一种测试系统的校准方法及系统的制作方法
【专利摘要】本发明所提供了一种测试系统的校准方法及系统，所述方法控制信号源将源信号输入到所述测试系统的系统输入端，并通过所述测试系统的被测器件输入端将所述源信号输入到功率放大装置中，所述功率放大装置对所述源信号进行放大处理后生成放大信号；控制测量仪器在所述测试系统的系统输出端读取第一输出信号，根据所述源信号、所述第一输出信号和所述功率放大装置的标称值数据，计算所述测试系统的第一插入损耗数据，并根据所述第一插入损耗数据对所述测试系统进行大功率校准。因此本发明实施例可以在大功率下对测试系统进行校准，进而可以得到被测器件大功率状态下的测量数据。
【专利说明】
一种测试系统的校准方法及系统
技术领域
[0001]本发明涉及自动测试技术领域，尤其涉及一种测试系统的校准方法及系统。【背景技术】
[0002]微波器件在使用前需要进行器件参数的检测。现有技术中，是通过测试系统对被测器件进行检测的，而测试系统由于仪器的插入损耗等原因在检测中会存在检测误差，因此，在使用测试系统前需要对测试系统进行校准。
[0003]现有对测试系统的校准方法和系统中，采用测量仪器提供源信号的输入，经过测试系统后，采用功率计或者频谱仪等测量仪器进行插入损耗等数据的测试，将插入损耗等数据作为校准数据，测试系统在检测被测器件时将校准数据修正到检测结果中，从而输出被测器件的准确测量数据。
[0004]在实际使用中，被测器件在大功率和小功率下的工作状态是不同的，而现有技术中由于源信号的功率较小，只能对测试系统进行小功率测试的校准，因此只能反映出被测器件在小功率状态下的测量数据，但是不能准确反映出被测器件在大功率状态下的测量数据。
【发明内容】
[0005]本发明提供了一种测试系统的校准方法及系统，以便于在大功率下对测试系统进行校准，进而可以准确得到被测器件大功率状态下的测量数据。
[0006]本发明提供的一种测试系统的校准方法，用于对测试系统进行校准，包括:
[0007]控制信号源将源信号输入到所述测试系统的系统输入端，并通过所述测试系统的被测器件输入端将所述源信号输入到功率放大装置中；所述功率放大装置用于对所述源信号进行放大处理后生成放大信号；
[0008]将所述功率放大装置对所述源信号进行放大处理后生成的所述放大信号输入到所述测试系统的被测器件输出端，并控制测量仪器在所述测试系统的系统输出端读取第一输出信号；
[0009]根据所述源信号、所述第一输出信号和所述功率放大装置的标称值数据，计算所述测试系统的第一插入损耗数据，并根据所述第一插入损耗数据对所述测试系统进行大功率校准。
[0010]优选的，所述根据所述源信号、所述第一输出信号和所述功率放大装置的标称值数据，计算所述测试系统的第一插入损耗数据，包括:
[0011]控制所述信号源将所述源信号输入到所述功率放大装置中，将所述功率放大装置对所述源信号进行放大处理后生成的所述放大信号输入到衰减器中，并控制所述测量仪器读取所述衰减器输出的第一衰减信号；
[0012]根据线路插入损耗数据、所述衰减器的衰减值数据、所述源信号和所述第一衰减信号，计算所述功率放大装置的所述标称值数据；
[0013]根据所述第一输出信号和所述标称值数据，计算所述测试系统的第一插入损耗数据。[〇〇14]优选的，所述根据线路插入损耗数据、所述衰减器的衰减值数据、所述源信号和所述第一衰减信号，计算所述功率放大装置的所述标称值数据，包括:
[0015]控制所述信号源将所述源信号输入到所述测量仪器中，并控制所述测量仪器读取测量信号，根据所述源信号和所述测量信号计算所述线路插入损耗数据；
[0016]控制所述信号源将所述源信号输入到所述衰减器中，并控制所述测量仪器读取所述衰减器输出的第二衰减信号，根据所述源信号、所述线路插入损耗数据和所述第二衰减信号计算所述衰减器的所述衰减值数据；
[0017]根据所述线路插入损耗数据、所述衰减值数据、所述源信号和所述第一衰减信号， 计算所述功率放大装置的所述标称值数据。
[0018]优选的，还包括:
[0019]控制所述信号源将所述源信号输入到所述测试系统的所述系统输入端，并控制所述测量仪器在所述被测器件输入端读取第二输出信号；
[0020]根据所述源信号、所述线路插入损耗数据和所述第二输出信号，计算所述测试系统的前端插入损耗数据。
[0021]优选的，还包括:
