一种通过改变辐射源类型研究电磁场探头微扰动性的方法
【专利摘要】本发明一种通过改变辐射源类型研究探头微扰动性的方法：1：获取不同类型的辐射源的电磁场探头测试电磁场强度矩阵Fi；2：利用仿真软件对辐射源在观察平面Pz上的电磁场分布进行有探头情况下的仿真，获取有探头情况下仿真电磁场强度矩阵Fieh1；3：对比矩阵Fi和Fieh1，确定仿真模型。4：利用仿真软件对辐射源在观察平面Pz上的电磁场分布进行无探头情况下的仿真，获取无探头情况下仿真电磁场强度矩阵Fieh0。5：对比矩阵Fieh1和Fieh0；两组电磁场强度对比的差值是对测试数据进行修正的重要依据。本发明得到的数据可对工程中电磁场探头测试的数据进行修正，提高电磁场探头测试结果的可信度，保证仿真过程中建模的准确度，保证结果数据只受到是否存在探头的影响。
【专利说明】一种通过改变辐射源类型研究电磁场探头微扰动性的方法 【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种对电磁场探头微扰动性研究的方法，尤其是指一种通过改变辐射 源类型研究电磁场探头微扰动性的方法，具体来说是研究电磁场探头在应用过程中由于不 同的辐射源类型产生的不同的微扰动性。 【【背景技术】】
[0002] 随着科学技术的飞速发展、大规模集成电路的广泛应用和电路的工作频率越来越 高，电气设备中的每一个模块甚至每一段走线都可能是产生电磁干扰的源。电磁干扰不仅 影响系统的正常工作，而且在严重的情况下可能造成严重的事故。在系统级电磁兼容设计 过程中对指标进行验证的时常使用电磁场探头对被测设备辐射的电磁场强度进行测量。
[0003] 传统上往往忽略了由于探头的金属结构而对被测设备辐射的电磁场分布造成扰 动，探头测得的场分布并不是实际的场分布值，这是影响探头使用效果的重要因素。不同类 型的辐射源产生的电磁场分布在受到电磁场探头的微扰时产生的变化是不同的，在使用探 头测试场强数据在误差允许范围内的扰动可以忽略，其他不能忽略扰动则需要对电磁场探 头测得的数据进行修正。 【
【发明内容】
】
[0004] 为了修正由于电磁场探头对被测设备电磁场分布产生的微扰而引起的测量偏差， 本发明提出一种通过改变辐射源类型研究电磁场探头微扰动性的方法
[0005] 本发明的一种通过改变辐射源类型研究探头微扰动性的方法，其特征在于包括有 以下步骤：
[0006] 第一步:获取电磁场探头测试电磁场强度矩阵F1;
[0007] 设置不同类型的辐射源，在观察平面Pz上随机选取M个观察点进行测量，测量得到 电磁场辐射强度按照先后顺序用矩阵？ 1(1 = 1，2，一）表示，其中i表示第i种辐射源被探头 测得的场强度，该矩阵有1XM个元素。
[0008] 第二步:获取有探头情况下仿真电磁场强度矩阵F，1;
[0009] 利用仿真软件对辐射源在观察平面匕上的电磁场分布进行有探头情况下的仿真， 观察点的位置和选择顺序与第一步中观察点的位置和选择顺序是一致的，得到辐射强度矩 阵F， 1，其中上标ehl表示有探头情况下的仿真结果，下标i表示不同类型的辐射源，该矩阵 有1 XM个元素。
[0010] 第三步:对比矩阵Fi和Fiehl;
[0011] 通过对比Fi和F，1进行判断仿真建模的拟合程度，确定仿真模型。
[0012] 第四步:获取无探头情况下仿真电磁场强度矩阵F，*3;
[0013] 利用仿真软件对辐射源在观察平面Pz上的电磁场分布进行无探头情况下的仿真， 观察点的位置和选择顺序与第一步中观察点的位置和选择顺序是一致的，得到辐射强度矩 阵F，* 3,其中上标ehO表示无探头情况下的仿真结果，下标i表示不同类型的辐射源，该矩阵 有1 XM个元素。
[0014] 第五步:对比矩阵Fiehl和FiehQ;
