一种用于半导体光源的三维远场强度的快速表征装置的制造方法_2

文档序号:8638463阅读:来源:国知局
安装有旋转电机。
[0028]驱动部5的转动轴心线与摆动部6相交有两个交点记为B、C,交点B和交点C作为摆动部6的两个末端,分别沿所述转动轴心线形成延伸部,固定支架2具有两个支撑臂9,相应地套接安装两个延伸部;其中一个延伸部即作为所述驱动部5,驱动电机4位于支撑臂9的外侧。
[0029]所述导光部件7采用光纤跳线,多条导光部件7组成光纤阵列。
[0030]或者,所述导光部件7采用光导管,多条导光部件7组成光导管阵列。
[0031]光电探测器I和固定支架2固定于同一底座11上,或者是使用集线器8或者转换器将多条导光部件7汇集然后通过光电探测器I进行探测从导光部件7传输而来的激光强度,这样光电探测器I可以设置在任意位置。
[0032]本实施例中,可以将该用于半导体光源的三维远场强度的快速表征装置封装在封装壳体内,可以设计通光孔10,待测光源发出的光从通光孔10入射,半圆弧面向待测光源能够以所述半圆弧的两端点连线为轴旋转180度,即半圆弧的轨迹满足对通光孔出光的180度扫描。
[0033]对半导体光源空间光分布,以半导体光源为圆心,在半圆弧上依次排列有多个光纤,每根光纤探测相应位置处的激光强度;等角度间隔旋转该半圆弧,获取特定角度下的空间强度值;半圆弧扫描180°之后,便能获取半导体激光器的远场空间强度分布。
[0034]采用快速表征装置实现远场三维强度快速测量的方法,是通过驱动摆动部6,如图1所示使所有导光部件7面向待测光源以所述半圆弧的两端点连线为轴旋转180度,使用光电探测器I探测从导光部件7传输而来的激光强度,即获得三维远场空间强度分布。
[0035]如图2是本实用新型的另外一种实施方式,本实用新型的用于半导体光源的三维远场强度的快速表征装置也可以是,包括光电探测器1、固定支架2、摆动组件3及其驱动电机4,所述摆动组件3包括固定连接的摆动部6和驱动部5,驱动部5安装于固定支架2上;所述摆动部6的主体为半圆弧,半圆弧上均匀布置有多个光电探测器1,半圆弧面向向待测光源能够以所述半圆弧的两端点连线为轴旋转180度。
[0036]所述驱动部5为直线型,驱动部5同轴安装有旋转电机。
[0037]驱动部5的转动轴心线与摆动部6相交有两个交点记为B、C,交点B和交点C作为摆动部6的两个末端,分别沿所述转动轴心线形成延伸部,固定支架2具有两个支撑臂9,相应地套接安装两个延伸部;其中一个延伸部即作为所述驱动部5,驱动电机4位于支撑臂的外侧。
[0038]针对半导体光源空间光分布,以半导体光源为圆心,在半圆弧上依次排列有光电探测器(对应于设定的探测位点),每个光电探测器探测相应位置处的激光强度;等角度间隔旋转该半圆弧,获取特定角度下的空间强度值;半圆弧扫描180°之后,便能获取半导体激光器的远场空间强度分布。如图2所示采用快速表征装置实现远场三维强度快速测量的方法,是通过驱动摆动部6,使所有光电探测器I面向待测光源以所述半圆弧的两端点连线为轴旋转180度,使用光电探测器I探测从导光部件7传输而来的激光强度,即获得三维远场空间强度分布。
【主权项】
1.一种用于半导体光源的三维远场强度的快速表征装置,其特征在于:包括光电探测器、固定支架、摆动组件及其驱动电机,所述摆动组件包括固定连接的摆动部和驱动部,驱动部安装于固定支架上;所述摆动部的主体为半圆弧,半圆弧上均匀布置有多个导光部件并汇集成束接至所述光电探测器,半圆弧面向待测光源能够以所述半圆弧的两端点连线为轴旋转180度。
2.根据权利要求1所述的用于半导体光源的三维远场强度的快速表征装置,其特征在于:所述导光部件采用光纤跳线或光导管。
3.根据权利要求1所述的用于半导体光源的三维远场强度的快速表征装置,其特征在于:光电探测器和固定支架固定于同一底座上。
4.一种用于半导体光源的三维远场强度的快速表征装置,其特征在于:包括固定支架、摆动组件及其驱动电机,所述摆动组件包括固定连接的摆动部和驱动部,驱动部安装于固定支架上;所述摆动部的主体为半圆弧,半圆弧上均匀布置有多个光电探测器,半圆弧面向待测光源能够以所述半圆弧的两端点连线为轴旋转180度。
5.根据权利要求1至4任一所述的用于半导体光源的三维远场强度的快速表征装置,其特征在于:所述驱动部为直线型,驱动部同轴安装有旋转电机。
6.根据权利要求5所述的用于半导体光源的三维远场强度的快速表征装置,其特征在于:驱动部的转动轴心线与摆动部相交有两个交点记为B、C,交点B和交点C作为摆动部的两个末端,分别沿所述转动轴心线形成延伸部,固定支架具有两个支撑臂,相应地套接安装两个延伸部;其中一个延伸部即作为所述驱动部,旋转电机位于支撑臂的外侧。
【专利摘要】本实用新型提供一种用于半导体光源的三维远场强度的快速表征装置,能够探测半导体光源真实的远场三维强度分布。该快速表征装置主要包括光电探测器、固定支架、摆动组件及其驱动电机,所述摆动组件包括固定连接的摆动部和驱动部,驱动部安装于固定支架上;所述摆动部的主体为半圆弧,半圆弧上均匀布置有多个导光部件并汇集成束接至所述光电探测器,半圆弧面向待测光源能够以所述半圆弧的两端点连线为轴旋转180度。本实用新型结构简明,可靠性高,不存在旋转臂之间相互干涉现象,能够快速完成半导体激光器辐射强度真实的空间三维分布表征。
【IPC分类】G01J1-00
【公开号】CN204346582
【申请号】CN201420821016
【发明人】刘晖, 袁治远, 崔龙, 王昊, 吴迪, 刘兴胜
【申请人】西安炬光科技有限公司
【公开日】2015年5月20日
【申请日】2014年12月20日
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