[0022]控制信号源将源信号输入到所述测试系统的所述系统输入端，并通过所述测试系统的所述被测器件输入端将所述源信号输入到所述测试系统的所述被测器件输出端，并控制测量仪器在所述测试系统的系统输出端读取第三输出信号；
[0023]根据所述源信号、所述第三输出信号和所述前端插入损耗数据，计算所述测试系统的第二插入损耗数据，并根据所述第二插入损耗数据对所述测试系统进行小功率校准。
[0024]本发明另一方面公开了一种测试系统的校准系统，用于对测试系统进行校准，包括:[〇〇25]第一输入模块，用于控制信号源将源信号输入到所述测试系统的系统输入端，并通过所述测试系统的被测器件输入端将所述源信号输入到功率放大装置中；所述功率放大装置用于对所述源信号进行放大处理后生成放大信号；
[0026]检测模块，用于将所述功率放大装置对所述源信号进行放大处理后生成的所述放大信号输入到所述测试系统的被测器件输出端，并控制测量仪器在所述测试系统的系统输出端读取第一输出信号；
[0027]第一计算模块，用于根据所述源信号、所述第一输出信号和所述功率放大装置的标称值数据，计算所述测试系统的第一插入损耗数据，并根据所述第一插入损耗数据对所述测试系统进行大功率校准。[〇〇28]优选的，所述计算模块包括:[〇〇29]输入单元，用于控制所述信号源将所述源信号输入到所述功率放大装置中，将所述功率放大装置对所述源信号进行放大处理后生成的所述放大信号输入到衰减器中，并控制所述测量仪器读取所述衰减器输出的第一衰减信号；
[0030]第一计算单元，用于根据线路插入损耗数据、所述衰减器的衰减值数据、所述源信号和所述第一衰减信号，计算所述功率放大装置的所述标称值数据；
[0031]第二计算单元，用于根据所述第一输出信号和所述标称值数据，计算所述测试系统的第一插入损耗数据。
[0032]优选的，所述第一计算单元包括:
[0033]第一计算子单元，用于控制所述信号源将所述源信号输入到所述测量仪器中，并控制所述测量仪器读取测量信号，根据所述源信号和所述测量信号计算所述线路插入损耗数据；
[0034]第二计算子单元，用于控制所述信号源将所述源信号输入到所述衰减器中，并控制所述测量仪器读取所述衰减器输出的第二衰减信号，根据所述源信号、所述线路插入损耗数据和所述第二衰减信号计算所述衰减器的所述衰减值数据；
[0035]第三计算子单元，用于根据所述线路插入损耗数据、所述衰减值数据、所述源信号和所述第一衰减信号，计算所述功率放大装置的所述标称值数据。[〇〇36] 优选的，还包括:
[0037]第二输入模块，用于控制所述信号源将所述源信号输入到所述测试系统的所述系统输入端，并控制所述测量仪器在所述被测器件输入端读取第二输出信号；[〇〇38]第二计算模块，用于根据所述源信号、所述线路插入损耗数据和所述第二输出信号，计算所述测试系统的前端插入损耗数据。[〇〇39] 优选的，还包括:
[0040]第三输入模块，用于控制信号源将源信号输入到所述测试系统的所述系统输入端，并通过所述测试系统的所述被测器件输入端将所述源信号输入到所述测试系统的所述被测器件输出端，并控制测量仪器在所述测试系统的系统输出端读取第三输出信号；
[0041]第三计算模块，用于根据所述源信号、所述第三输出信号和所述前端插入损耗数据，计算所述测试系统的第二插入损耗数据，并根据所述第二插入损耗数据对所述测试系统进行小功率校准。
[0042]经过上述技术方案可知，本发明所提供了一种测试系统的校准方法及系统，所述方法控制信号源将源信号输入到所述测试系统的系统输入端，并通过所述测试系统的被测器件输入端将所述源信号输入到功率放大装置中，所述功率放大装置对所述源信号进行放大处理后生成放大信号；控制测量仪器在所述测试系统的系统输出端读取第一输出信号， 根据所述源信号、所述第一输出信号和所述功率放大装置的标称值数据，计算所述测试系统的第一插入损耗数据，并根据所述第一插入损耗数据对所述测试系统进行大功率校准。 因此本发明实施例可以在大功率下对测试系统进行校准，进而可以得到被测器件大功率状态下的测量数据。【附图说明】
[0043]为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0044]图1为本发明实施例公开的一种测试系统的校准方法的流程图；
