磁共振成像系统的发射天线电平传感器和磁共振成像系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及磁共振成像技术领域，特别是涉及一种磁共振成像系统的发射天线电平传感器和磁共振成像系统。
【背景技术】
[0002]磁共振成像(Magnetic Resonance Imaging,MRI)是随着计算机技术、电子电路技术、超导体技术的发展而迅速发展起来的一种生物磁学核自旋成像技术。它利用磁场与射频脉冲使人体组织内进动的氢核(即H+)发生振动产生射频信号，经计算机处理而成像。当把物体放置在磁场中，用适当的电磁波照射它，使之共振，然后分析它释放的电磁波，就可以得知构成这一物体的原子核的位置和种类，据此可以绘制成物体内部的精确立体图像。t匕如，可以通过磁共振成像扫描人类大脑获得的一个连续切片的动画，由头顶开始，一直到脚部。
[0003]在MRI系统中，发射天线电平传感器(TALES)是一种精确的射频信号伏特计，用于测量发射线圈的前向和后向功率。比如，在公开号CN1823684A的专利文献中，披露了一种磁共振断层造影系统及高频控制系统。该高频控制系统采用TALES测量发送装置向高频天线发送的前向功率以及高频天线所返回的后向功率。
[0004]TALES长期使用之后容易产生老化等各种故障，造成测量值与实际值发生漂移。在现有技术中，为了克服漂移误差所造成的各种缺陷，需要将TALES定期返厂检查。然而，这种处理方式显著提高了各种成本，并且当漂移发生时通常不能及时发现故障。
【发明内容】
[0005]本发明实施方式提出一种磁共振成像系统的发射天线电平传感器，以及时通知设备状态。
[0006]本发明实施方式提出一种磁共振成像系统，以及时发现故障。
[0007]本发明实施方式的技术方案如下:
[0008]一种磁共振成像系统的发射天线电平传感器，包括:
[0009]一第一检测通道，用于检测一第一射频信号源的一第一功率；
[0010]一第二检测通道，用于检测该第一射频信号源的一第二功率；
[0011]一控制单元，用于比较所述第一功率与所述第二功率得出一第一比较结果，并根据所述第一比较结果发送一第一通知消息。
[0012]所述第一检测通道包括:
[0013]一第一前向检测子通道，用于检测该第一射频信号的一第一前向功率作为所述第一功率；
[0014]所述第二检测通道包括:
[0015]一第二前向检测子通道，用于检测该第二射频信号的一第二前向功率作为所述第二功率。
[0016]所述第一检测通道包含:
[0017]一第一后向检测子通道,用于检测该第一射频信号的一第一后向功率作为所述第一功率；
[0018]所述第二检测通道包含:
[0019]一第二后向检测子通道，用于检测该第二射频信号的一第二后向功率作为所述第二功率。
[0020]所述第一检测通道与所述第二检测通道的检测结构不同。
[0021]所述第一比较结果是所述第一功率与所述第二功率之间的差值大于等于一预定阈值，所述第一通知消息是一报警通知。
[0022]还包括一报警单元，用于接收所述报警通知并发送一报警信号。
[0023]所述第一比较结果是所述第一功率与所述第二功率之间的差值小于一预定阈值，所述第一通知消息是一第一射频信号源功率检测数据。
[0024]所述第一射频信号源功率检测数据是第一功率和第二功率的最大值、最小值或平均值。
[0025]还包括:
[0026]一第三检测通道，用于检测一第二射频信号源的一第三功率；
[0027]—第四检测通道，用于检测该第二射频信号源的一第四功率；
[0028]该控制单元，用于比较所述第三功率与所述第四功率得出一第二比较结果，并根据所述第二比较结果发送一第二通知消息。
[0029]一种磁共振成像系统，包括如上任一所述的发射天线电平传感器。
