一种用于卷材测宽和中心点偏差的扫描式测量方法与流程

本发明涉及扫描式测量领域，特别涉及一种用于卷材测宽和中心点偏差的扫描式测量方法。

背景技术：

1、目前，卷料生产加工的过程中，为了监控和改善卷料的质量，在卷料生产加工的收放卷平台上，通常会考虑卷料在收卷时的材料宽度和与辊芯之间的中心偏差，从而判断当前卷料裁切的宽度和中心是否异常，如果出现异常需要对卷料的裁切宽度和中心进行调整，从而保证产品的质量，现有的测量方法一般是采用光栅位移传感器测量。

2、然而，光栅位移传感器覆盖面积比较固定，在卷材规格变化时不能够及时准确的覆盖卷料测量范围，从而使得中心点偏差变大。

3、因此，本发明提供了一种用于卷材测宽和中心点偏差的扫描式测量方法。

技术实现思路

1、本发明提供了一种用于卷材测宽和中心点偏差的扫描式测量方法，用以通过采用位移传感器和测量图像两种方式来对卷材的边界值进行获取，从而得到精准的卷材边界，可以使得对卷材的测宽及中心点偏差的测量更加精确。

2、本发明提供了一种用于卷材测宽和中心点偏差的扫描式测量方法，包括：

3、基于预设光栅位移传感器获取被测卷材的卷材基础测量数据，并筛选得到卷材第一边界值；

4、步骤2：基于获取到的基础测量数据结合被测卷材的测量精度确定实时测量方案；

5、步骤3：基于实时测量方案对被测卷材的卷材第一测量图像进行图像获取，并根据图像获取结果得到卷材第二边界值；

6、步骤4：基于卷材第一边界值与卷材第二边界值得到被测卷材的精准卷材边界，并基于对应算法得到被测卷材的测宽及中心点偏差，从而实现对被测卷材的精准测量。

7、在一种可能实现的方式中，基于预设光栅位移传感器获取被测卷材的卷材基础测量数据，并筛选得到卷材第一边界值，包括：

8、步骤11：基于预设光栅位移传感器获取被测卷材的卷材测量数据，并对获取到的卷材测量数据进行数据筛选，得到基础测量数据；

9、步骤12：将当前被测卷材的基础测量数据进行数据转化及数据整合，得到当前卷材的第一边界值；

10、其中，第一边界值是指当前被测卷材各方向的边界值集合。

11、在一种可能实现的方式中，基于获取到的基础测量数据结合被测卷材的测量精度确定实时测量方案，包括：

12、步骤21：基于被测卷材的功能需求确定被测卷材的测量精度，并基于所述测量精度及对应基础测量数据得到被测卷材的测量依据；

13、步骤22：基于所述测量依据从测量-方案数据库中筛选与被测卷材的测量依据吻合度最高的测量方案作为被测卷材的实时测量方案。

14、在一种可能实现的方式中，基于实时测量方案对被测卷材的卷材第一测量图像进行图像获取，并根据图像获取结果得到卷材第二边界值，包括：

15、步骤31：基于实时测量方案实时规划被测卷材的边界获取路径；

16、步骤32：实时获取被测卷材的卷材不同方位的测量图像，并将所述测量图像按照相邻方位进行排序，基于排序结果及对应测量坐标进行综合处理，得到被测卷材的三维测量基础图像；

17、步骤33：基于被测卷材的测量精确度从拟合数据库中筛选与当前三维测量基础图像匹配程度最高的图像拟合方法；

18、步骤34：根据所述图像拟合方法对三维测量基础图像进行图像拟合，基于拟合结果得到被测卷材的三维测量图像；

19、其中，三维测量图像即为被测卷材的第一测量图像；

20、步骤35：基于边界获取路径从不同预设角度对三维测量图像进行图像扫描，得到若干边界扫描结果；

21、步骤36：选取任一边界扫描结果作为第一基准扫描结果，并将剩余边界扫描结果作为调整扫描结果，并基于调整扫描结果对基准扫描结果进行调整，得到第一边界扫描结果；

22、步骤37：选取任一除第一基准扫描结果的边界扫描结果作为第二基准扫描结果，并将剩余边界扫描结果作为第二调整扫描结果，并基于第二调整扫描结果对第二基准扫描结果进行调整，得到第二边界扫描结果；

