照明灯具光衰检测方法

文档序号:8337758阅读:1789来源:国知局
照明灯具光衰检测方法
【技术领域】
[0001 ] 本发明涉及灯具制造技术领域,尤其是一种用于对照明灯具同时进行光衰检测的设备。
【背景技术】
[0002]目前,照明灯具尤其是LED照明灯具,生产出来后每只都需要进行光衰检测,光衰检测合格后才作为合格产品出厂销售。光衰检测需要在密闭的室内进行,现有的光衰检测设备一般包括有带有门的光衰室,光衰室内设有敞开式光衰架,光衰架上带有光衰检测装置及热交换机。使用时将照明灯排放在光衰架上,打开光衰装置进行光衰检测。由于光衰检测需要的温度与常温差异较大,因而操作人员需要进入光衰室进行操作,工作温度异常,工作环境十分恶劣。如果打开光衰室门较长时间待室内温度与常温相近后再进行操作,造成电能浪费较大,能耗较高,且影响加工效率。另外,高低温度和光衰分别进行检测的,这样浪费了时间,影响生产进度,且增加了制造成本。

【发明内容】

[0003]本发明所要解决的问题是提供一种照明灯具光衰检测方法,以解决现有照明灯具光衰检测操作环境恶劣,效率低,成本高的问题。
[0004]为了解决上述问题,本发明的技术方案是:这种照明灯具光衰检测方法包括将温度检测和光衰检测同时进行,使用一种照明灯光具光衰检测设备对照明灯具同时进行温度检测和光衰检测,所述照明灯光具光衰检测设备包括带门的光衰室,光衰检测装置及热交换机,所述光衰室的侧壁上设有排气风机,所述光衰室设有两端有开口的检测箱体,所述光衰检测装置及热交换机设于所述检测箱体内,一条输送带从所述检测箱体两端的开口处横穿所述检测箱体,所述输送带从上至下有多层;所述检测箱体具有箱体内壁和箱体外壁,所述检测箱体两端的开口处均设有从所述检测箱体一侧插入使所述检测箱体密封的封插块,所述封插块有内外两层,所述箱体内壁和箱体外壁及所述封插块均为石英玻璃制作;其检测包括如下步骤:A、在输送带上放置好待检测的照明灯具,并通过调压器调好照明灯具的输入电压,给照明灯具接通电源,启动驱动电机将照明灯具输送到检测箱体内,插入封插块;B、启动光衰检测装置及热交换机的驱动电源,分别按以下三组参数进行温度检测和光衰检测:检测时开启排气风机为光衰室通风,第一组:检测箱体内温度60° C?65° C,照明灯具的输入电压调为最大额定输入电压的1.1倍,将照明灯具接通电源,在检测箱体内23小时?24小时;第二组:检测箱体内温度20° C?30° C,照明灯具的输入电压调为最大额定输入电压,将照明灯具接通电源,在检测箱体内23小时?24小时;第二组:检测箱体内温度零下15° C?零下13° C,照明灯具的输入电压调为最大额定输入电压的0.9倍,将照明灯具接通电源,在检测箱体内23小时?24小时;C、每完毕一组检测后,拔出封插块,启动驱动电机将照明灯具输送出检测箱体外,调整照明灯具的输入电压后,重复步骤A至B,直至第三组检测完毕;D、再进行光衰和色坐标的测试,将光衰或色坐标变化未超标的LED灯具按合格品进行包装处理。
[0005]由于采用了上述技术方案,本发明与现有技术相比具有如下有益效果:
本照明灯具光衰检测方法,将现有技术的光衰架设计成检测箱体,形成密闭的光衰空间,内部通过输送带传输照明灯具,在不改变检测的工艺条件的情况下,大大缩小了加热范围,极大的降低了能耗,同时,也大大降低了光衰室的温度,很好的改善了操作人员的操作环境;检测箱体设计成双层中空,两端的封插块也使用两道,起到很好的隔热作用,提高了热量的使用率,也减少了检测箱体对外部环境的加热作用;另外,将温度和光衰检测同时进行,在不影响检测条件下提高了生产效率,降低了生产成本。
【附图说明】
[0006]图1是本发明实施例照明灯具光衰检测设备的主视图;
图2是本发明实施例照明灯具光衰检测设备的左视图。
【具体实施方式】
[0007]下面结合附图对本发明实施例作进一步详述:
使用一种照明灯光具光衰检测设备对照明灯具同时进行光衰检测,该照明灯具光衰检测设备如图1、图2所示,包括带门3的光衰室1,光衰室I的侧壁上设有排气风机2。光衰室I设有两端有开口的检测箱体4,光衰检测装置及热交换机6设于检测箱体4内,检测箱体4具有箱体内壁4-2和箱体外壁4-1,具有的,光衰检测装置及热交换机6设置在检测箱体4箱体内壁4-2的一侧上。一条输送带7从检测箱体4两端的开口处横穿检测箱体4,输送带7从上至下有三层,输送带7包括输送链7-1和支架7-2,输送链7-1可以连接驱动电机,每层输送带7上放置照明灯具8,由驱动电机连接驱动,省力又方便;检测箱体4两端的开口处均设有从检测箱体4 一侧插入使检测箱体4密封的封插块5,封插块5通过在检测箱体4内并伸出该侧的支撑槽4-3支撑滑动。封插块5有内外两层,分别是内封插块5-2和外封插块5-1,每一层输送带7的位置均有两对内封插块5-2和外封插块5-1。箱体内壁4-2和箱体外壁4-1及封插块5均为石英玻璃制作,隔热效果好,且方便操作人员观察内部情况。
