一种光学元器件厚度测量装置的制作方法

本技术主要涉及光学元器件厚度测量的，具体为一种光学元器件厚度测量装置。

背景技术：

1、光学元件是光学系统的基本组成单元，也叫光学零件，光学元件是指用于处理光学信号的元件，可以分为三类：透镜、棱镜、反射镜。光学元件的作用是将光线进行聚焦、分离、反射、折射等，用于光学仪器和光学系统中的成像、传输、检测等各个环节，光学元件在许多领域都有广泛的应用，如光学成像、光学通信、激光器、太阳能电池板、医学等。在物理学和工程学中，光学元件是非常重要的研究对象，并且其技术也在不断地发展和进步，日常光学元器件厚度，需要测量装置进行测量，这就需要一种光学元器件厚度测量装置来对光学元器件进行厚度测量工作。

2、经检索，如公告号为cn217005622u的实用新型专利公开了一种光学元器件厚度的测量装置，包括测量箱、测量机构和夹紧机构，测量箱的两侧内壁上固定连接有有隔板，隔板的顶部固定连接有放置板，测量机构位于测量箱的内部，测量机构包括转动杆和齿轮，测量箱的两侧内壁转动安装有转动杆，转动杆的外壁上固定套设有齿轮，夹紧机构包括电动推杆、连杆和铰接壁，测量箱的内侧底部固定连接有电动推杆，电动推杆的自由端固定连接有矩形块，矩形块的两侧均各固定连接有连杆，连杆的一端铰接安装有铰接壁；该专利能够对光学元器件进行更好的夹紧，还能够对光学元器件进行精准的测量。

3、上述专利技术方案中，通过电动推杆、连杆、铰接壁和圆垫的配合使用，能够对光学元器件进行更好的夹紧，避免对光学元器件的夹紧效果较差导致光学元器件的滑动，影响了测量的效果，通过转动杆、齿轮、齿板和刻度尺的配合使用，能够对光学元器件进行精准的测量，使得测量的数据更加的准确。但是，上述专利技术方案使用时仍存在以下不足之处：

4、1.上述专利技术方案使用时，通过电动推杆拉动连杆，从而使铰接壁和圆垫配合将光学元器件夹紧。但是，上述专利技术方案在使用过程中，由于光学元器件放置在测量箱内部设置的放置板上，这就导致铰接壁和圆垫夹紧光学元器件的力度无法进行掌控，在夹紧时容易将光学元器件压坏，导致光学元器件损坏，出现损失，降低测量装置的测量稳定性。

5、2.上述专利技术方案使用时，通过转动杆、齿轮、齿板和刻度尺的配合使用对光学元器件进行精准的测量。但是，上述专利技术方案在使用过程中，仅通过肉眼观察刻度尺的刻度，并不能够精准测量出光学元器件的厚度，测量结果存在误差，测量结果不够可靠。

6、因此，我们提供一种光学元器件厚度测量装置来解决上述技术方案中存在的缺陷。

技术实现思路

1、本实用新型主要提供了一种光学元器件厚度测量装置，用以解决上述背景技术中提出的技术问题。

2、本实用新型解决上述技术问题采用的技术方案为：

3、一种光学元器件厚度测量装置，包括测量箱，所述测量箱顶部固定连接有驱动气缸，所述测量箱前端通过合页转动连接有柜门，所述测量箱前端且位于柜门上方固定连接有主控制器，所述主控制器前端固定连接有显示屏，所述测量箱左右两侧内壁均固定连接有限位板，所述限位板相对一侧开设有限位竖槽，所述限位板之间设有测量机构，所述测量箱内部底端的左右两侧均开设有底部滑槽，所述测量箱内部底端设有夹持结构。

