砝码检定方法
【技术领域】
[0001] 本发明属于计量技术领域，涉及一种能够对待检砝码进行检定的砝码检定方法。
【背景技术】
[0002] 目前，根据国际法计量组织BIPM制定的国际建议OML Rlll《Weights》和我国制 定的JJG99-2006《砝码检定规程》的相关规定，砝码的检定方法有一对一比较法和组合比 较法，其中，一对一比较法的检定流程相对简单、计算也相对简单所以被广泛应用，但是，这 样的方法不能满足E 1、&等级砝码的检定。所以，必须采用组合比较法进行砝码检定。
[0003] 组合比较法只需采用一个标准砝码就可完成对一套待检砝码的检定，但是，这种 方法在检定流程中，需要将多个砝码作为一组砝码同时进行称量，然而这组砝码在称量时 被平铺在比较仪的秤盘上，由于这样多个砝码距离秤盘中心的位置不一，所以会产生偏载 误差，这样会影响测量结果的精度，从而导致检定结构不够精确。
[0004] 尤其是对于&等级毫克组砝码，根据JJG99-2006《砝码检定规程》的规定只能采 用组合比较法进行检定，在这种情况下，由于砝码本身质量就非常小，偏载误差的存在对检 定结果的影响会更加严重。
【发明内容】
[0005] 本发明是为了解决上述课题而进行的，目的在于提供一种能够对待检砝码组中多 个待检破码更加精确地来进行检定的破码检定方法。
[0006] 本发明提供了一种砝码检定方法，按照组合比较法测量模式，对待检砝码组中多 个待检砝码，使用标准砝码以及与待检砝码组中标称值最小的待检砝码相对应的参检砝码 来进行检定，其特征在于，包括以下步骤：砝码盘采用步骤，采用用于盛放标准砝码的标准 石去码盘、用于盛放参检破码的参检破码盘以及用于 对应地盛放各个待检破码的多个待 检砝码盘；砝码盘质量差值获取步骤，首先采用组合比较法测量模式中的质量差值获取方 式对标准砝码盘、参检砝码盘和各个待检砝码盘的质量进行比较检测，得到标准砝码盘、参 检砝码盘和所有的待检砝码盘之间的一组砝码盘质量差值；砝码盘质量修正值获取步骤， 采用组合比较法测量模式中的质量修正值计算方式，基于一组砝码盘质量差值，得到分别 与参检砝码盘和各个待检砝码盘的相对应的一组砝码盘质量修正值；组件设定步骤，将标 准砝码和标准砝码盘设定为标准组件、将参检砝码和参检砝码盘设定为参检组件以及将各 个待检砝码和对应的待检砝码盘分别设定为多个待检组件；组件质量差值获取步骤，采用 组合比较法测量模式中的质量差值获取方式对标准组件、参检组件和各个待检组件的质量 进行比较检测，得到标准组件、参检组件和所有的待检组件之间的一组组件质量差值；以及 计算检定步骤，根据一组砝码盘质量修正值和一组组件质量差值，基于计算规则计算得到 各个待检砝码的砝码质量修正值，从而得到与各个待检砝码相对应的多个质量检定结果， 其中，在砝码盘质量差值获取步骤中，当需要把至少两个砝码盘放在一起进行比较检测时， 砝码盘是被层层叠加放置在比较仪的秤盘上，在组件差值获取步骤中，当需要把至少两个 组件放在一起进行比较检测时，组件是被层层叠加放置在秤盘上，在每个组件中的砝码相 对于砝码盘的放置位置相同。
[0007] 在本发明提供的砝码检定方法中，还可以具有这样的特征：其中，比较仪采用多层 结构的支撑架来叠加放置至少两个砝码盘，从而使得砝码盘的中心处于秤盘的中轴线上， 比较仪中的支撑架还用来叠加放置至少两个组件，从而使得组件中砝码盘的中心处于秤盘 的中轴线上。在本发明提供的砝码检定方法中，还具有这样的特征：其中，在判定步骤中，检 定结果是待检砝码是否合格。
[0008] 在本发明提供的砝码检定方法中，还可以具有这样的特征：其中，待检砝码组是一 套毫克级别的砝码。
[0009] 在本发明提供的砝码检定方法中，还可以具有这样的特征：其中，待检砝码组含 有标称值分别为：500mg、200mg、200mg、100mg、50mg、20mg、20mg、10mg、5mg、2mg、2mg、Img 的 十二个晕克破码，标准破码是标称值为1000 mg的破码，参检破码是标称值为Img的破码。 [0010] 在本发明提供的砝码检定方法中，还可以具有这样的特征：其中，在计算检定步骤 中，预定计算规则包含折算质量值计算公式和修正值计算公式，折算质量值计算公式为：
【主权项】
1. 一种砝码检定方法，按照组合比较法测量模式，对待检砝码组中多个待检砝码，使用 标准砝码以及与所述待检砝码组中标称值最小的所述待检砝码相对应的参检砝码来进行 检定，其特征在于，包括以下步骤： 砝码盘采用步骤，采用用于盛放所述标准砝码的标准砝码盘、用于盛放所述参检砝码 的参检砝码盘以及用于一一对应地盛放各个所述待检砝码的多个待检砝码盘； 砝码盘质量差值获取步骤，首先采用所述组合比较法测量模式中的质量差值获取方式 对所述标准砝码盘、所述参检砝码盘和各个所述待检砝码盘的质量进行比较检测，得到所 述标准砝码盘、所述参检砝码盘和所有的所述待检砝码盘之间的一组砝码盘质量差值； 砝码盘质量修正值获取步骤，采用所述组合比较法测量模式中的质量修正值计算方 式，基于所述一组砝码盘质量差值，得到分别与所述参检砝码盘和各个所述待检砝码盘的 相对应的一组砝码盘质量修正值； 组件设定步骤，将所述标准砝码和所述标准砝码盘设定为标准组件、将所述参检砝码 和所述参检砝码盘设定为参检组件以及将各个所述待检砝码和对应的所述待检砝码盘分 别设定为多个待检组件； 组件质量差值获取步骤，采用所述组合比较法测量模式中的所述质量差值获取方式对 所述标准组件、所述参检组件和各个所述待检组件的质量进行比较检测，得到所述标准组 件、所述参检组件和所有的所述待检组件之间的一组组件质量差值；以及 计算检定步骤，根据所述一组砝码盘质量修正值和所述一组组件质量差值，基于计算 规则计算得到各个所述待检砝码的砝码质量修正值，从而得到与各个所述待检砝码相对应 的多个质量检定结果， 其中，在所述砝码盘质量差值获取步骤中，当需要把至少两个砝码盘放在一起进行所 述比较检测时，所述砝码盘是被层层叠加放置在比较仪