一种基于光干涉技术的叶片表面微结构快速测量方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种植物生理领域，具体涉及一种叶片表面微结构快速测量技术。
【背景技术】
[0002]植物营养学的研究已经证明，叶片作为植物的营养器官，其生长发育状态直接受养分供给的影响。营养水平变化影响植物正常代谢活动，引起植物叶片表面气孔、绒毛、维管束等微结构形态和密度的变化。因此，获取叶片表面的微结构特征对于作物养分诊断和科学研究具有重要的意义。
[0003]叶片表面微结构内活性物质、霉、蛋白质等的变化，造成叶片组织细胞形态、细胞排列以及细胞内含物等一系列微观结构信息变化，当这些微观变化积累到一定程度才会最终引起叶片颜色、大小等宏观特征的变化。因此，可以通过观测叶片表面微观结构特征变化，对作物的养分水平进行早期诊断。目前常用的方法是扫描电镜方法获取叶片表面微结构，该方法前处理复杂，处理周期长，不能实时了解作物的养分情况。本发明试图提供一种叶片表面微结构快速测量方法。
[0004]现有物体表面微结构检测方法主要有:扫描电子显微镜(SEM)成像法，原子力显微成像法以及光干涉成像法等。
[0005]对于叶片表面微结构的研究方法目前主要是扫描电镜(SE M)成像法，扫描电子显微镜是将电子束在样品上进行动态扫描时，将样品上带有形态和结构信息的二次电子逐点逐行地轰击出表面，经检测器处理后再屏幕上显示样品表面的高分辨形貌图像。因为植物叶片含水分较多，且导电性差，因此在成像之前需要进行干燥、喷金等处理，前处理复杂，处理周期长。
[0006]原子力显微镜(atomic force microscopy，AFM)的核心结构时一个对力非常敏感的微悬臂，其尖端有一个微小的探针。当探针靠近样品表面时，探针尖端的原子与样品表面的原子之间产生极其微弱的作用力，从而使微悬臂弯曲。探测器将微悬臂的形变信号转换成光电信号进行放大，就可以得到原子之间力的微弱变化信号，获得作用力的分布信息，从而以纳米级分辨率获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构。大多数植物叶片表面都分布有绒毛，绒毛的高度和直经一般从几微米到几十微米，有的叶片表面绒毛高度可以达到几百微米，尺寸远远大于扫描探针，若对叶片表面进行扫描，会造成探针折断等问题，因此不适合用该方法进行叶片表面结构的测量。
[0007]光干涉测量，是一种利用光干涉原理测量光程差从而测定被测对象表面微结构的方法。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动，而某一束光的光程变化是由它通过的几何路程的变化引起，所以干涉条纹的移动变化可测量几何长度的微小该变量。该方法具有非接触测量、快速、高精度，在表面微结构测量方面应用广泛，目前该方法主要用于材料表面和机械加工表面的测量中。但未见借助该方法测量叶片表面微结构的研究报道。
[0008]现有的叶片表面微结构测量方法存在前处理复杂、处理周期长的问题。本方法采用光干涉技术对叶片表面进行成像和三维形态的表征，无需任何前处理，解决了目前测量方法前处理复杂，处理周期长的问题。
【发明内容】
[0009]本发明目的在于提供一种基于光干涉技术的叶片表面微结构快速测量方法，以实现快速、简单地采集叶片表面气孔、绒毛等微结构特征;并对微结构特征进行表征。为了解决以上技术问题，本发明采用的具体技术方案如下:
[0010]—种基于光干涉技术的植物叶片表面微结构快速测量方法，其特征在于包括以下步骤:
[0011 ] 步骤一，取样并固定:避开主脉切取叶片组织得叶片样本，叶片样本大小为2cm*2cm，并对叶片样本用浓度为4%的戊二醛固定液进行固定;所述的固定为将叶片放到溶液里面，保持其细胞器形态；
[0012]步骤二，将所述叶片样本水平置于载玻片上；
[0013]步骤三:将载有叶片样本的载玻片放置于载物台上，使载玻片底面紧贴载物台上表面;使叶片样本位于镜头正下方；
[0014]步骤四:采用LED光源对所述叶片样本进行照明；
[0015]步骤五:利用光学成像系统，对待测区的叶片样本表面进行成像，根据叶片样本的不同微结构特征，确定不同结构观察时的扫描距离；
[0016]步骤六:确定叶片样本表面微结构的测量基准，获取测量系统测量能评价黄瓜叶片样本表面各微结构的主要参数，包括几何形态参数、高度参数、剖面参数、体积参数。
[0017]所述步骤二具体为:将叶片样本正面朝下，使叶片样本紧贴于25.4mm X 76.2mm载玻片，并处于水平。
[0018]3.根据权利要求1所述的一种基于光干涉技术的叶片表面微结构测量方法，其特征在于所述步骤四具体为:在给定的四种照明方式中选择高亮度LED照明；所述四种照明方式为:反射明视场LED照明、反射暗视场LED照明、高亮度LED照明和透射LED照明。
[0019]所述步骤五具体为:观察气孔、叶肉细胞以及维管束时，采集的高度范围是20um;需要观察绒毛时，采集的高度范围是200um。
[0020]所述测量基准为叶片样本的叶肉组织表皮细胞的最低点；利用光学测量系统，测量所述叶片样本表面的微结构特征包括:叶片表面气孔、叶肉表皮细胞、维管束、绒毛的形态特征;所述气孔用几何测量方法来测量其大小，用高度测量、剖面测量和体积测量方法来测量气孔形态并加以表征；叶肉细胞形态用指定50um*50um区域内叶肉细胞的体积测量来表征叶肉细胞的形态特征;用几何测量、剖面测量和体积测量的方法来表征维管束的特征。
[0021]本发明具有有益效果。本发明借助光干涉技术，可以快速、简便地获取叶片表面微结构;本发明从微观尺度出发，探求了叶片表面微结构特征的表达参数，能定量描述叶片表面的各微结构特征;本发明可以通过对表面微结构参数的定量分析，为作物的生长状态评价提供依据;本发明提供了一种叶片表面微结构的快速测量方法。
【附图说明】
[0022]图1本发明一种基于光干涉技术的叶片表面微结构测量方法的测量光路示意图。
[0023]图2是本发明测量原理示意图；
[0024]图3a是本发明黄瓜叶片表面绒毛二维结构图；
[0025]图3b是本发明黄瓜叶片表面绒毛三维结构图；
[0026]图3c是本发明黄瓜叶片