一种电缆绝缘层厚度的检测方法
【专利说明】一种电缆绝缘层厚度的检测方法
[0001]
技术领域
[0002]本发明涉及电缆加工领域，具体是一种电缆绝缘层厚度的检测方法。
【背景技术】
[0003]电缆主要是由内导体、设置于内导体外的绝缘层和包裹于绝缘层外的绝缘层组成，绝缘层的厚度决定了电缆的电气指标。
【发明内容】
[0004]本发明要解决的技术问题是提供一种电缆绝缘层厚度的检测方法，采用红外线测距原理进行多点测量，测量值准确，精度高。
[0005]本发明的技术方案为:
一种电缆绝缘层厚度的检测方法，首先将电缆的绝缘层切割开，然后将绝缘层的两端分别进行固定，最后将两台红外线测距仪分别相对绝缘层的两端面放置，两台红外线测距仪的距离为定值L，然后启动两台红外线测距仪，一台红外线测距仪测量的距离值为S1，另一台红外线测距仪测量的距离值为S2，绝缘层的厚度D=L- S1- S2。
[0006]所述的电缆绝缘层的两端分别夹至于两板夹之间，即绝缘层两端部的两端面分别与对应的板夹贴合夹紧。
[0007]所述的两台红外线测距仪的高度一致，且两台红外线测距仪的连线与绝缘层为垂直关系。
[0008]本发明的优点:
本发明采用红外线测距仪进行测量，测量数值准确，精度高;本发明可对绝缘层的多个位置进行厚度测量，测量值进行对比，当测量值在设定值的范围内，即产品合格，如果某一测定值超过设定范围值，即电缆绝缘层厚度不合格。
【具体实施方式】
[0009]一种电缆绝缘层厚度的检测方法，首先将电缆的绝缘层切割开，然后将绝缘层的两端分别进行固定，最后将两台红外线测距仪分别相对绝缘层的两端面放置，两台红外线测距仪的高度一致，且两台红外线测距仪的连线与绝缘层为垂直关系，两台红外线测距仪的距离为定值L，然后启动两台红外线测距仪，一台红外线测距仪测量的距离值为S1，另一台红外线测距仪测量的距离值为S2，绝缘层的厚度D=L- S1- S2。
[0010]其中，电缆绝缘层的两端分别夹至于两板夹之间，即绝缘层两端部的两端面分别与对应的板夹贴合夹紧。
【主权项】
1.一种电缆绝缘层厚度的检测方法，其特征在于:首先将电缆的绝缘层切割开，然后将绝缘层的两端分别进行固定，最后将两台红外线测距仪分别相对绝缘层的两端面放置，两台红外线测距仪的距离为定值L，然后启动两台红外线测距仪，一台红外线测距仪测量的距离值为S1，另一台红外线测距仪测量的距离值为S2，绝缘层的厚度D=L- S1- S2。2.根据权利要求1所述的一种电缆绝缘层厚度的检测方法，其特征在于:所述的电缆绝缘层的两端分别夹至于两板夹之间，即绝缘层两端部的两端面分别与对应的板夹贴合夹紧。3.根据权利要求1所述的一种电缆绝缘层厚度的检测方法，其特征在于:所述的两台红外线测距仪的高度一致，且两台红外线测距仪的连线与绝缘层为垂直关系。
【专利摘要】本发明公开了一种电缆绝缘层厚度的检测方法，首先将电缆的绝缘层切割开，然后将绝缘层的两端分别进行固定，最后将两台红外线测距仪分别相对绝缘层的两端面放置，两台红外线测距仪的距离为定值L，然后启动两台红外线测距仪，一台红外线测距仪测量的距离值为S1，另一台红外线测距仪测量的距离值为S2，绝缘层的厚度D=L-？S1-S2。发明采用红外线测距仪进行测量，测量数值准确，精度高；本发明可对绝缘层的多个位置进行厚度测量，测量值进行对比，当测量值在设定值的范围内，即产品合格，如果某一测定值超过设定范围值，即电缆厚度不合格。
【IPC分类】G01B11/06
【公开号】CN105423929
【申请号】CN201511007227
【发明人】黄伟, 朱勇, 叶军猛, 汪剑锋
【申请人】合肥星辰电线电缆股份有限公司
【公开日】2016年3月23日
【申请日】2015年12月30日