一种RFID芯片剪切力测试仪的制作方法

本技术涉及芯片检测，特别是一种rfid芯片剪切力测试仪。

背景技术：

1、在实际的使用中，rfid芯片会受到多重应力的考验，因此，在对rfid芯片生产完成后，芯片上元件的剪切力（剥离强度）是需要检测的重要性能之一。因此，就需要用到芯片剪切力测试仪。

2、在中国专利公告号cn211652392u中公开的rfid芯片剪切力测试仪，包括安装台，安装台的上表面设置有工件放置工位，位于工件放置工位两相对侧分别设置有显微镜和推力测试仪；工件放置工位上设置有左定位块、右定位块，以及间距调节组件；右定位块与工件接触位置设置有缓冲胶块。

3、但是，对比现有技术以及对比方案可知，现有的rfid芯片剪切力测试仪，在实际使用的过程中，还存在以下问题：

4、现有技术中，在对等待检测的rfid芯片进行固定时，一般是通过压固或夹固的方式，而rfid芯片本体存在较薄且并非硬性的质地特点（如同纸张或卡片），在对rfid芯片进行固定时，可能会因rfid芯片本体没有撑平而出现褶皱的情况，导致在对rfid芯片进行剪切力检测时，受到rfid芯片本体上褶皱的影响，会导致检测出的剪切力数值出现误差，影响检测的精度。

5、因此，本申请提出一种rfid芯片剪切力测试仪，来解决上述问题。

技术实现思路

1、本实用新型的目的旨在至少解决所述技术缺陷之一。

2、本实用新型的目的在于克服现有技术的缺点，解决背景技术中所提到的问题，提供一种rfid芯片剪切力测试仪。

3、本实用新型的目的通过以下技术方案来实现：一种rfid芯片剪切力测试仪，包括工作台，工作台上设置有移动机构，工作台的一侧设置有千分尺调整块，千分尺调整块的顶部设置有测试机构，工作台的顶部滑动连接有固定机构，工作台的顶部固定安装有显微镜；

4、测试机构包括推力测试仪，推力测试仪上设置有测试杆，测试杆远离推力测试仪的一端螺纹连接有第一调节螺杆，第一调节螺杆的一端设置有第一调节头，第一调节螺杆远离第一调节头的一端转动连接有滑块，滑块的底部设置有测试刀头；

5、固定机构包括连接架，连接架上螺纹连接有第二调节螺杆，第二调节螺杆的一端设置有第二调节头，第二调节螺杆远离第二调节头的一端转动连接有连接座，连接座上铰接有连接杆，连接杆远离连接座的一端铰接有固定块。

6、优选的，工作台包括台体，台体的顶部固定连接有支撑板，台体上固定连接有支撑杆，支撑杆上固定连接有滑杆。

7、优选的，移动机构包括驱动件，驱动件固定安装在工作台的内部，驱动件的输出端设置有传动组件，驱动件通过传动组件传动连接有驱动辊，驱动辊上设置有输送带，驱动辊通过输送带传动连接有从动辊，驱动辊和从动辊均转动连接在台体上。

8、优选的，推力测试仪位于千分尺调整块上。

9、优选的，测试刀头位于输送带的上方。

10、优选的，连接架滑动连接在滑杆上。

11、优选的，支撑板位于输送带的中部。

12、与现有技术相比，本实用新型具有以下优点：

13、该rfid芯片剪切力测试仪，通过设置测试机构和固定机构，在对rfid芯片进行剪切力测试时，对rfid芯片进行固定的同时能够对rfid芯片进行撑平，从而避免在rfid芯片进行固定时因rfid芯片本体没有撑平而出现褶皱的情况，避免rfid芯片上的褶皱影响检测出的剪切力数值，进而确保了检测的精度。

14、该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现。

技术特征：

1.一种rfid芯片剪切力测试仪，其特征在于：包括工作台（1），所述工作台（1）上设置有移动机构（2），所述工作台（1）的一侧设置有千分尺调整块（3），所述千分尺调整块（3）的顶部设置有测试机构（4），所述工作台（1）的顶部滑动连接有固定机构（5），所述工作台（1）的顶部固定安装有显微镜（6）；

2.根据权利要求1所述的一种rfid芯片剪切力测试仪，其特征在于：所述工作台（1）包括台体（101），所述台体（101）的顶部固定连接有支撑板（102），所述台体（101）上固定连接有支撑杆（103），所述支撑杆（103）上固定连接有滑杆（104）。

3.根据权利要求2所述的一种rfid芯片剪切力测试仪，其特征在于：所述移动机构（2）包括驱动件（201），所述驱动件（201）固定安装在所述工作台（1）的内部，所述驱动件（201）的输出端设置有传动组件（202），所述驱动件（201）通过所述传动组件（202）传动连接有驱动辊（203），所述驱动辊（203）上设置有输送带（204），所述驱动辊（203）通过输送带（204）传动连接有从动辊（205），所述驱动辊（203）和所述从动辊（205）均转动连接在所述台体（101）上。

4.根据权利要求1所述的一种rfid芯片剪切力测试仪，其特征在于：所述推力测试仪（401）位于所述千分尺调整块（3）上。

5.根据权利要求3所述的一种rfid芯片剪切力测试仪，其特征在于：所述测试刀头（406）位于所述输送带（204）的上方。

6.根据权利要求2所述的一种rfid芯片剪切力测试仪，其特征在于：所述连接架（501）滑动连接在所述滑杆（104）上。

7.根据权利要求3所述的一种rfid芯片剪切力测试仪，其特征在于：所述支撑板（102）位于所述输送带（204）的中部。

技术总结
本技术涉及芯片检测技术领域，具体为一种RFID芯片剪切力测试仪，包括工作台，工作台上设置有移动机构，工作台的一侧设置有千分尺调整块，千分尺调整块的顶部设置有测试机构，工作台的顶部滑动连接有固定机构，工作台的顶部固定安装有显微镜；测试机构包括推力测试仪，推力测试仪上设置有测试杆，测试杆远离推力测试仪的一端螺纹连接有第一调节螺杆。通过设置测试机构和固定机构，在对RFID芯片进行剪切力测试时，对RFID芯片进行固定的同时能够对RFID芯片进行撑平，从而避免在RFID芯片进行固定时出现褶皱的情况，避免RFID芯片上的褶皱影响检测出的剪切力数值，进而确保了检测的精度。

技术研发人员：刘建新
受保护的技术使用者：宜兴启明星物联技术有限公司
技术研发日：20240116
技术公布日：2024/2/25