[0045]图2是本发明实施例对测试系统进行大功率校准时的环境架构示意图；
[0046]图3为本发明实施例公开的一种测试系统的校准方法的另一种流程图；
[0047]图4为本发明实施例公开的一种测试系统的校准方法的又一种流程图；
[0048]图5为本发明实施例公开的一种测试系统的校准系统的结构示意图。【具体实施方式】[〇〇49]下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0050]在介绍本发明的具体实现方式之前，首先介绍一下本发明的实现原理，本发明采用信号源输出源信号，经功率放大装置和测试系统后，连接到测量仪器，经过计算后测得测试系统的插入损耗数据，因此，使用插入损耗数据对对测试系统进行校准后，可以通过测试系统得到被测器件在大功率状态下的测量数据。下面，对本申请的方案进行具体的介绍。
[0051]图1是本发明实施例提供的一种测试系统的校准方法的流程图。[〇〇52]参见图1，本发明提供的一种测试系统的校准方法，包括:[〇〇53]S101、控制信号源将源信号输入到所述测试系统的系统输入端，并通过所述测试系统的被测器件输入端将所述源信号输入到功率放大装置中；所述功率放大装置用于对所述源信号进行放大处理后生成放大信号；
[0054]本发明实施例中，测试系统是用于测量器件某项数据的系统，测试系统中，包括有系统输入端、系统输出端、被测件输入端、被测件输出端。由于插入损耗等因素，在使用测试系统对微波器件等部件进行测量前，需要对测试系统进行校准，也就是对测试系统测量精度的误差修正。在对测试系统进行校准后，将被测器件连接到被测件输入和被测件输出端， 使用测试系统测量被测器件的数据，得到被测器件的测量数据。
[0055]本申请实施例中的测量仪器可以是功率计或频谱仪等读取信号的设备，可以生成校准使用的标准射频信号，作为测试用信号源。
[0056]在本步骤中，首先将测试线缆由信号源连接到测试系统的系统输入端，将被测系统的输出端连接到测量仪器，将功率放大装置的输入端与被测件输入端相连接，功率放大装置的输出端与被测件输出端相连接。
[0057]功率放大装置的作用是将源信号进行放大处理后，生成放大信号，并将放大信号返回到测试系统中。当然，本申请中使用的功率放大装置可以使用已知的功率放大设备，只要起到放大信号的作用即可。
[0058]在实际使用时，信号源、功率放大装置、测试系统以及测量仪器都还与控制计算机相连接，控制计算机使用软件控制信号源输出源信号。在实际使用时，需要打开功率放大装置的电源，使功率放大装置可以正常通电工作。[〇〇59]S102、将所述功率放大装置对所述源信号进行放大处理后生成的所述放大信号输入到所述测试系统的被测器件输出端，并控制测量仪器在所述测试系统的系统输出端读取第一输出信号；
[0060]在本步骤中，测量仪器读取测试系统的系统输出所输出的第一输出信号，由于源信号经过功率放大装置进行了放大处理，因此，此时读取的是在大功率下测试系统的输出信号。
[0061]在实际使用中，控制计算机控制测量仪器读取第一输出信号，并进行保存。[〇〇62]S103、根据所述源信号、所述第一输出信号和所述功率放大装置的标称值数据，计算所述测试系统的第一插入损耗数据，并根据所述第一插入损耗数据对所述测试系统进行大功率校准。[〇〇63]在本步骤中，根据源信号、第一输出信号、功率放大装置的标称值数据，可以计算出测试系统的第一插入损耗数据。其中，功率放大装置的标称值数据是预先存储的数据，假设为A;根据源信号0和第一输出信号B可以对应得到第一输出数据C，其中C = 〇-B。然后使用标称值数据减去第一输出数据即使用A-C，就可以得到测试系统的第一插入损耗数据。然后，根据第一插入损耗数据对测试系统进行校准。
[0064]实际使用中，控制计算机还将第一插入损耗数据进行保存。
[0065]本发明所提供了一种测试系统的校准方法，所述方法控制信号源将源信号输入到所述测试系统的系统输入端，并通过所述测试系统的被测器件输入端将所述源信号输入到功率放大装置中，所述功率放大装置对所述源信号进行放大处理后生成放大信号;控制测量仪器在所述测试系统的系统输出端读取第一输出信号，根据所述源信号、所述第一输出信号和所述功率放大装置的标称值数据，计算所述测试系统的第一插入损耗数据，并根据所述第一插入损耗数据对所述测试系统进行大功率校准。因此本发明实施例可以在大功率下对测试系统进行校准，进而可以得到被测器件大功率状态下的测量数据。
