文件格式为prt文档的单体电极后，如图3所示，执行电极检测程序，设置探针的针头直径为1.5mm，探针的长度为30L，探针距离放电面的安全高度为20mm，设置后处理文件的文件类型为法兰克，然后执行电极检测程序中的自动取点功能，自动取点功能的程序根据在该放电面为平面或斜面的情况下，则设置单位面积上需取测试点的数值为预设值m，预设值m可取一个测试点，并且在同一面上若两个相邻侧试点之间的间距小于1mm时，则来两测试点之间不再取测试点。
[0020]在该放电面为曲面的情况下，若其曲率半径小于0.48mm，则不取测试点，若其曲率半径大于η则:
如果曲面的面积小于预设值0.5mm，就不取测试点。
[0021]如果曲面的面积大于预设值0.5mm且小于预设值120mm，就取一个测试点。
[0022]如果曲面的面积大于预设值120mm且小于预设值600mm，就取两个测试点。
[0023]如果曲面的面积大于预设值600_，就取四个测试点。
这样，电极检测程序通过分析上述条件，针对不同的请况做出不同的动作，这样对于复杂的放电面，能够做到全面的分析取点，不仅取点效率高，并可以避免手动取点时容易遗漏部分放电面，从而提高测量精度。上述预设值参数可个根据实际情况进行重置。
[0024]进一步的，自动取点程序可执行多个单体电极的执行批量运算，运算效率高。
[0025]进一步的，执行电极检测程序，后处理文件的文档类型设为PC-DMS软件可识别文件类型。
[0026]如图4所示，电极测量程序对单体电极实现自动取测试点，测试点分布较为均匀，由于曲面结构较为复杂，曲面处的放电面取点较为密集，提高曲面的测量精度。电极测量程序完成单体电极的自动取测试点后，可对测试点的位置是否正确、测试点是否重复进行检测，检测好后，执行批量后处理程序生成PC-DMS软件能够识别的法兰克文件。
[0027]进一步的，执行导出IGS程序将文档格式为prt的单体电极转换为文件格式为IGS的单体电极。
[0028]最后，将文件格式为IGS的单体电极和批量后处理程序生成PC-DMS软件能够识别的法兰克文件同时导入PC-DMS软件中，PC-DMS软件生成自动测量程序，自动测量程序驱动机台对机台上的实体电极进行自动测量。
[0029]最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本发明创造的技术方案，而非对本发明创造保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本发明创造作了详细地说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明创造的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明创造技术方案的实质和范围。
【主权项】
1.一种自动生成测试点的方法，具体步骤包括:选定待测量的电极模型，若电极模型的一面正对模具的模面，且与模具的模面之间的间距不大于预设值A，则取电极模型的该面作为电极的放电面，自动对该放电面进行着色； 电极模型自动生成为prt格式的单体电极； 自动在电极模型上找出单体电极上被着色的放电面，然后分情况执行如下: 在该放电面为平面或斜面的情况下，则设置单位面积上需取测试点的数值为预设值m ； 在该放电面为曲面的情况下，若其曲率半径小于n，则不取测试点，若其曲率半径大于η则: 如果曲面的面积小于预设值X，就不取测试点； 如果曲面的面积大于预设值X且小于预设值Y，就取一个测试点； 如果曲面的面积大于预设值Y且小于预设值Ζ，就取两个测试点； 如果曲面的面积大于预设值Ζ，就取四个测试点。
2.根据权利要求1所述的一种自动生成测试点的方法，其特征在于:三维建模时，将电极模型设置为电极层，将模具设置为模仁层，选定实体相同面着色程序中的电极层和模仁层即可计算电极模型正对于模具的模面的放电面。
3.根据权利要求2所述的一种自动生成测试点的方法，其特征在于:执行导出单个实体程序将放电面着色后的电极模型生成格式为prt文档的单体电极。
4.根据权利要求3所述的一种自动生成测试点的方法，其特征在于:在导出单个实体程序中设置探针的长度和探针的针头直径参数，并设置后处理文件的文件类型后，执行电极测量程序中的自动取点功能开始对单体电极的放电面进行自动取测试点。
5.根据权利要求4所述的一种自动生成测试点的方法，其特征在于:后处理文件的文档类型设为PC-DMS软件可识别文件类型。
6.根据权利要求5所述的一种自动生成测试点的方法，其特征在于:执行电极测量程序完成单体电极的自动取测试点后，执行电极测量程序中的批量后处理功能生成PC-DIMS软件能够识别的文件。
7.根据权利要求6所述的一种自动生成测试点的方法，其特征在于:在电极测量程序中执行导出IGS程序将文档格式为prt的单体电极转换为文件格式为IGS的单体电极。
8.根据权利要求7所述的一种自动生成测试点的方法，其特征在于:文件格式为IGS的单体电极和批量后处理程序生成PC-DMS软件能够识别的文件同时导入PC-DMS软件中，PC-DMS软件生成自动测量程序，自动测量程序驱动机台对机台上的实体电极进行自动测量。
9.根据权利要求1所述的一种自动生成测试点的方法，其特征在于:在平面或斜面的放电面取测试点时，若果同面上两个相邻侧试点之间的间距小于10mm，则不取测试点。
【专利摘要】一种自动生成测试点的方法，通过比对电极模型的面正对模具的待加工面、且与待加工面的间距不大于预设值A，则该面为电极模型的放电面，并自动对放电面进行着色，在电极模型上找出被着色的放电面，然后执行：在该放电面为平面或斜面，则设置单位面积上需取测试点的数值为预设值m；在该放电面为曲，若其曲率半径小于n，则不取测试点，若其曲率半径大于n则：如果曲面的面积小于预设值X，就不取测试点；如果曲面的面积大于预设值X且小于预设值Y，就取一个测试点；如果曲面的面积大于预设值Y且小于预设值Z，就取两个测试点；如果曲面的面积大于预设值Z，就取四个测试点，实现自动取点，取点效率高，且避免遗漏部分放电面，提高测量精度。
【IPC分类】G01B21-20, G01D21-00
【公开号】CN104535103
【申请号】CN201410847970
【发明人】何理义, 任健胜, 胡彬, 魏晓锋
【申请人】东莞誉铭新工业有限公司
【公开日】2015年4月22日
【申请日】2014年12月31日