一种工件光学测试机构的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种工件的光线测试机构。
【背景技术】
[0002]对工件进行光学性能的检测通常需要在暗箱中进行，但人工向安置有检测设备的暗箱中入料和下料十分浪费时间，尤其是暗箱空间较小的情况下，不利于工件的摆放定位，尤其是圆形、圆柱形等不容易固定的工件，影响检测结果。
【发明内容】
[0003]一种工件光学测试机构，包括中空的暗箱，所述暗箱中设有光学测试装置，其特征是，还包括若干传送装置，所述暗箱设置在传送装置的传送方向上，至少有相对处于所述传送方向上游的一侧设置供工件通过的开口，并设有能够打开和封闭所述开口的活动门。
[0004]优选的，所述传送装置穿过暗箱设置，且所述活动门上开设容纳所述传送装置行进的缺口。
[0005]优选的，所述活动门上沿垂直于传送方向的方向设有多个适应不同位置传送装置通行的所述缺口。
[0006]优选的，所述暗箱相对处于所述传送方向上游和下游的两侧均设置所述开口和对应的所述活动门，暗箱中设置一气缸同时控制两扇所述活动门的打开和封闭。
[0007]优选的，所述传送装置穿过暗箱并偏向暗箱一侧设置，暗箱近于传送装置的一侧为第一侧面，所述活动门通过靠近和远离所述第一侧面进行打开和封闭，且活动门面向所述第一侧面的一侧开设容纳所述传送装置行进的缺口。
[0008]优选的，所述暗箱中设有限制所述活动门在气缸驱动下行进方向的限位机构。
[0009]优选的，所述限位机构包括平行于所述气缸轴线方向设置的导轨，以及设于活动门上与所述导轨配合的滑块。
[0010]优选的，所述传送装置上至少设有两个沿所述传送方向排列的分别用于支撑工件的放置治具。
[0011]本发明所达到的有益效果:
1.本发明的工件光学测试机构，包括中空的设有光学测试装置的暗箱，同时还结合了传送装置，使得传送装置可以直接将工件输入和输出暗箱进行上料检测和下料，大大提高检测效率，同时由传送装置运载的工件可以直接跟随传送装置到达暗箱中进行检测，无需在暗箱中另外设计定位座，免去了重新定位的麻烦，有助于提高检测精度。另外，暗箱上对应于工件的通过开口设置活动门可以自动及时开门放行和关门开始测试，也有助于提高检测效率和增加测量精度。
[0012]2.传送装置穿过暗箱设置，且活动门上开设容纳传送装置行进的缺口，则可以最大限度保证暗箱的遮光效果，提高测量精度。尤其是垂直于传送方向设有多个不同位置的传送装置时，分别设置对应的缺口。
[0013]3.暗箱相对处于传送方向上游和下游的两侧均设置开口和对应的活动门，则工件可以沿同一方向进入和退出暗箱，而需要从同一入口折返，简化结构，缩短相应工件的间隔检测时间，流水线工作更加顺畅。尤其是暗箱中设置一气缸同时控制两扇活动门的打开和封闭，则同步对上游的工件开放入口，和对一个下游相邻的且已经在暗箱中测试完毕的工件开放出口，则最为节约时间，提高效率。
[0014]4.缺口设置在活动门上，则活动门尺寸的设计受传送装置排布的影响相对较小，活动门可以设置的较大，方便工件的通过。同时传送装置偏向暗箱一侧设置，则缺口可以设置的较小，进一步减小从缝隙中射入暗箱的光线量。
[0015]5.暗箱中设置辅助气缸限的限位机构则可以提高制活动门开闭的稳定性，防止关闭时歪斜，保证密封性。
[0016]6.限位机构以导轨和滑块的配合结构实现，结构简单，性能稳定。
[0017]7.传送装置上设置至少两个用于支撑工件的放置治具，则在保持支撑稳定的基础上有利于节省治具数量。
【附图说明】
[0018]图1是本发明优选实施例的示意图；
图2是图1所示局部A的放大示意图；
图3是本发明优选实施例中暗箱的内部结构图；
图4是本发明优选实施例中放置治具的凹槽部位的俯视图；
其中:1、灯管，12、引脚，2、传送装置，22、链条，24、链轮，3、放置治具，32、底座，322、凹槽，42、暗箱，422、面板，424、第一侧面，44、色温计，45、限位机构，452、导轨，46、活动门，462、缺口，47、气缸，472、活塞，48、连接板，482、滑块，484、条形槽，486、限位件。
【具体实施方式】
[0019]下面结合附图对本发明作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案，而不能以此来限制本发明的保护范围。
[0020]如图1-4所示，一种工件光学测试机构，具体包括中空的暗箱42，暗箱42中设有光学测试装置，还包括至少两个传送装置2，暗箱42设置在传送装置2的传送方向上，至少有相对处于传送方向上游的一侧设置供工件通过的开口，并设有能够打开和封闭开口的活动门46 ?