[0030]从上述技术方案可以看出，本发明的磁共振成像系统的发射天线电平传感器，包括:第一检测通道，用于检测第一射频信号源的第一功率；第二检测通道，用于检测该第射频信号源的第二功率；控制单元，用于比较所述第一功率与所述第二功率得出一第一比较结果，并根据所述第一比较结果发送一第一通知消息。由此可见，应用本发明实施方式之后，基于对发射天线电平传感器内并立检测通道的各自检测结果进行分析，可以及时通知发射天线电平传感器的各种状况信息，包括发射天线电平传感器的故障通知和检测值通知。
[0031]而且，各个检测通道之间的检测子通道可以具有不同的检测结构，避免检测子通道同时发生由检测结构所造成的缺陷故障，从而进一步提高发射天线电平传感器的可靠性。
【附图说明】
[0032]图1为根据本发明磁共振成像系统的发射天线电平传感器结构图。
[0033]图2为根据本发明一实施方式，第一检测通道中的第一前向检测子通道的结构图。
[0034]图3为根据本发明一实施方式，第二检测通道中的第二前向检测子通道的结构图。
[0035]图4为根据本发明另一实施方式，第一检测通道中的第一前向检测子通道的结构图。
[0036]图5为根据本发明另一实施方式，第二检测通道中的第二前向检测子通道的结构图。
[0037]图6为根据本发明磁共振成像系统的发射天线功率检测示意图。
[0038]图7为根据本发明磁共振成像系统的发射天线的功率检测的方法流程图。
【具体实施方式】
[0039]为了使本发明的技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施方式，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的【具体实施方式】仅仅用以阐述性说明本发明，并不用于限定本发明的保护范围。
[0040]为了描述上的简洁和直观,下文通过描述若干代表性的实施方式来对本发明的方案进行阐述。实施方式中大量的细节仅用于帮助理解本发明的方案。但是很明显，本发明的技术方案实现时可以不局限于这些细节。为了避免不必要地模糊了本发明的方案，一些实施方式没有进行细致地描述，而是仅给出了框架。下文中，“包括”是指“包括但不限于”，“根据……”是指“至少根据……，但不限于仅根据……”。由于汉语的语言习惯，下文中没有特别指出一个成分的数量时，意味着该成分可以是一个也可以是多个，或可理解为至少一个。
[0041]图1为根据本发明磁共振成像系统的发射天线电平传感器结构图。
[0042]如图1所示，该发射天线电平传感器包括:
[0043]第一检测通道1，用于检测第一射频信号源SI的第一功率；
[0044]第二检测通道2，用于检测该第一射频信号源SI的第二功率。
[0045]控制单元7，用于比较第一功率与第二功率得出第一比较结果，并根据第一比较结果发送第一通知消息。
[0046]在一个实施方式中，该第一通知消息为第一报警通知消息；该控制单元7，用于当第一功率与第二功率之间的差值大于一预定阈值时发送第一报警通知消息。
[0047]在一个实施方式中，该第一通知消息为第一检测值通知消息；该控制单元7，用于当第一功率与第二功率之间的差值小于一预定阈值时计算第一功率与所述第二功率的一第一平均值，并基于第一平均值生成第一检测值通知消息。
[0048]优选地，在第一检测通道1、第二检测通道2与控制单元7之间还具有A/D采样单J Li 5 ο
[0049]A/D采样单元5分别将第一检测通道I所检测出的模拟信号值以及第二检测通道2所检测出的模拟信号值转换为数字信号值，并分别将这俩数字信号值发送给控制单元7。
[0050]示范性地，控制单元7可以根据预先设定的时间间隔，周期性判断这俩数字信号值是否一致，并当这俩数字信号值之间的差值超过预定阈值时触发。当控制单元7确定触发后，可以通过多种方式向用户发出提醒。比如，控制单元7可以向外围的报警单元发出报警命令，而外围的报警单元接收到报警命令之后，具体执行声、光等各种形