用于在不同观测平台下定位样品中的观测点的方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种用于在不同观测平台下定位样品中的观测点的方法。
【背景技术】
[0002]在传统的地质研究中，通常需要先开展岩石薄片观察，然后再在此基础上进一步开展其他类型的测试分析工作。例如利用激光剥蚀-1CPMS法(激光剥蚀等离子体质谱法)进行裂变径迹定年研究时，需要先在显微镜下挑选适合定年的磷灰石矿物颗粒，之后再利用激光剥蚀观测平台统计分析该磷灰石矿物颗粒的磷含量和钍含量。
[0003]在一种用于在不同观测平台下定位样品中的观测点的方法中，在显微镜下挑选好适合定年的磷灰石矿物颗粒后，再划分包含此磷灰石矿物颗粒的区域。待需要在激光剥蚀观测平台下研究时，在划分好的区域内逐个排除各颗粒，直至找出可进行研究的磷灰石矿物颗粒。此种跨观测平台转换方法使得需要将观测点放在不同观测平台下进行观测时费事费力。
[0004]因此，如何解决需要将观测点放在不同观测平台下进行观测时费事费力的问题，是本领域技术人员需要解决的技术问题。
【发明内容】
[0005]针对上述问题，本发明提出了一种用于在不同观测平台下定位样品中的观测点的方法，方便在不同观测平台下快速找到同一观测点。
[0006]本发明的用于在不同观测平台下定位样品中的观测点的方法，包括下述步骤:在承载有样品的支架上选取至少两个参照点，将承载有样品的支架放在第一观测平台上，确定样品中的观测点N，计算由参照点A、B构成的直线与由观测点N和参照点A构成的直线之间的角度α，将承载有样品的支架放在第二观测平台上，并且基于参照点A、B，根据角度α以及比例系数来定位样品中的所述观测点。
[0007]在一个实施例中，在支架上构建第一观测平台的直角坐标系，并找出参照点Α、B及观测点N的直角坐标，使得通过下式而得到α:
[0008]a = arccos ((LAN2+LAB2_LBN2) / (2LAN X Lbn)),
[0009]其中，Lan为参照点A与观测点N之间的距离，Lab为参照点A、B之间的距离，Lbn为观测点N与参照点B之间的距离。
[0010]在一个实施例中，所述比例系数通过距离Lab与参照点A、B在第二观测平台下的距离Lab'之比而得到。
[0011]在一个实施例中，所述观测点N与参照点A在第二观测平台下的距离LV通过下式计算:Lan , = Lab ' /Lab X Lan，
[0012]并且通过以参照点A为极点，以直线AB为极轴的极坐标点OV，α )来在第二观测平台下定位样品中的所述观测点。
[0013]在一个实施例中，所述比例系数通过观测点N在直线AB的投影点NI和参照点A在第一观测平台下的距离Lani与参照点A、B在第一观测平台下的距离Lab之比而得到。
[0014]在一个实施例中，投影点NI在第二观测平台下的距离Lan/通过下式计算:
[0015]Lani — LAN1/LAB X Lab?
[0016]并且通过直线AB和角度α找出观测点所在的直线以及经过投影点NI并垂直于直线AB的直线在第二观测平台下定位样品中的所述观测点，
[0017]其中，Lab'为参照点Α、Β在第二观测平台下的距离。
[0018]在一个实施例中，参照点Α、B位于所述支架的对角位置。
[0019]在一个实施例中，所述第一观测平台为显微镜，而所述第二观测平台为激光剥蚀观测平台。
[0020]在一个实施例中，所述样品为岩石薄片。
[0021]相对于现有技术，本发明的用于在不同观测平台下定位样品中的观测点的方法包括下述步骤:在承载有样品的支架上选取至少两个参照点。将承载有样品的支架放在第一观测平台上，确定样品中的观测点N。计算由参照点Α、B构成的直线与由观测点N和参照点A构成的直线之间的角度α。将承载有样品的支架放在第二观测平台上，并且基于参照点A、B，根据角度α以及比例系数来定位样品中的观测点。由于该方法可以通过几何关系确定出观测点在第二观测平台下的位置，进而找出观测点，因此省时省力。
【附图说明】
[0022]在下文中将基于实施例并参考附图来对本发明进行更详细的描述。在图中:
[0023]图1为本发明中在第一观测平台下的一种观测状态；
[0024]图2为本发明中在第二观测平台下的观测状态；
[0025]图3为本发明中在第一观测平台下的另一种观测状态。
[0026]在附图中，相同的部件使用相同的附图标记。附图并未按照实际的比例描绘。
【具体实施方式】
[0027]下面将结合附图对本发明作进一步说明。
[0028]本发明提供的一种用于在不同观测平台下定位样品中的观测点的方法中先在承载有样品的支架I上选取至少两个参照点，并将该样品放在第一观测平台上，确定样品中的观测点N。然后计算参照点Α、Β构成的直线与观测点N和参照点A构成的直线之间的角度α。最后将样品放在第二观测平台上，并且基于参照点A、B，根据角度α以及比例系数来重新确定样品中的观测点。由于该方法可以通过几何关系确定出观测点在第二观测平台下的位置，进而找出观测点，因此省事省力。
[0029]在一个具体实施例中，如图1所示，在第一观测平台下找出观测点N前先在支架I上构建直角坐标系，并选取参照点A和B，以防止构建直角坐标系或选取参照点时，使载有观测点N的样品产生错位。此外，选取两个参照点，可以有效地避免因参照点数量过多，导致在构建几何关系时，选错参照点。参照点Α、Β位于观测区域的对角位置，以增加测量的准确性。
[0030]然后测出参照点Α、Β及观测点N的直角坐标点。并将观测点N的直角坐标转换为以参照点A为极点，以直线AB为极轴的极坐标。
[0031]具体转换过程可以为:先计算出参照点A到观测点N的距离Lan、参照点A到参照点B的距离Lab，以及观测点N到参照点B的距离Lbn;之后再根据公式α =arccos ((LAN2+LAB2-LBN2) / (2LAN X Lbn))得到角度 α。
[0032]如图2所示，再然后构建在第二观测平台下的直角坐标系，测出参照点Α、Β的直角坐标点。并计算出参照点A到参照点B的距离Lab'。根据公式Lan' =Lab' /LabXLan而计算出线段AN在第二观测平台下的距离Lan'。
[0033]最后根据