一种运行振型的确定方法、装置和电子设备与流程

文档序号:37550281发布日期:2024-04-08 13:58阅读:8来源:国知局
一种运行振型的确定方法、装置和电子设备与流程

本申请涉及结构动力学,尤其涉及一种运行振型的确定方法、装置和电子设备。


背景技术:

1、运行振型分析是对旋转机械等机器在运行状态下全域振动的显示,可用于分析确定结构在特定运行工况下的振动模式,观察结构运行工况下的振型,了解结构上振动最大点和薄弱环节,进而帮助开展设备故障诊断和治理,运行振型分析技术具有振型显示直观等方面的优点,在机械故障诊断、振源识别和模态分析等领域有着广泛应用。

2、相关技术中,通常在待检测设备上布置一定数量的振动测点,通过线性或样条等插值等方法,对待检测设备运行振型进行分析,然而,上述方法,对振动测点数的要求比较高,当设置的振动测点数量少时误差比较大,因此,如何降低运行振型确定过程中的振动测点,并保证待检测设备运行振型的精度,已成为亟待解决的问题。


技术实现思路

1、本申请的目的旨在至少在一定程度上解决上述技术中的技术问题之一。

2、本申请第一方面提供了一种运行振型的确定方法,包括:获取待检测设备的模态振型和模态频率;根据所述模态频率,从所述模态振型中选取所述待检测设备的目标模态振型;根据所述目标模态振型,确定所述待检测设备上的待检测点与振动测点之间的加权插值系数矩阵;根据所述加权插值系数矩阵,确定所述待检测点的振动值,通过所述振动值,确定所述待检测设备的运行振型。

3、本申请第二方面提供了一种运行振型的确定装置,包括:获取模块,用于获取待检测设备的模态振型和模态频率;选取模块,用于根据所述模态频率,从所述模态振型中选取所述待检测设备的目标模态振型;第一确定模块,用于根据所述目标模态振型,确定所述待检测设备上的待检测点与振动测点之间的加权插值系数矩阵;第二确定模块,用于根据所述加权插值系数矩阵,确定所述待检测点的振动值,通过所述振动值,确定所述待检测设备的运行振型。

4、本申请第三方面实施例提供了一种电子设备,包括:至少一个处理器;以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行本申请第一方面提供的运行振型的确定方法。

5、本申请第四方面实施例提供了一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质,所述计算机指令用于使所述计算机执行本申请第一方面提供的运行振型的确定方法。

6、本申请第五方面实施例提供了一种计算机程序产品,当所述计算机程序产品中的指令处理器执行时,执行本申请第一方面提供的运行振型的确定方法。

7、本申请提供的运行振型的确定方法及装置,通过获取待检测设备的模态振型和模态频率,根据模态频率,从模态振型中选取待检测设备的目标模态振型,根据目标模态振型,确定待检测设备上的待检测点与振动测点之间的加权插值系数矩阵,根据加权插值系数矩阵,确定待检测点的振动值,通过振动值,确定待检测设备的运行振型,本申请通过布置少量的振动测点,即可实现获取待检测设备的运行振型,同时,提高了获取待检测设备的运行振型的精度。

8、本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本申请的实践了解到。



技术特征:

1.一种运行振型的确定方法,其特征在于,所述方法,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法,还包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取待检测设备的模态振型和模态频率,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述模态频率,从所述模态振型中选取所述待检测设备的目标模态振型,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述工作频率和所述模态频率,从所述模态振型中选取所述待检测设备的目标模态振型,包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标模态振型,确定所述待检测设备上的待检测点与振动测点之间的加权插值系数矩阵,包括:

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述根据所述加权插值系数矩阵,确定所述待检测点的振动值,包括:

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述通过所述振动值,确定所述待检测设备的运行振型,包括:

9.一种运行振型的确定装置,其特征在于,所述装置,包括:

10.一种电子设备,其特征在于,包括处理器和存储器;


技术总结
本申请提供了一种运行振型的确定方法、装置和电子设备,方法包括:获取待检测设备的模态振型和模态频率;根据所述模态频率,从所述模态振型中选取所述待检测设备的目标模态振型;根据所述目标模态振型,确定所述待检测设备上的待检测点与振动测点之间的加权插值系数矩阵;根据所述加权插值系数矩阵,确定所述待检测点的振动值,通过所述振动值,确定所述待检测设备的运行振型,本申请通过布置少量的振动测点,即可实现获取待检测设备的运行振型,同时,提高了获取待检测设备的运行振型的精度。

技术研发人员:张恒,胡启龙,张卫军,赵博,王丹,卫大为,李会洲,韩传高,董雷,马晓珑,王博远,陈旭东
受保护的技术使用者:西安热工研究院有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/4/7
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