专利名称:测微量具微分筒上棱边高度检定仪的制作方法
本实用新型属于测距量具。为了降低视觉误差，在国家计量器具检定规程中，规定了测微量具固定套管纵刻线表面至微分筒锥面棱边上边缘的距离(高度)须用工具显微镜检定，或者用0.4毫米的塞尺置于固定套管纵刻线面以比较法检定。但是，用工具显微镜检定相当麻烦，成本也较高，而且对测量范围为500～2000毫米的测微量具不能很好地检测；用塞尺比较法检定不能准确地测定固定套管纵刻线表面至微分筒锥面棱边上边缘的距离，不能作为仲裁检定方法。
本实用新型之目的是制造一种能够适用于各种测量范围的测微量具的，并且能快速而正确地测量微分量具固定套管纵刻线表面至微分筒锥面棱边上边缘距离(高度)的测量仪。
本实用新型是这样来实现上述目的的本检定仪是由一个千分表(1)，一个用来固定千分表和定零位面的主体(2)，一个可与千分表顶杆相接的触头(3)构成的。
上述的主体(2)，其外形像被一个水平平面(a)和一个铅垂平面(b)裁去了下部的缺角柱体，在缺角部的上部有一个可插入千分表套管的贯通圆孔(o)，其侧面有一个可将千分表定位的紧固机构(f)；主体(2)的下部柱体上开有一个倒置的V形槽(V)，构成V形槽(v)的二个平面(c和d)与上述铅垂平面(b)相垂直并对称于由平面c、d的交线和圆孔(o)中心线构成的平面；在主体(2)的下部柱体的侧面(b)的上部切去一部分，构成一可限制触头(3)下坠的水平台阶(e)。
触头(3)是楔形体，其顶部有一个可与千分表顶杆相接的螺柱(g)侧部有一个与千分表顶杆中心线平行的侧基准平面(h)，在平面h侧的上部有一个可与前述台阶(e)接触而限制触头下坠的小突起(i)。
装配与使用将千分表(1)的套管从上插入主体(2)的圆孔(o)，定位后紧固；将触头(3)拧固在千分的顶杆上，并保证触头的侧面h与主体(2)上的一侧面b成平行并处于同一平面中(可呈滑动接触)。必须强调，各所述平面a、b、c、d必须按要求加工；平面b与平面h必须平行并可呈滑动接触；触头(3)下端的触物棱线(l)必须与圆孔(o)的中心线(即千分表顶杆中心线)相垂直。
测量时，将主体(2)通过V形槽跨在测微量具的固定套管上，使V形槽的两个平面与固定套管母线呈密接触，放下顶杆，使触头(3)的触物线(l)与固定套管成切线接触，调整千分表零点，拉起顶杆，使主体(2)的平面b与微分筒的环形边缘紧密接触，放下顶杆，使触头(3)的触物线(l)与微分筒锥面呈切线接触，即可由千分表读出测微量具固定套管纵刻线表面至微分筒锥面棱边上边缘的距离(高度)。
实施例本人曾按上述结构制作了主体和触头，并按上述要求所了装配，把所得之检定仪对多种测量范围的微分量具作了检测，证明其测量筒单、快速、正确(与用工具显微镜所测结果相近、误差不大于0.005毫米)。另外，本人还作了一个校对量具，定期校准本检定仪，实践证明本检定仪具有良好的重复性和稳定性。
图1是部分剖示的总装配图图2是装配图的侧视图(未画千分表)图3是测量示意图图4是校对量具
权利要求
1.一种检测测微量具固定套管纵刻线表面至微分筒锥面棱边一边缘距离(测微量具微分筒上棱边高度)的塞尺或者工具显微镜，本实用新型的测微量具微分筒上棱边高度检定仪的特征是它是由一个千分表，一个可固定千分表和定零位面的主体和一个可与千分表顶杆连接的触头构成的。
2.根据权利要求
1所述的测微量具微分筒上棱边高度检定仪，其特征在于上述的主体外形呈一缺角柱体，其上部有一可插入千分表套管的圆孔(o)，孔侧有一个定位紧固机构(f)，其下部有一个倒置的V形槽，构成V形槽的两个平面(c、d)与铅垂面(b)相垂直并对称于由平面c、d的交线和圆孔中心线(o)构成的平面，在面b的上部有一限制触头下坠的水平台阶(e)。
3.根据权利要求
1所述的测微量具微分筒上棱边高度检定仪，其特征在于上述的触头是楔形体，其上部有一可与千分表顶杆连接的螺柱(g)，侧面有一侧基准平面(h)，平面的上部有一可与台阶(e)接触的突起(i)，装配后楔形体的触物线L与圆孔(o)中心线相垂直。
4.根据权利要求
1、2或3所述的测微量具微分筒上棱边高度检定仪，其特征在于上述主体上的铅垂平面(b)与楔形触头上的铅垂面(h)处于同一平面上并可呈滑动接触。
专利摘要
测微量具微分筒上棱边高度检测仪，属于测距仪表。它是由一个千分表，一个上部可固定千分表的、下部有一个倒置的V形槽的主体和一个楔形体的、可与千分表顶杆相接的触头构成的。由于V形槽的两个面可与被测具的圆柱母线呈密接触，而且由这两母线构成的平面垂直于顶杆中心线；楔形体的触头下部端棱线和顶杆中心线垂直，而且楔形触头的一个面和主体上靠近触头一端的平面是处于同一平面的故能正确测量套管表面至锥面棱边上边缘的距离。
文档编号G01B5/02GK85201876SQ85201876
公开日1986年10月29日 申请日期1985年5月23日
发明者安立平 申请人:安立平导出引文BiBTeX, EndNote, RefMan