[0015] 通过对比对F，1和F产13可以得到第i种辐射源的电磁场分布由于电磁场探头的引 入而产生的微扰，两组电磁场强度对比的差值是对测试数据进行修正的重要依据。
[0016] 综上，对于不同的辐射源类型探头引入的扰动是不同的，可能使得测试值比真实 值偏大，可能使得测试值比真实值偏小。通过对比不同类型的辐射源产生的电磁场分布微 扰动，这是在实际工程应用中对探头测试数据进行修正的有力支撑。
[0017] 本发明一种通过改变辐射源类型研究电磁场探头微扰动性的方法，其优点在于：
[0018] (1)传统中利用电磁场探头进行测试往往忽视了探头对辐射源的电磁场分布产生 的微扰，使得测试数据和真实数据存在偏差，而这一偏差可能造成难以估计的后果。本发明 提供了一种对探头的微扰动性进行研究的方法，得到的数据可以对工程中电磁场探头测试 的数据进行修正，明显提高了电磁场探头测试结果的可信度。
[0019] (2)通过利用实测和仿真两组数据进行对比，保证了仿真过程中建模的准确度。利 用有探头和无探头时的仿真结果进行对比满足科学控制变量法，保证了结果数据只受到是 否存在探头的影响。 【【附图说明】】
[0020] 图1是电磁场探头测试辐射源电磁场分布的结构图。
[0021 ]图1A是仿真有探头情况下辐射源电磁场分布的结构图。
[0022] 图1B是仿真无探头情况下辐射源电磁场分布的结构图。
[0023] 图2是实测值场强与仿真有探头情况下的场强对比图。
[0024] 图2A是仿真有探头情况下的场强和仿真无探头情况下的场强对比图。
[0025] 图3是本发明研究电磁场微扰动性流程图。 【【具体实施方式】】
[0026] 下面将结合附图和实施例对本发明做进一步的详细说明。
[0027] 本发明方法所应用的设备具体请参见图1所示的电磁场分布测试平台，包括计算 机、探头夹具、电磁场探头、辐射源和频谱分析仪。探头夹具用于夹持电磁场探头，保证电磁 场探头测量辐射源场分布数据的精度和准确度。电磁场探头、频谱分析仪和计算机相连接， 为的是保证系统的正常工作。
[0028] 1.电磁场探头用于获取辐射源的电磁场强度分布信息。
[0029] 2.频谱分析仪用于将探头获取的电磁场强度信息进行显示和存储。
[0030] 3.计算机用于处理和运算频谱分析仪所存储的电磁场强度信息。
[0031] 本发明一种通过改变辐射源类型研究电磁场探头微扰动性的方法，具体步骤如 下：
[0032] 第一步:获取电磁场探头测试电磁场强度矩阵F1;
[0033] 在观察平面Pz上随机选取M个观察点进行测量，其中观察平面Pz是高于辐射源距离 为Z的平面。观察点位置坐标用(X，y，z )m表示，下标m(m= 1，2，…，M)表示观察点被测试的先 后顺序。通过控制探头夹具使得探头位于不同的观察点进行测量，测量得到电磁场辐射强 度按照先后顺序用矩阵?1(1 = 1，2，一）表示，其中1表示第1种辐射源被探头测得的场强度， 该矩阵有1XM个元素。更换不同类型的辐射源对应不同的下标i，第一类辐射源对应下标i =1〇
[0034] 第二步:获取有探头情况下仿真电磁场强度矩阵F，1;
[0035] 参见图1A所示的有探头仿真结构，包括一个辐射源和一个电磁场探头。将电磁场 探头按照第一步中的选择顺序和观察点行设置，获取有探头情况观察点处的强 场信息，得到矩阵F， 1，对于不同类型的辐射源，对应不同的矩阵F，1。
[0036] 第三步:对比矩阵Fi和Fiehl;
[0037] 将第一步和第二步中得到的场强度矩阵按照下标i进行分组，相同下标的为一组 进行对比，通过对比观察点的场强F4PF，1得到拟合程度，用（l-lFdr^D-F^hDl/lFi (11，1)|)\100%表示拟合度，如果满足不等式|? 1(11，1)4，1(11，1)|/|?1(11，1)|彡0.05表示 建模正确，结果可信。反之则要重新建模仿真，重复第二步直至满足该不等式。其中FKnJ) 表示矩阵F冲的第n个元素，F严(n，l)表示矩阵F， 1中的第n个元素，满足n=l，2,…，M。全 文中I ? I表示对?取绝对值。