[0066]为了更清楚的说明本申请实施例中校准方法的工作流程，本申请实施例中的校准方法在实际使用时，硬件的连接方式以及信号的流向参见图2,图2是本发明实施例对测试系统进行大功率校准时的环境架构示意图。
[0067]参考图2所示，在硬件连接上，控制计算机分别与信号源、测试系统、功率放大装置、测量仪器使用相应的连接线相连接。信号源与测试系统的系统输入端相连接，测试系统的系统输出端与测量仪器的输入端相连接，测试系统中的被测件输入端和被测件输出端之间设置有功率放大装置。
[0068]其中，测试系统是需要进行校准的系统。在对测试系统进行使用时，测试系统的被测件输入端和被测件输入端用来连接被测器件，在对测试系统进行校准时，则不连接被测器件。
[0069]在信号流向上，使用本申请实施例的校准方法时，控制计算机控制信号源输出源信号，经由测试系统的系统输入端，从被测件输入端输出到功率放大装置的输入端，控制计算机控制功率放大装置通道的工作，并通过功率放大装置的输出端将进行放大处理后的源信号输出到被测件输出端，控制计算机控制测试系统切换工作通道，通过系统输出端输出到测量器件的输入端，由控制计算机读取测量仪器输出端口的读数。完成校准方法的流程。
[0070]由于预先存储的功率放大装置的标称值数据在实际使用中有可能不精确，因此， 为了保证功率放大装置的标称值数据的精确度，同时为了确定功率放大装置可以正常工作，本发明在上述实施例的基础上，还测量功率放大装置的标称值数据。
[0071]为了得到功率放大装置的标称值数据，上述步骤S103具体包括:
[0072]控制所述信号源将所述源信号输入到所述功率放大装置中，将所述功率放大装置对所述源信号进行放大处理后生成的所述放大信号输入到衰减器中，并控制所述测量仪器读取所述衰减器输出的第一衰减信号；
[0073]根据线路插入损耗数据、所述衰减器的衰减值数据、所述源信号和所述第一衰减信号，计算所述功率放大装置的所述标称值数据；
[0074]根据所述第一输出信号和所述标称值数据，计算所述测试系统的第一插入损耗数据；
[0075]并根据所述第一插入损耗数据对所述测试系统进行大功率校准。
[0076]本发明实施例中，计算功率放大装置的标称值数据时，需要将衰减器与功率放大装置进行连接，将所述功率放大装置对所述源信号进行放大处理后生成的所述放大信号输入到衰减器中。衰减器在本发明中所起到的作用是将大功率信号衰减至小信号，保护测量仪器使其免于被损坏。将测量仪器与衰减器的输出端连接，读取经过衰减器后的第一衰减信号。第一衰减信号对应的数据就是在大功率下衰减器的工作损耗数据。
[0077]然后根据线路插入损耗数据、所述衰减器的衰减值数据、所述源信号和所述第一衰减信号，计算所述功率放大装置的所述标称值数据。其中，线路插入损耗数据是预先进行存储的数据，具体是指信号源连接线缆的线路插入损耗数据。衰减器的衰减值数据是预先存储的数据。根据源信号0和第一衰减信号D可以得到第二输出数据E，即0_D = E。使用第二输出数据减去线路插入损耗数据和衰减值数据可以得到功率放大装置的标称值数据A，并进行存储。
[0078]实际使用中，功率放大装置具有1-n个通道，控制计算机控制信号源输出数据源信号到功率放大装置中，然后控制功率放大装置的通道进行切换，根据测试通道的不同，将信号源输出端连接对应的测试通道，依次完成功率放大装置各通道的标称值数据，并存储相应的数据。[〇〇79]当然，在上述实施例中，读取第一输出信号时，也是控制功率放大装置从通道l_n 分别输出数据后得到每个通道对应的输出信号，并分别与功率放大装置的每个通道的标称值数据进行运算，得到测试系统的插入损耗数据。
[0080]在本申请实施例中，线路插入损耗数据和衰减器的衰减值数据同样也可以通过测试得到。
[0081]优选的，所述根据线路插入损耗数据、所述衰减器的衰减值数据、所述源信号和所述第一衰减信号，计算所述功率放大装置的所述标称值数据，包括:
[0082]控制所述信号源将所述源信号输入到所述测量仪器中，并控制所述测量仪器读取测量信号，根据所述源信号和所述测量信号计算所述线路插入损耗数据；[〇〇83]控制所述信号源将所述源信号输入到所述衰减器中，并控制所述测量仪器读取所述衰减器输出的第二衰减信号，根据所述源信号、所述线路插入损耗数据和所述第二衰减信号计算所述衰减器的所述衰减值数据；