[0021]传送装置2水平穿过暗箱42设置，具体由链条22、链轮24和驱动装置按照本领域惯用方法组装而成，且各传送装置2在驱动装置驱动下同步行进。
[0022]暗箱42相对处于传送方向上游和下游的两侧均设置开口和对应的活动门46，暗箱42中设置一气缸47同时控制两扇活动门46的打开和封闭，则能够同步对传送方向上游的工件开放入口，和对一个下游相邻的且已经在暗箱42中测试完毕的工件开放出口，从而最大限度的节约时间，提高效率。其中，暗箱42的内部，顶端设置有色温计44作为光学测试装置，对暗箱42内部放置的工件进行光学性能的测试。开口设置在暗箱42的两侧面板422上，开口尺寸均能够容纳工件通过，同时活动门46设置在面板422的内侧。暗箱42的两端对称设置分别沿竖直方向的气缸47，且暗箱42两侧的活动门46其内侧均与同一水平连接板48相连，并通过连接板48与气缸47的活塞472相连，从而气缸47升降能够同步带动两活动门46升降，实现暗箱42的开闭。更具体的，暗箱42中，两端还设有限制活动门46在气缸47驱动下行进方向的限位机构45。限位机构45具体包括平行于气缸47轴线方向设置的导轨452，以及设于连接板48上与导轨452配合的滑块482。另外，连接板48的中部还开始有容纳工件向上伸出的条形槽484，并在条形槽484的两端设置门形限位件486，限位件486 —方面可以控制工件在暗箱42中的位置，另一方面也方便安装传感器感应工件。
[0023]由于传送装置2水平穿过暗箱42设置，为保证传送装置2的顺利行进和活动门46关闭时暗箱42的密闭效果，活动门46上还开设容纳传送装置2行进的缺口 462。更具体的，传送装置2穿过暗箱42并偏向暗箱42底端设置，暗箱42的底部平面即近于传送装置2的一侧为第一侧面424，活动门46通过靠近和远离第一侧面424打开和封闭暗箱42的开口，且活动门46面向第一侧面424的一侧开设容纳传送装置2行进的缺口 462。进一步的，当垂直于传送方向设有多个不同位置的传送装置2时，可以分别设置对应的缺口 462。
[0024]另外，所述传送装置2上至少设有两个沿传送方向排列的分别用于支撑工件的放置治具3。则同时可有两个工件在本发明机构中行进，缩短等待时间。放置治具3具体包括一组两个底座32分别用于支撑工件的两端，当工件为灯管I时，灯管I的各端端部均有两个引脚12，则底座32上相应开设容置两个引脚12的两个凹槽322，凹槽322深度大于引脚12截面尺寸。此时，灯管I的两端引脚12可以分别搁置在对应侧传送装置2上底座32的凹槽322中，不仅结构简单，而且凹槽322对引脚12的限位稳定同时还能保护引脚12。
[0025]下面以本发明优选实施例应用在灯管I光学测试中的工作过程介绍本发明，但不对本发明构成限制。首先将两根待测灯管I依次摆放在沿传送方向的两个放置治具3上。灯管I两端的引脚12分别嵌设在对应的底座32凹槽322中。可以设置传感器，当感应上游的灯管I随传送装置2到达暗箱42前时，气缸47控制两活动门46打开，接着灯管I进入暗箱42，同时下游相邻灯管I来的暗箱42前，随后气缸47再次带动两活动门46关闭，同时连接板48下降通过限位件486限定灯管I的位置，随后色温计44开始检测工作，测试完毕，则活动门46再次打开，检查完的灯管I离开暗箱42，同时下游的相邻灯管I进入暗箱42等待测试。依次类推即可稳定、准确、高效的完成批量灯管I的光学测试。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变形，这些改进和变形也应视为本发明的保护范围。
【主权项】
1.一种工件光学测试机构，包括中空的暗箱，所述暗箱中设有光学测试装置，其特征是，还包括若干传送装置，所述暗箱设置在传送装置的传送方向上，至少有相对处于所述传送方向上游的一侧设置供工件通过的开口，并设有能够打开和封闭所述开口的活动门。
2.根据权利要求1所述的一种工件光学测试机构，其特征是，所述传送装置穿过暗箱设置，且所述活动门上开设容纳所述传送装置行进的缺口。
3.根据权利要求2所述的一种工件光学测试机构，其特征是，所述活动门上沿垂直于传送方向的方向设有多个适应不同位置传送装置通行的所述缺口。
4.根据权利要求1所述的一种工件光学测试机构，其特征是，所述暗箱相对处于所述传送方向上游和下游的两侧均设置所述开口和对应的所述活动门，暗箱中设置一气缸同时控制两扇所述活动门的打开和封闭。
5.根据权利要求4所述的一种工件光学测试机构，其特征是，所述传送装置穿过暗箱并偏向暗箱一侧设置，暗箱近于传送装置的一侧为第一侧面，所述活动门通过靠近和远离所述第一侧面进行打开和封闭，且活动门面向所述第一侧面的一侧开设容纳所述传送装置行进的缺口。
6.根据权利要求5所述的一种工件光学测试机构，其特征是，所述暗箱中设有限制所述活动门在气缸驱动下行进方向的限位机构。
7.根据权利要求6所述的一种工件光学测试机构，其特征是，所述限位机构包括平行于所述气缸轴线方向设置的导轨，以及设于活动门上与所述导轨配合的滑块。
8.根据权利要求1所述的一种工件光学测试机构，其特征是，所述传送装置上至少设有两个沿所述传送方向排列的分别用于支撑工件的放置治具。
【专利摘要】本发明公开了一种工件光学测试机构，包括中空的暗箱，所述暗箱中设有光学测试装置，其特征是，还包括若干传送装置，所述暗箱设置在传送装置的传送方向上，至少有相对处于所述传送方向上游的一侧设置供工件通过的开口，并设有能够打开和封闭所述开口的活动门。设有光学测试装置的暗箱，和传送装置的结合，使得传送装置可以直接将工件输入和输出暗箱进行上料检测和下料，大大提高检测效率，同时由传送装置运载的工件可以直接跟随传送装置到达暗箱中进行检测，无需在暗箱中另外设计定位座，免去了重新定位的麻烦，有助于提高检测精度。
【IPC分类】G01M11-02
【公开号】CN104568388
【申请号】CN201410848448
【发明人】陈亿善, 薄克艳
【申请人】爱彼思（苏州）自动化科技有限公司
【公开日】2015年4月29日
【申请日】2014年12月31日