一种封闭式粉末松装密度检测仪的制作方法
【技术领域】
[0001] 本实用新型涉及一种封闭式粉末松装密度检测仪，属于精密仪器领域。
【背景技术】
[0002] 粉末松装密度（apparent density of powders)是指粉末在规定条件下自 由充满标准容器后所测得的堆积密度，即粉末松散填装时单位体积的质量，单位以g/ e??3表示，是粉末的一种工艺性能。
[0003] 松装密度是粉末多种性能的综合体现，对粉末冶金、机械零件生产工艺的稳定，以 及产品质量的控制都是很重要的，也是模具设计的依据。
[0004] 粉末松装密度的测量方法有3种：漏斗法；斯柯特容量计法；振动漏斗法。
[0005] 采用漏斗法测量密度时，由于环境内气流或者周围有人走动带来风的影响，会造 成由漏斗漏出的粉末不呈垂直状态进入量筒，给测量带来误差，使结果不准确。
【发明内容】
[0006] 本实用新型要解决的技术问题是克服现有的缺陷，提供了一种消除环境干扰、测 量精准的封闭式粉末松装密度检测仪。
[0007] 为了解决上述技术问题，本实用新型提供了如下的技术方案：
[0008] 一种封闭式粉末松装密度检测仪，包括底座、支架、漏斗和量筒，所述底座的上面 为平面，所述支架安装在所述底座的上面，所述支架上设有漏斗支撑架，所述漏斗支撑架通 过升降块固定在所述支架上，所述漏斗设置在所述漏斗支撑架上，还包括封闭罩，所述封闭 罩设置于所述底座的上面，所述封闭罩包括四个侧面和一个顶面，所述顶面设有一个圆孔， 所述漏斗穿过所述圆孔。
[0009] 在上述方案的基础上，所述底座的下面带有可调高度的螺钉；在所述底座的上面 设有水准泡；所述检测仪器还包括圆形托盘，所述圆形托盘的中心设置小圆形凹陷，所述小 圆形凹陷的直径与所述量筒的直径相同，在所述底座的上面设有弧形定位块，所述弧形定 位块的直径与所述圆形托盘的外直径形同，在所述底座的上面设有通过所述支架和所述弧 形定位块的圆心的标线。
[0010] 在上述方案的基础上，所述小圆形凹陷的底面为平面，侧壁为筒状。
[0011] 在上述方案的基础上，所述弧形定位块的数目至少为一个。
[0012] 在上述任一方案的基础上，正常使用时，所述圆形托盘安装于所述弧形定位块内。 [0013] 在上述方案的基础上，正常使用时，所述量筒安装于所述小圆形凹陷内。
[0014] 在上述方案的基础上，正常使用时，所述漏斗支撑架沿所述标线设置，使所述漏斗 的中心与所述量筒的中心位于同一竖直直线上。
[0015] 在上述方案的基础上，所述封闭罩为透明材质，如玻璃、硬质塑料等。
[0016] 在上述方案的基础上，所述底座的下面设有4个螺钉。
[0017] 在上述方案的基础上，，所述漏斗为标准漏斗。
[0018] 在上述方案的基础上，所述量筒为标准量筒。
[0019] 在上述方案的基础上，所述漏斗和所述量筒的材质为黄铜。
[0020] 本实用新型封闭式粉末松装密度检测仪通过设有所述封闭罩，减少了环境中空气 流动和人员行走产生风而带来的干扰，使测量更精准。另外，由于设置所述圆形托盘，可以 将通过刮片刮去的堆积于量筒上部的粉尘收集起来，测试结束后只需清洗所述圆形托盘即 可，无需清理底座，避免了操作人员的不便，也防止了由于清理底座时误触其他部件而对仪 器带来的损伤；另外，本实用新型，通过所述弧形定位块和小圆形凹陷以及标线的设计，是 漏斗和量筒的中心精准地位于同一竖直直线上，使测试更加精准、降低误差。
【附图说明】
[0021] 附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用 新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：
[0022] 图1是本实用新型封闭式粉末松装密度检测仪的一优选的结构示意图；
[0023] 图2本实用新型的底座、圆形托盘、量筒依次安装的俯视示意图；
[0024] 图3本实用新型的封闭罩的立体示意图。
【具体实施方式】
[0025] 以下结合附图对本实用新型的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优 选实施例仅用于说明和解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
[0026] 实施例1
[0027] 如图1至3所示，一种封闭式粉末松装密度检测仪，包括底座1、支架2、漏斗3和 量筒4,所述底座1的上面为平面，所述支架2安装在所述底座1的上面，所述支架2上设 有漏斗支撑架5,所述漏斗支撑架5通过升降块6固定在所述支架2上，所述漏斗3设置在 所述漏斗支撑5上，还包括封闭罩12,所述封闭罩12设置于所述底座1的上面，所述封闭 罩12包括四个侧面和一个顶面，所述封闭罩12的一个侧面通过与相邻一个侧面活动连接 可向外打开，所述顶面设有一个圆孔13,所述漏斗3穿过所述13。
