专利名称：公英制高精度测微头的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种机械加工中现场检测用的测微头，特别涉及一种公英制高精度测微头，它主要由螺杆、螺纹轴套、固定套管、微分筒等部件组成。
目前，在机械行加工中现场测量所使用的测微头的微分筒上的刻线格值都是0.01mm，不能精确地检测零件的公差超差。另外，由于公知的测微头均不具备公英制通用的功能，以致于在需要进行公英制换算的检测中使用起来很不方便，造成一些误差。如在英制齿轮换算成公制模数齿轮制造中，误差就更大。
本实用新型的目的就在于克服上述现有技术中的不足之处而提供一种测量精度高的公英制高精度测微头。
本实用新型的目的可以通过以下措施来实现螺杆与螺纹轴套上所加工的联接螺纹的螺距为0.4mm；微分筒上的每格刻线值为0.005mm；固定套管上设置有66条纵向刻度线，构成65格，从0－64格每格的间距为0.4mm，第65格的间距为0.2mm。
本实用新型固定套管上设置的66条纵向刻度线分别布置在横刻线的上下方，即横刻线上下各设有33条纵向刻度线。横刻线下边纵向刻度线的间距均为0.8mm；横线上边的纵向刻度线中的前32条刻线的间距为0.8mm，第32至33条刻线之间的间距为0.6mm。
附图的图面说明如下
图1本实用新型的结构图。
图2螺杆的结构图。
图3微分筒的结构图。
图4螺纹轴套的结构图。
图5固定套管的结构图。
本实用新型下面将结合实施例(附图)作以详细的描述如图1所示，本实用新型的公英制高精度测微头是由螺杆(1)、螺纹轴套(2)、固定套管(3)、微分筒(4)以及弹性锥套(5)和转帽(6)等主要部件组成。
如图2、图4所示的螺杆和螺纹轴套上加工的联接螺纹的螺距为0.4mm，即相当于0.015748英寸。当螺杆旋转一周时，其直线行程为0.4mm，即为0.015748英寸，当螺杆旋转63.5周时，它的旋转直线行程恰好为一英寸，在公制尺寸中恰好是25.4mm。
如图5所示，固定套管上横刻线的上下两边各设有33条纵向刻度线，横刻线下边的纵向刻度线之间的间距均为0.8mm，即0.031496英寸，横刻线上边的纵向刻度线的前32条纵向刻度线之间的间距均同于横刻线上边纵向刻度线之间的间距，其中第32至33条纵向刻度线之间的间距为0.6mm，即0.024622英寸。这样固定套管上纵向刻度线从0至最后一条纵向刻度线的距离正好是25.4mm，即一英寸。
如图3所示，微分筒上共设置有刻线格80格，每格值为0.005mm，即0.00019685英寸。
本实用新型的公英制高精度测微头有如下优点测量精度比现有技术提高了一倍，可在一把量具上同时检测出公英制尺寸，而不需进行公英制换算，从而减少计算误差，保证精度。
权利要求1.一种机械加工中现场测量使用的公英制高精度测微头，它是由螺杆(1)、螺纹轴套(2)、固定套管(3)、微分筒(4)以及弹性锥套(5)和转帽(6)等主要部件组成，本实用新型的特征在于a、螺杆(1)与螺纹轴套(2)上所加工的联接螺纹的螺距为0.4mm；b、微分筒(4)上的每格刻线值为0.005mm；c、固定套管(3)上设置有66条纵向刻度线，构成65格，从0-64格每格的间距为0.4mm，第65格的间距为0.2mm。
2.根据权利要求1所述的公英制高精度测微头，其特征在于固定套管(3)上设置的66条纵向刻度线分别布置在横刻线的上下方，即横刻线上下各设有33条纵向刻度线。
3.根据权利要求2所述的公英制高精度测微头，其特征在于横刻线下边所设置的纵向刻度线的间距均为0.8mm；横刻线上边纵向刻度线的前32条刻线的间距为0.8mm，其中第32条刻线至第33条刻线的间距为0.6mm。
专利摘要一种机械加工中现场测量使用的公英制高精度测微头，其特征在于螺杆与螺纹轴套上所加工的联接螺纹的螺距为0.4mm；微分筒上的每格刻线值为0.005mm；固定套管(3)上设置有66条纵向刻度线，构成65格，从0-64格每格的间距为0.4mm，第65格的间距为0.2mm。本实用新型的优点测量精度比现有技术提高了一倍，可在一把量具上同时检测出公英制尺寸，而不需进行公英制换算，从而减少计算误差，保证精度。
文档编号G01B3/18GK2060218SQ89218699
公开日1990年8月8日 申请日期1989年10月28日 优先权日1989年10月28日
发明者冯培林 申请人:冯培林