一种测氡仪刻度因子的定值方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种测氡仪刻度因子的定值方法。
【背景技术】
[0002] 环境中氡污染水平评价、氡的特性研宄及地震预报和资源勘测等示踪应用中需要 对氡进行连续可靠的测量。当环境氡浓度起伏较大时，目前现有测氡仪难以准确地测量其 变化规律，无法满足快速可靠测量的要求。为实现快速追踪环境氡浓度的变化需要采用静 电收集法收集 222Rn衰变产生的第一代子体218P0,并对其衰变产生的高能a粒子能量进行 识别并分别计数，由此反推得到氡的浓度，各个不同测量周期反推得到氡的浓度需要进行 多次反复测量才能得到较的刻度因子，该过程操作繁琐且测量误差大。氡测量时短测量周 期测量当次测量受前一次测量结果影响较大，虽然可以采用迭代修正进行修正，但是对刻 度因子的刻度带来较大误差，参见文献：何正忠，肖德涛，赵桂芝，等，吴喜军.连续测氡方 法迭代修正因子的理论计算与实验测定[J].原子能科学技术，2013,47(6) :1040-1043。
[0003] 因此，有必要设计一种测氡仪刻度因子的定值方法。
【发明内容】
[0004] 本发明所要解决的技术问题是提供一种测氡仪刻度因子的定值方法，该测氡仪刻 度因子的定值方法能快速地对测氡仪刻度因子进行测定，易于实施。
[0005] 发明的技术解决方案如下：
[0006] -种测氡仪刻度因子的定值方法，先确定测量周期为3600s时的刻度因子Ktl，然后 根据下式确定测量周期不为3600s时的测氡仪刻度因子Kx:
【主权项】
1. 一种测氡仪刻度因子的定值方法，其特征在于，先确定测量周期为3600s时的刻度 因子K tl，然后根据下式确定测量周期不为3600s时的测氡仪刻度因子Kx:
其中，λ K和λ P分别为氡222Rn和218Po的衰变常量； Tmq表示测量周期T = 3600s时的氡测量时间； Tmx表示任意测量周期T = 3600s外的其它测量周期的氡测量时间；有Tmx= T-T s，1；为 取样时间，60s < Ts< 300s ;
，其中，为被测环境氡浓度； ANpCTqV是半导体探测器在时间Tmq收到的218Po衰变产生的α粒子数。
2. 根据权利要求1所述的测氡仪刻度因子的定值方法，其特征在于，K χ对应的测量周 期为 900s 和 1800s。
3. 根据权利要求1所述的测氡仪刻度因子的定值方法，其特征在于，被测环境氡浓度 C 由标准氡室的标准测量仪器PQ2000测量得到。
【专利摘要】本发明公开了一种测氡仪刻度因子的定值方法，先确定测量周期为3600s时的刻度因子K0，然后根据下式确定测量周期不为3600s时的测氡仪刻度因子Kx：该方法能快速地对测氡仪刻度因子进行测定，易于实施。
【IPC分类】G01T1-16
【公开号】CN104765060
【申请号】CN201510137825
【发明人】肖德涛, 李志强, 赵桂芝
【申请人】南华大学
【公开日】2015年7月8日
【申请日】2015年3月26日