4、进一步的，所述测量机构包括设置于测量箱内部的测量筒，所述测量筒左右两侧顶部均固定连接有限位杆，所述限位杆底部且远离测量筒一侧固定连接有立杆，所述立杆底部固定连接有接触传感器二，所述测量筒左右两侧内壁均开设有导向滑槽，所述测量筒内部顶端固定连接有直线位移传感器，所述测量筒内部底端设有活动板一，所述活动板一左右两侧均固定连接有限位滑块，所述活动板一底部固定连接有测量杆，所述测量杆底部固定连接有测量块，所述测量块底部固定连接有接触传感器一。

5、进一步的，所述测量筒顶部与驱动气缸输出端固定连接，所述测量筒通过左右两侧顶部设置的限位杆与限位板相对一侧开设的限位竖槽滑动连接，且所述接触传感器二的位置与接触传感器一的位置处于同一水平线上。

6、进一步的，所述测量杆与测量筒之间滑动连接，所述活动板一顶部与直线位移传感器输出端底部相贴合，所述活动板一通过左右两侧设置的限位滑块与测量筒左右两侧内壁开设的导向滑槽滑动连接。

7、进一步的，所述直线位移传感器、接触传感器一和接触传感器二均与主控制器电性连接。

8、进一步的，所述夹持结构包括滑动连接于测量箱内部底端的活动板二，所述活动板二底部左右两侧均固定连接有滑杆，所述活动板二前端固定连接有手拉杆，所述活动板二顶部左右两侧固定连接有两个对称设置的倒l型支架，所述倒l型支架水平部的底端固定连接有电动推杆，所述电动推杆输出端固定连接有压紧盒，所述压紧盒左右两侧内壁均开设有竖向滑槽，所述压紧盒内部顶端固定连接有压力传感器，所述压力传感器底部固定连接有缓冲弹簧，所述缓冲弹簧底部固定连接有活动块，所述活动块底部固定连接有压紧块，所述压紧块底部固定连接有橡胶垫，所述活动块左右两侧顶部均固定连接有导向滑块。

9、进一步的，所述活动块与压紧盒之间滑动连接，所述活动块通过左右两侧顶部设置的导向滑块与压紧盒左右两侧内壁开设的竖向滑槽滑动连接，且所述缓冲弹簧内部设有阻尼器。

10、进一步的，所述活动板二通过底部左右两侧设置的滑杆与测量箱内部底端两侧开设的底部滑槽滑动连接，所述压力传感器与主控制器电性连接。

11、进一步的，所述测量箱底部固定连接有支撑台，所述支撑台底部四个拐角处均固定连接有支腿。

12、与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：

13、1.本实用新型通过设置的夹持结构，测量人员打开柜门，然后通过手拉杆将活动板二拉出后，将待测量光学元器件放置在活动板二上，再将活动板二推回原位并关闭柜门，通过主控制器启动电动推杆推动压紧盒下移，当橡胶垫与光学元器件顶部贴合产生反作用力时，此时缓冲弹簧收缩并将作用力作用在压力传感器上，压力传感器受到压力发出信号传递给主控制器，此时主控制器关闭电动推杆，从而完成光学元器件的夹紧，使得该光学元器件厚度测量装置使用时，能够对光学元器件进行夹持，防止光学元器件测量时发生偏移现象，同时，能够把控夹持力度，防止光学元器件损坏，提高测量装置的测量稳定性。

14、2.本实用新型通过设置的测量机构，当光学元器件夹持完毕后，主控制器启动驱动气缸推动测量筒下移，测量筒通过限位杆与限位竖槽滑动连接，可以对测量筒的下移方向进行限位，防止出现偏移现象，当接触传感器接触到光学元器件顶部时，将接触信号传递给主控制器，此时主控制器控制直线位移传感器启动，然后在驱动气缸的作用下继续推动测量筒下移，直至立杆底部设置的接触传感器二与活动板二顶部接触，此时接触传感器二将接触信号传递给主控制器，主控制器关闭驱动气缸，并读取直线位移传感器的滑片滑动长度，从而测量出光学元器件的厚度并将数据显示在显示屏上，供测量人员读取，使得该光学元器件厚度测量装置使用时，能够精准测量出光学元器件的厚度，测量结果无误差，提高测量结果的可靠性。