ESD事件检测方法与流程

本申请涉及计算机，尤其涉及一种esd事件检测方法。

背景技术：

1、静电放电（英文简称：esd）是一种突发性的、破坏性的电子事件，可能导致电子设备损坏，在电子设备的使用过程中对其进行静电检测是很有必要的，目前，通常在电子设备中设计检测电路来检测电子设备是否发生了静电放电，但是，这种方法会增加电子设备的制造成本，因此，需要一种esd事件检测方法来降低电子设备的制造成本。

技术实现思路

1、本申请提供一种esd事件检测方法，以解决现有的esd事件检测方法造成的电子设备的制造成本高的问题。

2、本申请提供的esd事件检测方法，包括：

3、主机生成第一寄存器指令，并基于预设的循环冗余算法对所述第一寄存器指令进行处理，得到第一预设crc值；

4、所述主机将所述第一寄存器指令和所述第一预设crc值发送至目标寄存器；

5、所述目标寄存器接收所述第一寄存器指令和所述第一预设crc值，并基于预设的循环冗余算法对所述第一寄存器指令进行处理，得到第一校验crc值；

6、所述目标寄存器和所述主机基于所述第一预设crc值和所述第一校验crc值判断是否发生了esd事件。

7、在一种可能的实现方式中，所述目标寄存器和所述主机基于所述第一预设crc值和所述第一校验crc值判断是否发生了esd事件，包括：

8、所述目标寄存器判断所述第一预设crc值和所述第一校验crc值是否一致；

9、若所述第一预设crc值和所述第一校验crc值不一致，所述主机和所述目标寄存器均启动esd防范机制；

10、所述目标寄存器向所述主机发送报错信息；

11、所述主机接收所述报错信息，并生成第二寄存器指令，及基于预设的循环冗余算法对所述第二寄存器指令进行处理，得到第二预设crc值；

12、所述主机将所述第二寄存器指令和所述第二预设crc值发送至所述目标寄存器；

13、所述目标寄存器基于所述第二寄存器指令和所述第二预设crc值判断是否发生了esd事件。

14、在一种可能的实现方式中，所述目标寄存器基于所述第二寄存器指令和所述第二预设crc值判断是否发生了esd事件，包括：

15、基于预设的循环冗余算法对所述第二寄存器指令进行处理，得到第二校验crc值；

16、判断所述第二预设crc值和所述第二校验crc值是否一致；

17、若所述第二预设crc值和所述第二校验crc值一致，则发生了esd事件。

18、在一种可能的实现方式中，所述预设的循环冗余算法包括多个，所述主机基于预设的循环冗余算法对所述第一寄存器指令进行处理，得到第一预设crc值，包括：

19、计算所述第一寄存器指令的比特值，并基于所述比特值在多个所述预设的循环冗余算法中选择与所述第一寄存器指令匹配的循环冗余算法；

20、基于与所述第一寄存器指令匹配的循环冗余算法对所述第一寄存器指令进行处理，得到所述第一预设crc值。

21、在一种可能的实现方式中，所述主机基于预设的循环冗余算法对所述第一寄存器指令进行处理，得到第一预设crc值，包括：

22、计算所述第一寄存器指令的比特值，并基于所述比特值获取与所述第一寄存器匹配的循环冗余算法的修正系数；

23、利用所述修正系数对所述预设的循环冗余算法进行修正，得到目标循环冗余算法；

24、基于所述目标循环冗余算法，根据所述第一寄存器指令生成所述第一预设crc值。

25、本申请提供了esd事件检测方法，包括：主机生成第一寄存器指令，并基于预设的循环冗余算法对所述第一寄存器指令进行处理，得到第一预设crc值；所述主机将所述第一寄存器指令和所述第一预设crc值发送至目标寄存器；所述目标寄存器接收所述第一寄存器指令和所述第一预设crc值，并基于预设的循环冗余算法对所述第一寄存器指令进行处理，得到第一校验crc值；所述目标寄存器和所述主机基于所述第一预设crc值和所述第一校验crc值判断是否发生了esd事件。采用本申请提供的方法，在电子设备中不设计检测电路也能够对esd事件进行检测，从而降低了电子设备的制造成本。

技术特征：

1.一种esd事件检测方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的esd事件检测方法，其特征在于，所述目标寄存器和所述主机基于所述第一预设crc值和所述第一校验crc值判断是否发生了esd事件，包括：

3.根据权利要求2所述的esd事件检测方法，其特征在于，所述目标寄存器基于所述第二寄存器指令和所述第二预设crc值判断是否发生了esd事件，包括：

4.根据权利要求1所述的esd事件检测方法，其特征在于，所述预设的循环冗余算法包括多个，所述主机基于预设的循环冗余算法对所述第一寄存器指令进行处理，得到第一预设crc值，包括：

5.根据权利要求1所述的esd事件检测方法，其特征在于，所述主机基于预设的循环冗余算法对所述第一寄存器指令进行处理，得到第一预设crc值，包括：

技术总结
本申请涉及计算机技术领域，提供了一种ESD事件检测方法，所述方法包括：主机生成第一寄存器指令，并基于预设的循环冗余算法对所述第一寄存器指令进行处理，得到第一预设CRC值；所述主机将所述第一寄存器指令和所述第一预设CRC值发送至目标寄存器；所述目标寄存器接收所述第一寄存器指令和所述第一预设CRC值，并基于预设的循环冗余算法对所述第一寄存器指令进行处理，得到第一校验CRC值；所述目标寄存器和所述主机基于所述第一预设CRC值和所述第一校验CRC值判断是否发生了ESD事件。采用该方法，在电子设备中不设计检测电路也能够对ESD事件进行检测，从而降低了电子设备的制造成本。

技术研发人员：陈廷仰,廖志洋,谢玉轩,劉建杰,吳旻興
受保护的技术使用者：禹创半导体（深圳）有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/3/17