[0038] 第四步:获取无探头情况下仿真电磁场强度矩阵F，'
[0039] 参见图1B所示的有探头仿真结构，包括一个辐射源和一个电磁场探头，其中建模 模型与第二步中的模型是一致的。仿真无探头情况下观察点处( x，y，z)m的强场信息，得到 矩阵F， 13，对于不同类型的辐射源，对应不同的矩阵F，1。
[0040] 第五步:对比矩阵Fiehl和Fieh°;
[0041] 将第二步和第四步中得到的场强度矩阵按照下标i进行分组，相同下标的为一组 进行对比。矩阵中的每一个元素都是由于探头的引入而造成的场分布的扰 动，将DdB录存储，对电磁场探头在测试第i种类型的辐射源时对测试数据进行修正。
[0042] 实施例
[0043]设置辐射源为工作频率为1GHz的50 Q微带线和工作频率为9.6GHz的半波振子天 线。辐射源功率均为lmW，在距离辐射源平面1mm处的观察平面随机选取5点观察点，利用电 场探头和磁场探头逐一测量电场强度和磁场强度，利用仿真软件对两种源有探头情况下仿 真，参见图2电场强度和磁场强度的实测值和有探头仿真值保持一致。利用仿真软件分别对 两种辐射源进行无探头情况下的仿真，得到两种辐射源由于探头的引入而产生的扰动特 性，参见图2A，其数值结果如表1所示。
[0045] 表1微带线源和半波振子天线源与电场和磁场探头扰动的特性
[0046] 根据表1可以看出对于微带线源，电场探头的引入使得观察点处的电场强度测试 值比真实值偏大，磁场探头的引入使得磁场强度测试值比真实值偏大。对于半波振子天线 源，电场探头的引入使得观察点处的电场强度测试值比真实值偏小，磁场探头的引入使得 磁场强度的测试值比真实值偏大。实际应用中要对探头测试的数据进行修正。
【主权项】
1. 一种通过改变辐射源类型研究探头微扰动性的方法，其特征在于，该方法包括有以 下步骤： 第一步:获取电磁场探头测试电磁场强度矩阵Fi: 设置不同类型的辐射源，在观察平面Pz上随机选取Μ个观察点进行测量，测量得到电磁 场辐射强度按照先后顺序用矩阵Fdiil，〗，···）表示，其中i表示第i种辐射源被探头测得 的场强度，该矩阵有1 X Μ个元素； 第二步:获取有探头情况下仿真电磁场强度矩阵F，1: 利用仿真软件对辐射源在观察平面Ρζ上的电磁场分布进行有探头情况下的仿真，观察 点的位置和选择顺序与第一步中观察点的位置和选择顺序是一致的，得到辐射强度矩阵 F，1，其中上标ehl表示有探头情况下的仿真结果，下标i表示不同类型的辐射源，该矩阵有 1 X Μ个元素； 第三步:对比矩阵Fi和Fiehl: 通过对比FjPF，1进行判断仿真建模的拟合程度，确定仿真模型； 第四步:获取无探头情况下仿真电磁场强度矩阵F，*3: 利用仿真软件对辐射源在观察平面Pz上的电磁场分布进行无探头情况下的仿真，观察 点的位置和选择顺序与第一步中观察点的位置和选择顺序是一致的，得到辐射强度矩阵 F，'其中上标ehO表示无探头情况下的仿真结果，下标i表示不同类型的辐射源，该矩阵有 1 X Μ个元素； 第五步:对比矩阵Fiehl和FiehQ: 通过对比对F^h1和可以得到第i种辐射源的电磁场分布由于电磁场探头的引入而 产生的微扰，两组电磁场强度对比的差值是对测试数据进行修正的重要依据。
【文档编号】G01R35/00GK106053965SQ201610537802
【公开日】2016年10月26日
【申请日】2016年7月8日
【发明人】阎照文, 刘伟, 李兵, 苏东林
【申请人】北京航空航天大学