[0084]根据所述线路插入损耗数据、所述衰减值数据、所述源信号和所述第一衰减信号， 计算所述功率放大装置的所述标称值数据。
[0085]本申请实施例中，计算线路插入损耗数据时，需要将测量仪器与信号源连接线缆进行连接，然后控制信号源输出源信号，经过信号源连接线缆后，读取测量仪器的读数，得到线路插入损耗数据。[〇〇86]衰减值数据是衰减器不连接功率放大装置时的损耗数据，使用信号源连接线分别与信号源以及衰减器连接，衰减器另一端连接测量仪器，控制信号源输出源信号，控制测量仪器读取第二衰减信号，并得到第三输出数据，使用第三输出数据减去线路插入损耗数据就可以得到衰减值数据。
[0087]需要说明的是，本发明实施例中所使用的是半通路的校准方式，也就是信号源到连接线、连接线到测量仪器分别进行校准的方式。
[0088]本发明实施例中，还可以计算测试系统的前端插入损耗数据。图2是本申请实施例提供的一种测试系统的校准方法的另一种流程图。
[0089]参见图3所示。为了更加精确的得知测试系统的插入损耗数据，本发明提供的一种测试系统的校准方法包括:
[0090]S201、控制信号源将源信号输入到所述测试系统的系统输入端，并通过所述测试系统的被测器件输入端将所述源信号输入到功率放大装置中；所述功率放大装置用于对所述源信号进行放大处理后生成放大信号；
[0091]S202、将所述功率放大装置对所述源信号进行放大处理后生成的所述放大信号输入到所述测试系统的被测器件输出端，并控制测量仪器在所述测试系统的系统输出端读取第一输出信号；[〇〇92]S203、根据所述源信号、所述第一输出信号和所述功率放大装置的标称值数据，计算所述测试系统的第一插入损耗数据，并根据所述第一插入损耗数据对所述测试系统进行大功率校准；[〇〇93]S204、控制所述信号源将所述源信号输入到所述测试系统的所述系统输入端，并控制所述测量仪器在所述被测器件输入端读取第二输出信号；[〇〇94]S205、根据所述源信号、所述线路插入损耗数据和所述第二输出信号，计算所述测试系统的前端插入损耗数据。[〇〇95] 本发明实施例中，步骤S201、S202、S203与上述实施例中的步骤S101、S102、S103相同，在此不再赘述。步骤S204、S205中，预先将信号源连接测试系统的输入端，控制计算机控制源信号输入到所述测试系统的所述系统输入端，测量仪器连接到测试系统的被测件输入端，读取第二输出信号，根据源信号、所述线路插入损耗数据和所述第二输出信号，计算所述测试系统的前端插入损耗数据。也就是使用源信号减去插入损耗数据和第二输出信号， 得到前端插入损耗数据。并存储前端插入损耗数据。
[0096]实际使用中，在对测试系统进行校准时，还可以根据前端插入损耗数据及第一插入损耗数据对测试系统进行校准。在实际使用中，由于前端插入损耗数据在大功率下对测试系统的影响不大，因此，在大功率下对测试系统进行校准时，可以只是用第一插入损耗数据对测试系统进行校准即可。
[0097]本发明实施例中，不但可以对测试系统进行大功率的校准，还可以对测试系统进行小功率的校准，因此，在上述实施例的基础上，本发明实施例还提供一种测试系统的校准方法，参照图4所示，包括:[〇〇98]S301、控制信号源将源信号输入到所述测试系统的系统输入端，并通过所述测试系统的被测器件输入端将所述源信号输入到功率放大装置中；所述功率放大装置用于对所述源信号进行放大处理后生成放大信号；[〇〇99]S302、将所述功率放大装置对所述源信号进行放大处理后生成的所述放大信号输入到所述测试系统的被测器件输出端，并控制测量仪器在所述测试系统的系统输出端读取第一输出信号；
[0100]S303、根据所述源信号、所述第一输出信号和所述功率放大装置的标称值数据，计算所述测试系统的第一插入损耗数据，并根据所述第一插入损耗数据对所述测试系统进行大功率校准；
[0101]S304、控制所述信号源将所述源信号输入到所述测试系统的所述系统输入端，并控制所述测量仪器在所述被测器件输入端读取第二输出信号；
[0102]S305、根据所述源信号、所述线路插入损耗数据和所述第二输出信号，计算所述测试系统的前端插入损耗数据；
