一种分光片镀膜的检测方法及装置与流程

本发明涉及对分光片镀膜进行检测的，具体来说，涉及一种分光片镀膜的检测方法及装置。

背景技术：

1、分光片又叫分光镜，是光学干涉仪中间的重要零件，在激光设备和光纤通讯系统等领域得以广泛的应用，其特性是一个可以将一束光分成两束（或多束）光的光学装置，分裂之后的各条光束的性质与光源完全相同（在采用偏振原理分束时性质部分相同），各条光束的光强度总和等于光源光强度（忽略分束过程中各种损失量）。在分光片大量应用于机器视觉光源产品，如同轴光中，有些不合格的分光片会造成同轴光产品应用到光学采集系统时，光学系统采集的图像有重影的问题，而人眼无法直观的检测分光片，目前市场上分光片镀膜的常见的检测设备有美国珀金埃尔默lambad750s紫外/可见/近红外分光光度计，但是价格昂贵，从几十万到上百万不等，因此急需一种结构简单、成本较低的方法或装置对分光片镀膜进行检测。

技术实现思路

1、针对相关技术中的上述技术问题，本发明提供一种分光片镀膜的检测方法及装置，能够解决上述问题。

2、为实现上述技术目的，本发明的技术方案是这样实现的：

3、一种分光片镀膜的检测方法，包括如下步骤：

4、s1、根据不同的应用场景选择合适波段的光源，并将所述光源置入一个可屏蔽掉杂光的第一支架中；

5、s2、所述光源发出的光线经所述第一支架一角的开口射出并照射到实验物体上，所述实验物体上反射的光线经过倾斜设置的待测分光片最终被相机采集，从而使得所述相机采集到实验物体图像；

6、s2-1、设置所述相机的曝光时间t1,使所述实验物体不处于过曝光的状态，获取此时所述相机采集到的实验物体图像的灰度值g1；

7、s2-2、设置所述相机的曝光时间t2,使所述实验物体处于过曝光的状态，获取此时所述相机采集到的实验物体图像的灰度值g2；

8、s3、通过pc机计算重影比c,其中c=（g2/g1）/（t2/t1），根据重影比c分析分光片镀膜特性。

9、进一步的，所述实验物体为白色纸片，所述相机采集到的实验物体图像的背景为全黑。

10、进一步的，所述pc机根据不同的应用场景控制并选择合适波段的光源，通过所述pc机控制所述相机设置曝光时间。

11、进一步的，当所述实验物体处于过曝光的状态时，所述相机采集到的实验物体图像会产生重影。

12、一种分光片镀膜的检测装置，包括光源，所述光源设置于一个可屏蔽掉杂光的第一支架中，所述第一支架的一角设有一个开口，所述开口外侧设有一个实验物体，所述光源发射的光线穿过所述开口照射到所述实验物体上并进行反射，经所述实验物体反射的光线的光路上依次设有待测分光片、相机，所述光源、所述相机均电连接pc机。

13、进一步的，所述第一支架中设有若干不同波段的光源。

14、进一步的，所述实验物体为白色纸片，所述实验物体的背光侧设有第二支架，所述第二支架上设有吸光材料层。

15、进一步的，所述第二支架上设有电动支座，所述实验物体粘结于所述电动支座上的可调节座板上，所述电动支座的外表面涂设有吸光材料，所述电动支座电连接所述pc机。

16、本发明的有益效果：本发明结构简单，检测结果准确，能够以较低的成本提高机器视觉光学分光片的生产质量和检测效率。

技术特征：

1.一种分光片镀膜的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种分光片镀膜的检测方法，其特征在于，所述实验物体（3）为白色纸片，所述相机（5）采集到的实验物体图像的背景为全黑。

3.根据权利要求1所述的一种分光片镀膜的检测方法，其特征在于，所述pc机根据不同的应用场景控制并选择合适波段的光源（1），通过所述pc机控制所述相机（5）设置曝光时间。

4.根据权利要求1所述的一种分光片镀膜的检测方法，其特征在于，当所述实验物体（3）处于过曝光的状态时，所述相机（5）采集到的实验物体图像会产生重影。

5.一种分光片镀膜的检测装置，其特征在于，包括光源（1），所述光源（1）设置于一个可屏蔽掉杂光的第一支架（2）中，所述第一支架（2）的一角设有一个开口，所述开口外侧设有一个实验物体（3），所述光源（1）发射的光线穿过所述开口照射到所述实验物体（3）上并进行反射，经所述实验物体（3）反射的光线的光路上依次设有待测分光片（4）、相机（5），所述光源（1）、所述相机（5）均电连接pc机。

6.根据权利要求5所述的一种分光片镀膜的检测装置，其特征在于，所述第一支架（2）中设有若干不同波段的光源。

7.根据权利要求5所述的一种分光片镀膜的检测装置，其特征在于，所述实验物体（3）为白色纸片，所述实验物体（3）的背光侧设有第二支架（6），所述第二支架（6）上设有吸光材料层（7）。

8.根据权利要求7所述的一种分光片镀膜的检测装置，其特征在于，所述第二支架（6）上设有电动支座（13），所述实验物体（3）粘结于所述电动支座（13）上的可调节座板上，所述电动支座（13）的外表面涂设有吸光材料，所述电动支座（13）电连接所述pc机。

技术总结
本发明公开了一种分光片镀膜的检测方法及装置，该装置包括相机、待测分光片、不同波段的光源、PC机、实验物体、两个支架，其共同组成一个光学成像系统，检测方法包括如下步骤：S1、根据不同的应用场景选择合适波段的光源，并将所述光源置入一个可屏蔽掉杂光的第一支架中；S2、所述光源发出的光线经所述第一支架一角的开口射出并照射到实验物体上，所述实验物体上反射的光线经过倾斜设置的待测分光片最终被相机采集，从而使得所述相机采集到实验物体图像；S3、通过PC机计算重影比C,其中，根据重影比C分析分光片镀膜特性。本发明结构简单，检测结果准确，能够以较低的成本提高机器视觉光学分光片的生产质量和检测效率。

技术研发人员：李国英,王彭,张劭玮
受保护的技术使用者：北京博兴远志科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/4/29