23、步骤38：将第一边界扫描结果与第二边界扫描结果进行比较，若比较结果小于预设差异结果，则将第一边界扫描结果作为初始扫描结果；

24、步骤39：将被测卷材的卷材基础测量数据与三维测量图像结合确定被测卷材在卷材形状发生变化的每一边界的边界点位置；

25、其中，卷材形状发生变化的每一边界的边界点位置即为核心边界点位置；

26、步骤310：判断被测卷材的核心边界点位置是否处于初始边界扫描结果的对应位置；

27、若核心边界点位置处于初始边界扫描结果的对应位置，则将当前边界扫描结果作为第二精确边界扫描结果；

28、反之，则将三维测量基础图像进行重新拟合，从而得到新的三维测量图像，进而得到第二精确边界扫描结果；

29、步骤311：获取被测卷材第一边界值中每一子边界值对应卷材点，并基于第二精确边界扫描结果对应卷材点得到卷材第二边界值。

30、在一种可能实现的方式中，将三维测量基础图像进行重新拟合，从而得到新的三维测量图像，进而得到第二精确边界扫描结果，包括：

31、若核心边界点位置不处于初始边界扫描结果的对应位置，则基于被测卷材的测量精确度从拟合数据库中筛选与当前三维测量基础图像匹配程度次高的图像拟合方法对三维测量基础图像进行第二拟合，得到第二三维测量图像；

32、基于第二三维测量图像对三维测量图像进行微调整，得到三维调整测量图像；

33、将三维调整测量图像进行扫描得到初始边界扫描结果，并基于对应核心边界点位置进行再次判断，得到第二精确边界扫描结果。

34、在一种可能实现的方式中，基于卷材第一边界值与卷材第二边界值得到被测卷材的精准卷材边界，并基于对应算法得到被测卷材的测宽及中心点偏差，从而实现对被测卷材的精准测量，包括：

35、步骤41：基于卷材第一边界值与卷材第二边界值及每一边界值对应影响权重，加权确定被测卷材的精准卷材边界；

36、步骤42：基于精准卷材边界及被测卷材的位置信息得到被测卷材的中心点偏差计算算法及测宽计算算法；

37、步骤43：基于对应算法得到被测卷材的测宽及中心点偏差，从而实现对被测卷材的精准测量。

38、在一种可能实现的方式中，基于卷材第一边界值与卷材第二边界值及每一边界值对应影响权重，加权确定被测卷材的精准卷材边界，包括：

39、基于被测卷材的测量需求确定第一边界值及第二边界值对应的影响权重；

40、若被测卷材的测量需求中精确度要求低于预设测量精确度，则第一边界值对应的影响权重为1；

41、反之，则基于被测卷材的测量精确度对第一边界值及第二边界值进行加权平均，得到被测卷材的精准卷材边界。

42、在一种可能实现的方式中，实现对被测卷材的精准测量之后，还包括：与若干历史测量结果进行整理，得到当前测量方法的综合测量精确度，具体包括：

43、步骤01：获取当前被测卷材的精准测量结果，并获取测量系统中当前测量方法的若干历史精准测量结果；

44、步骤02：基于当前被测卷材的精准测量结果与对应被测卷材的标准结果进行比较，得到被测卷材在当前测量结果的第一测量精确度；

45、步骤03：基于每一历史精准测量结果与对应被测卷材的历史标准结果进行比较，确定基于当前测量方法的第一历史测量精确度；

46、步骤04：基于所有历史精准测量结果的第一历史测量精确度平均确定得到历史测量精确度；

47、步骤05：将历史测量精确度与当前被测卷材的第一测量精确度综合确定当前测量方法的综合测量精确度。

48、与现有技术相比，本技术的有益效果如下：

49、通过采用位移传感器和测量图像两种方式来对卷材的边界值进行获取，从而得到精准的卷材边界，可以使得对卷材的测宽及中心点偏差的测量更加精确。

50、本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

51、下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。