[0103]S306、控制信号源将源信号输入到所述测试系统的所述系统输入端，并通过所述测试系统的所述被测器件输入端将所述源信号输入到所述测试系统的所述被测器件输出端，并控制测量仪器在所述测试系统的系统输出端读取第三输出信号；
[0104]S307、根据所述源信号、所述第三输出信号和所述前端插入损耗数据，计算所述测试系统的第二插入损耗数据，并根据所述第二插入损耗数据对所述测试系统进行小功率校准。
[0105]本发明实施例中，还可以对测试系统进行小功率的校准。对测试系统进行小功率的校准时，首先计算出前端插入损耗数据，计算方式与上述实施例相同，在此不再赘述。
[0106]在得到前端插入损耗数据的前提下，在步骤S306和S307中，将功率放大装置省略， 直接控制测量仪器读取第三输出信号，并根据源信号得到第四输出数据，也就是使用源信号减去第三输出信号得到第四输出数据。将第四输出数据与所述前端插入损耗数据做差， 得到了用于对测试系统小功率校准的第二插入损耗数据。可以根据实际需要在测试系统对器件进行小功率测量前，根据第二插入损耗数据对测试系统进行小功率校准。
[0107]因此，本发明实施例不但可以对测试系统进行大功率的校准，还可以对测试系统进行小功率的校准。
[0108]本发明另一方面公开了一种测试系统的校准系统，用于对测试系统进行校准。
[0109]图5是本发明提供的一种测试系统的校准系统的结构示意图。
[0110]参见图5,本发明的一种测试系统的校准系统包括:
[0111]第一输入模块401，用于控制信号源将源信号输入到所述测试系统的系统输入端， 并通过所述测试系统的被测器件输入端将所述源信号输入到功率放大装置中；所述功率放大装置用于对所述源信号进行放大处理后生成放大信号；[〇112]检测模块402,用于将所述功率放大装置对所述源信号进行放大处理后生成的所述放大信号输入到所述测试系统的被测器件输出端，并控制测量仪器在所述测试系统的系统输出端读取第一输出信号；
[0113]第一计算模块403,用于根据所述源信号、所述第一输出信号和所述功率放大装置的标称值数据，计算所述测试系统的第一插入损耗数据，并根据所述第一插入损耗数据对所述测试系统进行大功率校准。[〇114]优选的，所述计算模块包括:
[0115]输入单元，用于控制所述信号源将所述源信号输入到所述功率放大装置中，将所述功率放大装置对所述源信号进行放大处理后生成的所述放大信号输入到衰减器中，并控制所述测量仪器读取所述衰减器输出的第一衰减信号；
[0116]第一计算单元，用于根据线路插入损耗数据、所述衰减器的衰减值数据、所述源信号和所述第一衰减信号，计算所述功率放大装置的所述标称值数据；
[0117]第二计算单元，用于根据所述第一输出信号和所述标称值数据，计算所述测试系统的第一插入损耗数据。
[0118]优选的，所述第一计算单元包括:
[0119]第一计算子单元，用于控制所述信号源将所述源信号输入到所述测量仪器中，并控制所述测量仪器读取测量信号，根据所述源信号和所述测量信号计算所述线路插入损耗数据；
[0120]第二计算子单元，用于控制所述信号源将所述源信号输入到所述衰减器中，并控制所述测量仪器读取所述衰减器输出的第二衰减信号，根据所述源信号、所述线路插入损耗数据和所述第二衰减信号计算所述衰减器的所述衰减值数据；
[0121]第三计算子单元，用于根据所述线路插入损耗数据、所述衰减值数据、所述源信号和所述第一衰减信号，计算所述功率放大装置的所述标称值数据。
[0122]优选的，还包括:
[0123]第二输入模块，用于控制所述信号源将所述源信号输入到所述测试系统的所述系统输入端，通过所述测试系统的所述被测器件输入端将所述源信号输入到所述测试系统的所述被测器件输出端，并控制所述测量仪器在所述被测器件输出端读取第二输出信号；
[0124]第二计算模块，用于根据所述源信号、所述线路插入损耗数据和所述第二输出信号，计算所述测试系统的前端插入损耗数据。
[0125]优选的，还包括:
[0126]第三输入模块，用于控制信号源将源信号输入到所述测试系统的所述系统输入端，并通过所述测试系统的所述被测器件输入端将所述源信号输入到所述测试系统的所述被测器件输出端，并控制测量仪器在所述测试系统的系统输出端读取第三输出信号；
[0127]第三计算模块，用于根据所述源信号、所述第三输出信号和所述前端插入损耗数据，计算所述测试系统的第二插入损耗数据，并根据所述第二插入损耗数据对所述测试系统进行小功率校准。
