上直接测量出来的数据，延伸出以下衡量按键触感的一系列间接数据:
Fp-vl = Fpl - Fvl为下压过程中压力峰谷值之差(反映出按键受压后回缩程度的绝对量)；
Fp-v/pl = (Fpl-Fvl ) / Fpl * 100%为下压过程中压力峰谷值之差与峰值之比值(反映按键受压后回缩比例)；
Fp-v2 = Fp2 - Fv2为上升过程中压力峰谷值之差(反映出按键释放过程中回缩程度的绝对量);
Fp-v/p2 = (Fpl-Fvl ) / Fpl * 100%为上升过程中压力峰谷值之差与峰值之比值(反映按键释放过程中回缩比例)；
Spl = Fpl/Dpl为下压过程中峰值力与峰值位移的比值(反映出按键达到压力峰值过程的快慢)；
Spvl = (Fpl-Fvl)/(Dvl-Dpl)为下压过程中峰谷值差值与峰谷值位移之差的比值(反映按键回缩过程的快慢)；
Sp2 = Fpl/Dpl为下压过程中峰值力与峰值位移的比值(反映出按键达到压力峰值过程的快慢)；
Spv2 = (Fp2-Fv2) / (Dp2-Dv2)为上升过程中峰谷值差值与峰谷值位移之差的比值(反映释放时按键回缩过程的快慢)；
步骤3:数据记录与分析，通过主机内的数据采集卡将步骤2中检测出的数据采集，并输入电脑中进行记录与分析；
步骤4:数据处理，使用虚拟仪器软件进行数据分析处理，并通过电脑屏幕输出结果； 步骤5:结果判断，根据电脑输出结果进行产品的合格判断。
[0009]本方法具体实施时，通过按键测力曲线仪进行测试，该按键测力曲线仪结构如附图2、3所示，包括机架1、工作台2、保护罩3、测试主机4、按键测试机构5、显示屏6和按钮7，该按键测试机构5包括龙门支架8、X轴运动机构9、Y轴运动机构10、Z轴运动机构11、产品载具12和检测模组13 ;所述检测模组13包括移动支板14、固定支座15和力传感器16。
[0010]工作时，待加工产品放置在产品载具上进行固定，启动机器，产品载具在电机控制下进行前后移动，检测模组在Z轴运动机构上下移动，Z轴运动机构能够在X轴运动机构上左右移动，这样，力传感器对产品进行全面接触检测，通过力传感器的升降，力传感器末端按压在按键上时，会反馈出按键的压力信号，压力信号传输至测试主机中，测试主机根据上述方法中的公式进行分析、计算和处理，将最终的结果显示在显示屏上。
[0011 ] 本发明方案的一种按键触感的量化方法，可以使得按键生产，装配企业对按键的品质检测方法更加科学，过程更加可靠，不再依赖人工的感觉，而是依靠检测机构及检测软件系统，将按键的按压力度，开闭点行程，下压总行程的所有特征进行全自动量化控制，提升按键行业的质量控制水准。
[0012]以上仅是本发明的具体应用范例，对本发明的保护范围不构成任何限制。凡采用等同变换或者等效替换而形成的技术方案，均落在本发明权利保护范围之内。
【主权项】
1.一种按键触感的量化方法，使用按键测试检测仪，该方法包括以下步骤: 步骤1:产品固定，将待检测的键盘放置在产品载具上，进行固定； 步骤2:数据采集，待检测键盘与力传感器相接触，力传感器感受到的按键反弹力，以及下压过程中按键相对于起始接触点行程，形成按压过程的压力-位移曲线(以下称F-D曲线)，并根据F-D曲线中的特征值和间接运算特征值，表达出按键按压过程中的各种触感数据，其中，Fpl为按键下压过程的峰值压力； Fvl为按键下压过程的谷值压力； Fon为按键下压过程中触点接通时的压力； Dpi为按键下压过程的峰值压力出现时的位移； Dvl为按键下压过程的谷值压力出现时的位移； Don为按键下压过程中触点接通时的位移； Fp2为按键上升过程中的峰值压力； Fv2为按键上升过程的谷值压力； Foff为按键上升过程中触点接通时的压力； Dp2为按键上升过程的峰值压力出现时的位移； Dv2为按键上升过程的谷值压力出现时的位移； Doff为按键上升过程中触点接通时的位移； 基于以上直接测量出来的数据，延伸出以下衡量按键触感的一系列间接数据: Fp-vl = Fpl - Fvl为下压过程中压力峰谷值之差(反映出按键受压后回缩程度的绝对量)； Fp-v/pl = (Fpl-Fvl ) / Fpl * 100%为下压过程中压力峰谷值之差与峰值之比值(反映按键受压后回缩比例)； Fp-v2 = Fp2 - Fv2为上升过程中压力峰谷值之差(反映出按键释放过程中回缩程度的绝对量); Fp-v/p2 = (Fpl-Fvl ) / Fpl * 100%为上升过程中压力峰谷值之差与峰值之比值(反映按键释放过程中回缩比例)； Spl = Fpl/Dpl为下压过程中峰值力与峰值位移的比值(反映出按键达到压力峰值过程的快慢)； Spvl = (Fpl-Fvl)/(Dvl-Dpl)为下压过程中峰谷值差值与峰谷值位移之差的比值(反映按键回缩过程的快慢)； Sp2 = Fpl/Dpl为下压过程中峰值力与峰值位移的比值(反映出按键达到压力峰值过程的快慢)； Spv2 = (Fp2-Fv2) / (Dp2-Dv2)为上升过程中峰谷值差值与峰谷值位移之差的比值(反映释放时按键回缩过程的快慢)； 步骤3:数据记录与分析，通过主机内的数据采集卡将步骤2中检测出的数据采集，并输入电脑中进行记录与分析； 步骤4:数据处理，使用虚拟仪器软件进行数据分析处理，并通过电脑屏幕输出结果； 步骤5:结果判断，根据电脑输出结果进行产品的合格判断。
【专利摘要】本发明涉及一种按键触感的量化方法，通过产品固定、数据采集、数据记录与分析、数据处理和结果判断五个步骤，可以使得按键生产，装配企业对按键的品质检测方法更加科学，过程更加可靠，不再依赖人工的感觉，而是依靠检测机构及检测软件系统，将按键的按压力度，开闭点行程，下压总行程的所有特征进行全自动量化控制，提升按键行业的质量控制水准。
【IPC分类】G01M13/00
【公开号】CN105424338
【申请号】CN201510756855
【发明人】罗光亮
【申请人】苏州辛格顿智能科技有限公司
【公开日】2016年3月23日
【申请日】2015年11月9日