轴截面轮廓参数测量仪器校准用量规的制作方法
【专利说明】
1、
技术领域
[0001]本发明涉及一种组合式量规，尤其适用于利用扫描法检验回转轴对称零件轴截面形状参数的测量仪器的校准。
2、
【背景技术】
[0002]对回转轴对称零件进行轴截面形状参数的检测是常用的质量检验技术。
[0003]轴截面形状参数的测量仪器通过对回转轴对称零件轴截面几何轮廓进行扫描获取测量原始数据，通过对原始数据进行处理，获得轮廓各参数的独立测量结果。其主要特点是利用被测件外形或中心孔确定其轴截面，对轴截面的轮廓进行数据采集和数据处理。
[0004]在进行轴截面形状参数测量仪器校准时，需要使用各种规格的标准量规。标准量规包括光面圆柱塞规和环规、光面圆锥塞规和环规、圆柱螺纹塞规和环规、锥螺纹塞规和环规。校准时，依据被测仪器测量范围的不同，对不同尺寸和不同规格的量规进行测量，与参考值比较，判断仪器准确度是否符合要求。对于大范围测量仪器的校准，需使用的量规尺寸较大，数量较多，完整尺寸的量规体积和重量较大。
3、
【发明内容】
[0005]本发明的目的是提供一种结构简单、易用的组合式量规，用于轴截面轮廓参数测量仪器的校准。
[0006]技术方案如下:组合量规由量规基板和量规标准块构成。通过组合不同尺寸的量规基板和不同类型的量规标准块，构成轴截面轮廓参数测量仪器校准所需的标准量规。
[0007]所述量规基板为圆环或由包含对径局部构成的圆环，其外圆柱面、内圆柱面及端面，用于定位量规的轴线；
[0008]所述的量规标准块包括模拟量规母线形状的内测量面和外测量面；
[0009]所述量规标准块的测量面形状包括平直形状和特殊形状测量面，测量面中线可以包括平行测量轴线和与测量轴线夹角两种情况；
[0010]所述的平直测量面的量规标准块与量规基板构成的组合式量规可替代圆柱或圆锥塞规和环规的轴截面轮廓；
[0011]所述的特殊形状测量面量规标准块与量规基板构成的组合式量规可替代特殊轮廓回转体塞规和环规的轴截面轮廓；例如，测量面为连续60°三角形构成，为可替代圆柱或类圆锥普通螺纹量规的轴截面轮廓。
[0012]组合后的量规，前述量规基板确定的轴线与量规标准块内外测量面的对称面共面。
[0013]本方案的核心是利用量规基板进行量规的安装和调整，利用量规标准块的形状和可溯源性，应用于轴截面轮廓参数测量仪器的校准。
4、【附图说明】
[0014]图1是本发明中标准块与基板组成的量规主视图。图中，1-基板，2-标准块，3-外测量面，4-内测量面，7-量规底面。
[0015]图2是本发明中标准块与基板组成的量规顶视图。图中，5-外定位面，6-内定位面。
[0016]图3是轴截面参数测量仪器用探针扫描外螺纹圆柱量规时的示意图。
5、
【具体实施方式】
[0017]参见图1和图2，本发明的具体实施如下:基板I与不同类型的标准块2组合构成所需要的量规。按测量方式，可代替内尺寸和外尺寸两种类型的量规。
[0018]代替外尺寸量规时，量规的底面7和内定位面5用于定位，测量部位为外测量面3。
[0019]外测量面3由平直片面和特殊形状面(如图为螺纹形状面)组成。外测量面3与轴线平行时，平直片面可构成标准圆柱塞规；螺纹形状面构成标准圆柱螺纹塞规。外测量面3与轴线具有一定夹角时，平直片面可构成标准圆锥塞规；螺纹形状面构成标准圆锥螺纹塞规。
[0020]代替内尺寸量规时，量规的底面7和内定位面6用于定位，测量部位为内测量面4。
[0021]内测量面4由平直片面和特殊形状面(如图为螺纹形状面)组成。内测量面4与轴线平行时，平直片面可构成标准圆柱环规；螺纹形状面构成标准圆柱螺纹环规。内测量面4与轴线具有一定夹角时，平直片面可构成标准圆锥环规；螺纹形状面构成标准圆锥螺纹环规。
[0022]图3给出了轴截面参数测量仪器用探针扫描外螺纹圆柱量规时的示意图。
[0023]总之，以上所述仅为本发明的典型实施示例，凡是依据本发明所作的均等变化与修饰，如采用不同牙形特征参数的特殊形状测量面，皆应属于本发明申请专利的保护范围。
【主权项】
1.一种组合式量规，该量规由基板I和标准块2组合而成，可替代完整回转体的量规，用于检验回转对称零件轴截面形状参数测量仪器。2.根据权利要求1所述的组合式量规，其特征在于所述的组合式量规由基板I和标准板2构成。3.根据权利要求1所述的组合式量规，其特征在于所述的标准块2成对使用，其作用是外测量面3和内测量面4与基板I的轴截面交线可用于代替塞规和环规的对径母线。4.根据权利要求1所述的组合式量规，其特征在于所述的标准块2的测量面形状可以根据需要进行设计，包括平直表面和特殊形状表面。5.根据权利要求1所述的组合式量规，其特征在于所述的平直测量面标准块2与基板I构成的组合式量规可替代光面圆柱或圆锥塞规和环规的轴截面轮廓。6.根据权利要求1所述的组合式量规，其特征在于所述的特殊形状测量面标准块2与基板I构成的组合式量规可替代特殊母线形状的回转体塞规和环规的轴截面轮廓。7.根据权利要求1所述的组合式量规，其特征在于所述的基板底面7与外定位面5或内定位面6，可以代替不同尺寸的完整形状量规的定位方式。
【专利摘要】本发明公开了一种组合式量规，用于模拟具有回转轴量规的轴截面轮廓形状，为轴截面轮廓参数测量仪器的校准提供标准器。该量规由基板1和标准块2组合而成。基板1用于模拟标准量规的定位方式，标准块2的测量面3/4与基板1轴截面的交线，可替代圆柱/圆锥/特殊母线形状的塞规和环规的轴截面轮廓。本发明易于制造、易于溯源，克服了普通量规重量和体积大的缺点，可根据被校仪器测量范围的需要，构成不同规格的量规，有效实现被校仪器的溯源。
【IPC分类】G01B5/20
【公开号】CN105180775
【申请号】CN201510557332
【发明人】王为农, 位恒政, 裴丽梅, 任国营
【申请人】中国计量科学研究院
【公开日】2015年12月23日
【申请日】2015年9月6日