[0128]本发明所提供了一种测试系统的校准系统，所述系统控制信号源将源信号输入到所述测试系统的系统输入端，并通过所述测试系统的被测器件输入端将所述源信号输入到功率放大装置中，所述功率放大装置对所述源信号进行放大处理后生成放大信号;控制测量仪器在所述测试系统的系统输出端读取第一输出信号，根据所述源信号、所述第一输出信号和所述功率放大装置的标称值数据，计算所述测试系统的第一插入损耗数据，并根据所述第一插入损耗数据对所述测试系统进行大功率校准。因此本发明实施例可以在大功率下对测试系统进行校准，进而可以得到被测器件大功率状态下的测量数据。并且还可以对测试系统进行小功率的校准，也可以得到被测器件小功率状态下的测量数据。
[0129]需要说明的是，本实施例的一种测试系统的校准系统可以采用上述方法实施例中的一种测试系统的测试方法，用于实现上述方法实施例中的全部技术方案，其各个模块的功能可以根据上述方法实施例中的方法具体实现，其具体实现过程可参照上述实施例中的相关描述，此处不再赘述。
[0130]为了描述的方便，描述以上系统时以功能分为各种模块分别描述。当然，在实施本申请时可以把各模块的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现。
[0131]本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于装置或系统实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述得比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置及系统实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。
[0132]专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
[0133]结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(R0M)、电可编程R0M、电可擦除可编程R0M、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。
[0134]对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。 对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
【主权项】
1.一种测试系统的校准方法，用于对测试系统进行校准，其特征在于，包括:控制信号源将源信号输入到所述测试系统的系统输入端，并通过所述测试系统的被测 器件输入端将所述源信号输入到功率放大装置中；所述功率放大装置用于对所述源信号进 行放大处理后生成放大信号；将所述功率放大装置对所述源信号进行放大处理后生成的所述放大信号输入到所述 测试系统的被测器件输出端，并控制测量仪器在所述测试系统的系统输出端读取第一输出信号；根据所述源信号、所述第一输出信号和所述功率放大装置的标称值数据，计算所述测 试系统的第一插入损耗数据，并根据所述第一插入损耗数据对所述测试系统进行大功率校准。2.根据权利要求1所述的校准方法，其特征在于，所述根据所述源信号、所述第一输出 信号和所述功率放大装置的标称值数据，计算所述测试系统的第一插入损耗数据，包括:控制所述信号源将所述源信号输入到所述功率放大装置中，将所述功率放大装置对所 述源信号进行放大处理后生成的所述放大信号输入到衰减器中，并控制所述测量仪器读取 所述衰减器输出的第一衰减信号；根据线路插入损耗数据、所述衰减器的衰减值数据、所述源信号和所述第一衰减信号， 计算所述功率放大装置的所述标称值数据；根据所述第一输出信号和所述标称值数据，计算所述测试系统的第一插入损耗数据。3.