[0008]检测过程按如下步骤进行:
A、在输送带7上放置好待检测的照明灯具8,并通过调压器调好照明灯具8的输入电压,给照明灯具8接通电源,启动驱动电机将照明灯具8输送到检测箱体4内,插入封插块;
B、启动光衰检测装置及热交换机6的驱动电源,分别按以下三组参数进行温度检测和光衰检测,检测时开启排气风机2为光衰室I通风,使光衰室I温度尽量接近常温,
第一组:检测箱体4内温度60° C,照明灯具8的输入电压调为最大额定输入电压的1.1倍,将照明灯具8接通电源,在检测箱体4内23小时;
第二组:检测箱体4内温度20° C,照明灯具8的输入电压调为最大额定输入电压,将照明灯具8接通电源,在检测箱体4内24小时;
第二组:检测箱体4内温度零下15° C,照明灯具8的输入电压调为最大额定输入电压的0.9倍,将照明灯具8接通电源,在检测箱体4内23小时;
C、每完毕一组检测后,拔出封插块5,启动驱动电机将照明灯具8输送出检测箱体4外,调整照明灯具8的输入电压后,重复步骤A至B,直至第三组检测完毕;
D、再进行光衰和色坐标的测试,将光衰或色坐标变化未超标的LED灯具按合格品进行包装处理。以上驱动电机,光衰检测设备的驱动电源,排气风机的开启和关闭,均可以通过市场上销售的定时器连接控制。
[0009]在其他实施例中,步骤B的三组参数,还可以是:
第一组:检测箱体4内温度在60° C?65° C的任意一个温度,照明灯具8的输入电压调为最大额定输入电压的1.1倍,将照明灯具8接通电源,在检测箱体4内23小时?24小时的任意一个时间;
第二组:检测箱体4内温度在20° C?30° C的任意一个温度,照明灯具8的输入电压调为最大额定输入电压,将照明灯具8接通电源,在检测箱体4内23小时?24小时的任意一个时间;
第二组:检测箱体4内温度在零下15° C?零下13°的任意一个温度C,照明灯具8的输入电压调为最大额定输入电压的0.9倍,将照明灯具8接通电源,在检测箱体4内23小时?24小时的任意一个时间。其他参数、步骤及结构如实施例一。
【主权项】
1.一种照明灯具光衰检测方法,其特征在于:将温度检测和光衰检测同时进行,使用一种照明灯光具光衰检测设备对照明灯具同时进行温度检测和光衰检测,所述照明灯光具光衰检测设备包括带门的光衰室,光衰检测装置及热交换机,所述光衰室的侧壁上设有排气风机,所述光衰室设有两端有开口的检测箱体,所述光衰检测装置及热交换机设于所述检测箱体内,一条输送带从所述检测箱体两端的开口处横穿所述检测箱体,所述输送带从上至下有多层;所述检测箱体具有箱体内壁和箱体外壁,所述检测箱体两端的开口处均设有从所述检测箱体一侧插入使所述检测箱体密封的封插块,所述封插块有内外两层,所述箱体内壁和箱体外壁及所述封插块均为石英玻璃制作; 其检测包括如下步骤: A、在输送带上放置好待检测的照明灯具,并通过调压器调好照明灯具的输入电压,给照明灯具接通电源,启动驱动电机将照明灯具输送到检测箱体内,插入封插块; B、启动光衰检测装置及热交换机的驱动电源,分别按以下三组参数进行温度检测和光衰检测,检测时开启排气风机为光衰室通风, 第一组:检测箱体内温度60° C?65° C,照明灯具的输入电压调为最大额定输入电压的1.1倍,将照明灯具接通电源,在检测箱体内23小时?24小时; 第二组:检测箱体内温度20° C?30° C,照明灯具的输入电压调为最大额定输入电压,将照明灯具接通电源,在检测箱体内23小时?24小时; 第二组:检测箱体内温度零下15° C?零下13° C,照明灯具的输入电压调为最大额定输入电压的0.9倍,将照明灯具接通电源,在检测箱体内23小时?24小时; C、每完毕一组检测后,拔出封插块,启动驱动电机将照明灯具输送出检测箱体外,调整照明灯具的输入电压后,重复步骤A至B,直至第三组检测完毕; D、再进行光衰和色坐标的测试,将光衰或色坐标变化未超标的LED灯具按合格品进行包装处理。
【专利摘要】本发明公开了一种照明灯具光衰检测方法,包括将温度检测和光衰检测同时进行,使用一种照明灯光具光衰检测设备对照明灯具同时进行温度检测和光衰检测,所述照明灯光具光衰检测设备包括带门的光衰室,光衰检测装置及热交换机,检测箱体,横穿检测箱体的输送带;其检测包括如下步骤:A.在输送带上放置好待检测的照明灯具,并通过调压器调好照明灯具的输入电压;B.启动光衰检测装置及热交换机的驱动电源,分别按以下三组参数进行温度检测和光衰检测;C.每完毕一组检测后,调整照明灯具的输入电压重复步骤A至B;D.再进行光衰和色坐标的测试。本发明可以解决光衰检测操作环境恶劣,生产效率低,成本高的问题。
【IPC分类】G01M11-02
【公开号】CN104655405
【申请号】CN201410272334
【发明人】潘军铁
【申请人】潘军铁
【公开日】2015年5月27日
【申请日】2014年6月18日
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