件便于带动第二齿轮盘与双螺纹杆旋转,从而促使两个夹板同时移动并对电子元件进行夹持。

20、作为本实用新型电子元件耐高温测试机箱的一种优选方案,其中:所述双螺纹杆两端的螺纹方向相反,所述夹板的相对一侧开设有防滑纹路。

21、基于上述技术特征:通过双螺纹杆旋转促使两个夹板反向移动,当两个夹板同时向内侧移动时便于对电子元件进行夹持。

22、作为本实用新型电子元件耐高温测试机箱的一种优选方案,其中:所述第二齿板件包括两个立柱与第二齿条,两个所述立柱固定连接在测试箱内壁的底部,所述第二齿条固定连接在两个立柱的顶部,所述第二齿条与第二齿轮盘啮合。

23、基于上述技术特征:通过两个立柱便于对第二齿条进行支撑,当操作员承载板推送至测试箱内部时通过第二齿条便于带动第二齿轮盘与双螺纹杆旋转。

24、本实用新型的电子元件耐高温测试机箱有益效果:本实用新型首先拉动第一齿板件移动带动齿轮杆件旋转并促使密封板上移,从而促使通口打开,进而便于操作员将承载板移动至测试箱外侧,随之齿轮杆件继续旋转并促使密封板下移并对通口进行封堵,从而便于减少测试箱内热量不断流失的可能,进而便于减少热量的浪费。

25、鉴于在实际使用过程中,还存在部分装置难以实时对装置内的温度进行检测与调节的问题。

26、为解决上述技术问题,本实用新型还提供如下技术方案:一种测试系统包括测试机构,其包括温度传感器、处理器、触摸屏与控制器,所述温度传感器设置在测试箱内部,所述温度传感器的信号输出端与处理器的信号输入端通过数据线相连接,所述处理器的信号输出端与触摸屏的信号输入端通过数据线相连接,所述触摸屏的信号输出端与控制器的信号输入端通过数据线相连接,所述控制器的信号输出端与电加热设备、散热风机的信号输入端通过数据线相连接。

27、基于上述技术特征:通过温度传感器便于对测试箱内的温度进行检测并将检测数据通过处理器传输至触摸屏内,通过触摸屏与控制器配合便于操作员对电加热设备与散热风机进行控制。

28、本实用新型的测试系统的有益效果:本实用新型通过温度传感器便于对测试箱内的温度进行检测并将检测数据通过处理器传输至触摸屏内,通过触摸屏与控制器配合便于操作员对电加热设备与散热风机进行控制,从而便于控制测试箱内部的温度,进而便于对电子元件的耐高温性能进行检测。

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