根据权利要求2所述的校准方法，其特征在于，所述根据线路插入损耗数据、所述衰 减器的衰减值数据、所述源信号和所述第一衰减信号，计算所述功率放大装置的所述标称 值数据，包括:控制所述信号源将所述源信号输入到所述测量仪器中，并控制所述测量仪器读取测量 信号，根据所述源信号和所述测量信号计算所述线路插入损耗数据；控制所述信号源将所述源信号输入到所述衰减器中，并控制所述测量仪器读取所述衰 减器输出的第二衰减信号，根据所述源信号、所述线路插入损耗数据和所述第二衰减信号 计算所述衰减器的所述衰减值数据；根据所述线路插入损耗数据、所述衰减值数据、所述源信号和所述第一衰减信号，计算 所述功率放大装置的所述标称值数据。4.根据权利要求3所述的校准方法，其特征在于，还包括:控制所述信号源将所述源信号输入到所述测试系统的所述系统输入端，并控制所述测 量仪器在所述被测器件输入端读取第二输出信号；根据所述源信号、所述线路插入损耗数据和所述第二输出信号，计算所述测试系统的 前端插入损耗数据。5.根据权利要求4所述的校准方法，其特征在于，还包括:控制信号源将源信号输入到所述测试系统的所述系统输入端，并通过所述测试系统的 所述被测器件输入端将所述源信号输入到所述测试系统的所述被测器件输出端，并控制测 量仪器在所述测试系统的系统输出端读取第三输出信号；根据所述源信号、所述第三输出信号和所述前端插入损耗数据，计算所述测试系统的 第二插入损耗数据，并根据所述第二插入损耗数据对所述测试系统进行小功率校准。6.—种测试系统的校准系统，用于对测试系统进行校准，其特征在于，包括:第一输入模块，用于控制信号源将源信号输入到所述测试系统的系统输入端，并通过 所述测试系统的被测器件输入端将所述源信号输入到功率放大装置中；所述功率放大装置 用于对所述源信号进行放大处理后生成放大信号；检测模块，用于将所述功率放大装置对所述源信号进行放大处理后生成的所述放大信 号输入到所述测试系统的被测器件输出端，并控制测量仪器在所述测试系统的系统输出端 读取第一输出信号；第一计算模块，用于根据所述源信号、所述第一输出信号和所述功率放大装置的标称 值数据，计算所述测试系统的第一插入损耗数据，并根据所述第一插入损耗数据对所述测 试系统进行大功率校准。7.根据权利要求6所述的校准系统，其特征在于，所述计算模块包括:输入单元，用于控制所述信号源将所述源信号输入到所述功率放大装置中，将所述功 率放大装置对所述源信号进行放大处理后生成的所述放大信号输入到衰减器中，并控制所 述测量仪器读取所述衰减器输出的第一衰减信号；第一计算单元，用于根据线路插入损耗数据、所述衰减器的衰减值数据、所述源信号和 所述第一衰减信号，计算所述功率放大装置的所述标称值数据；第二计算单元，用于根据所述第一输出信号和所述标称值数据，计算所述测试系统的 第一插入损耗数据。8.根据权利要求7所述的校准方法，其特征在于，所述第一计算单元包括:第一计算子单元，用于控制所述信号源将所述源信号输入到所述测量仪器中，并控制 所述测量仪器读取测量信号，根据所述源信号和所述测量信号计算所述线路插入损耗数 据；第二计算子单元，用于控制所述信号源将所述源信号输入到所述衰减器中，并控制所 述测量仪器读取所述衰减器输出的第二衰减信号，根据所述源信号、所述线路插入损耗数 据和所述第二衰减信号计算所述衰减器的所述衰减值数据；第三计算子单元，用于根据所述线路插入损耗数据、所述衰减值数据、所述源信号和所 述第一衰减信号，计算所述功率放大装置的所述标称值数据。9.根据权利要求8所述的校准系统，其特征在于，还包括:第二输入模块，用于控制所述信号源将所述源信号输入到所述测试系统的所述系统输 入端，并控制所述测量仪器在所述被测器件输入端读取第二输出信号；第二计算模块，用于根据所述源信号、所述线路插入损耗数据和所述第二输出信号，计 算所述测试系统的前端插入损耗数据。10.根据权利要求9所述的校准系统，其特征在于，还包括:第三输入模块，用于控制信号源将源信号输入到所述测试系统的所述系统输入端，并 通过所述测试系统的所述被测器件输入端将所述源信号输入到所述测试系统的所述被测 器件输出端，并控制测量仪器在所述测试系统的系统输出端读取第三输出信号；第三计算模块，用于根据所述源信号、所述第三输出信号和所述前端插入损耗数据，计 算所述测试系统的第二插入损耗数据，并根据所述第二插入损耗数据对所述测试系统进行 小功率校准。
【文档编号】G01R35/00GK105974347SQ201610585874
【公开日】2016年9月28日
【申请日】2016年7月22日
【发明人】杨淑红, 王京茹
【申请人】北京润科通用技术有限公司