专利名称：熔断器分断能力测量仪的制作方法
技术领域：
一种专用测量仪器，特别是用于检测小型熔断器电参数分断能力的测量仪。
目前，国内检测熔断器分断能力参数是采用低压交流电源，有的采用直流100V电源。这两种检测手段均不符合国际规范标准。国外文献，对采用可控硅电子开关做分断能力测试仪未曾有过报道，苏联专利502416是采用机械凸轮装置。
本实用新型的目的是改变传统的用直流检测的手段，提供一种符合国际标准的检测熔断器分断能力的仪器。
本实用新型的方案是采用可控硅做电子开关，采用可靠的触发电路，使其在正向30°导通，本实用新型的误差为±1°，熔断器分断后保持30秒。如果使每个正半波都在30°导通，或者正负半波都在30°导通是容易办到的，本实用新型的关键是在正向30°导通后，输出连续的不间断的正弦波。
图1为本实用新型的组成框图。其中①是主回路部分；②是保证电路系统；③是触发记忆电路部分；④是延时控制部分；⑤表示虚线框内②、③、④共同组成控制电路部分。
图2是主回路电路原理。输入端接250V50Hz交流电源，R1是限流电阻，BT1是双向可控硅，在这里做电子开关，⑤是BT1的触发控制电路。a、b是熔断器测试端。R2与a、b测试端并联，串联在BT1主回路中，起端电压保持作用。当被测熔断器分断后，由于R2的存在维持BT1继续导通。因为R2阻值足够大，回路电流较小，故电阻两端的电压近似等于电源电压。
下面详细叙述控制电路的最佳方案。
为了确保每次启动都在正向30°输出，专门设计了保证电路系统。保证电路系统由光耦合器N1(G0121)、双单稳集成电路CD1(T1123)、继电器J1组成，见图3。K1是启动开关，N1与K1、D1、R3串联，通过R1接到测试电源两端，即A、C端。按下K1，二极管D1将正弦波整流为正向半波，将此半波电流通过R3限流电阻引入光耦合器N1，N1输出相应的方波。这个方波加到集成电路CD1输入端，调整R5、C1、R6、C2使双单稳电路的输出波形在两个半波中间位置。此波形加到三极管BG1基极，BG1导通，继电器J1吸合，继电器J1的常开接点是30°角触发回路的开关，J1吸合将触发电路接通。
图4是触发记忆系统原理。由可控硅BT2组成30°角触发电路，BT2与J1、D3、R8、N2(G0121)串联，接到A、C端。由可控硅BT8和继电器J2串联组成记忆电路，由可控硅BT4和可控硅BT5复合组成推动电路，控制主回路BT1。J1吸合后，正向半波通过D3、R8、W1、C2、D4定时网络，使可控硅BT2在30°时导通。导通电压经R2加入光耦合器N2输入端，此时N2输出端产生负跳变，经反相器集成电路CD2(T1006)反相变为正跳变，正跳变信号通过电阻R11加到BT3控制极，BT3即刻导通，继电器J2随即吸合，接通了主回路的触发电路。BT4和BT5组成复合推动级，推动大功率可控硅BT1。这时BT1的负载上，就得到了正向30°起始连续的正弦波电压。
图5是延时系统电路原理。延时系统由光耦合器N3(G0121)，反相器集成电路CD3(T1006)、振荡集成电路CD4(5C702)、与门集成电路CD5(T4022)，继电器J3组成。二极管D6与电阻R12、光耦合器N3输入端串联，跨接在测试夹具两端，这一部分称为取样电路。B、C端呈低电平时，光耦合器N3输出端保持高电位，经过C5、R14、C6、R15滤波，CD3两级反相，输出仍然是高电位，秒振荡电路CD4停振。当熔断器分断后，B、C端呈高电平，经二极管D6整流的半波。通过限流电阻R12加到光耦合器N3输入端，N3输出端输出方波信号，经C5、R14、C6、R15滤波变为低值直流电平，经CD3两级反相，输出为“O”V低电位，秒振荡电路CD4起振，输出秒信号。CL1和CL2是计数、编码、释码、驱动、显示五合一电路组件，本电路采用两位数。当计到“30”时，通过集成电路CD5使计数电路锁存，同时输出信号使三级管BG2导通，继电器J3吸合。J3的常闭触点将BT3阴极接地构成回路，J3吸合时将BT3开路，迫使导通的BT3截止，于是主回路BT1截止。
本实用新型的优点在于采用了先进的电子器件，实现了30°相位角开启的准确性和开启后的连续性，同时也确保了延迟时间的准确性。
权利要求1.一种熔断器分断能力测量仪，其特征是A、采用可控硅BT1做电子开关，电阻R2与a、b测试端并联，串联在BT1主回路中，B、由光耦合器N1、双单稳集成电路CD1、继电器J1组成保证系统。N1与K1、R3串联，通过R1接到测试电源两端，即A、C端，C、由可控硅BT2组成触发电路，BT2与J1、D3、R0、N2串联，通过R1接到A、C端。由可控硅BT3和继电器J2串联组成记忆电路。由可控硅BT4和可控硅BT5复合组成推动电路，控制主回路BT1，D、由光耦合器N3，反相集成电路CD3、振荡集成电路CD4、与门电路CD3、继电器J3组成延时控制系统，二极管D6与电阻R12、光耦合器N2输入端串联，跨接在测试夹具两端。
专利摘要一种小型熔断器分断能力测量仪，用于检测熔断器(保险丝管)电参数分断能力的专用仪器。本实用新型采用可控硅做电子开关，控制电路具有定相位和定时间的功能。整机输出信号是起始于正向30°持续30秒连续的正弦波。优点是相位角开启准确，开启后连续，延迟时间准确。
文档编号G01R31/00GK2030327SQ87211090
公开日1989年1月4日 申请日期1987年7月30日 优先权日1987年7月30日
发明者刘玉胜 申请人:辽宁丹东市无线电十八厂