[0028] 进一步地，为了测试更精准，所述底座1的下面带有可调高度的螺钉10 ;在所述底 座1的上面设有水准泡8 ;所述检测仪器还包括圆形托盘9,所述圆形托盘9的中心设置小 圆形凹陷，所述小圆形凹陷的直径与所述量筒4的直径相同，在所述底座1的上面设有弧形 定位块11，所述弧形定位块11的直径与所述圆形托盘9的外直径形同，在所述底座1的上 面设有通过所述支架2和所述弧形定位块11的圆心的标线7。
[0029] 进一步地，所述小圆形凹陷的底面为平面，侧壁为筒状。所述弧形定位块11的数 目至少为一个，本实施例中优选为两个。这样设计，当正常工作时，所述圆形托盘9紧靠所 述弧形定位块11上进行固定，量筒4的底面才会处于水平状态，保证测量的结果的准确度 和精度。
[0030] 进一步地，正常使用时，所述圆形托盘安装于所述弧形定位块内，所述量筒4安装 于所述小圆形凹陷内，所述漏斗支撑架5沿所述标线设置，使所述漏斗3的中心与所述量筒 4的中心位于同一竖直直线上。这样设计，才会是测试的结果更精确，也更准确，减少误差。
[0031] 进一步地，所述封闭罩12为透明材质，如玻璃、硬质塑料等
[0032] 进一步地，所述底座1的下面设有4个螺钉，4个螺钉无需全部为可调，可根据需要 设置至少一个螺栓是可调高度的，以保证底座处于水平状态。4个螺钉，可根据需要设置位 置，如处于底座的四角处。
[0033] 进一步地，所述漏斗3为标准漏斗。
[0034] 进一步地，所述量筒4为标准量筒。
[0035] 进一步地，所述漏斗3和所述量筒4的材质为黄铜。
[0036] 所述漏斗和所述量筒，根据国标上和通用的常识，来设计具体的尺寸和材质，只要 能够满足测试要求即可。
[0037] 最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本 实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员 来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征 进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均 应包含在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1. 一种封闭式粉末松装密度检测仪，包括底座、支架、漏斗和量筒，所述底座的上面为 平面，所述支架安装在所述底座的上面，所述支架上设有漏斗支撑架，所述漏斗支撑架通过 升降块固定在所述支架上，所述漏斗设置在所述漏斗支撑架上，其特征在于：还包括封闭 罩，所述封闭罩设置于所述底座的上面，所述封闭罩包括四个侧面和一个顶面，所述封闭罩 的一个侧面通过与相邻一个侧面活动连接可向外打开，所述顶面设有一个圆孔，所述漏斗 穿过所述圆孔。
2. 根据权利要求1所述的封闭式粉末松装密度检测仪，其特征在于：所述底座的下面 带有可调高度的螺钉；在所述底座的上面设有水准泡；所述检测仪器还包括圆形托盘，所 述圆形托盘的中心设置小圆形凹陷，所述小圆形凹陷的直径与所述量筒的直径相同，在所 述底座的上面设有弧形定位块，所述弧形定位块的直径与所述圆形托盘的外直径形同，在 所述底座的上面设有通过所述支架和所述弧形定位块的圆心的标线。
3. 根据权利要求2所述的封闭式粉末松装密度检测仪，其特征在于：所述小圆形凹陷 的底面为平面，侧壁为筒状。
4. 根据权利要求3所述的封闭式粉末松装密度检测仪，其特征在于：所述弧形定位块 的数目至少为一个。
5. 根据权利要求2至4中任一项所述的封闭式粉末松装密度检测仪，其特征在于：正 常使用时，所述圆形托盘安装于所述弧形定位块内。
6. 根据权利要求5所述的封闭式粉末松装密度检测仪，其特征在于：正常使用时，所述 量筒安装于所述小圆形凹陷内。
7. 根据权利要求6所述的封闭式粉末松装密度检测仪，其特征在于：正常使用时，所述 漏斗支撑架沿所述标线设置，使所述漏斗的中心与所述量筒的中心位于同一竖直直线上。
8. 根据权利要求7所述的封闭式粉末松装密度检测仪，其特征在于：所述封闭罩为透 明材质。
9. 根据权利要求8所述的封闭式粉末松装密度检测仪，其特征在于：所述漏斗为标准 漏斗。
10. 根据权利要求9所述的封闭式粉末松装密度检测仪，其特征在于：所述量筒为标准 量筒。
【专利摘要】本实用新型公开了一种封闭式粉末松装密度检测仪，包括底座、支架、漏斗和量筒，所述底座的上面为平面，所述支架安装在所述底座的上面，所述支架上设有漏斗支撑架，所述漏斗支撑架通过升降块固定在所述支架上，所述漏斗设置在所述漏斗支撑架上，其特征在于：还包括封闭罩，所述封闭罩设置于所述底座的上面，所述封闭罩包括四个侧面和一个顶面，所述顶面设有一个圆孔，所述漏斗穿过所述圆孔。本实用新型测试结束后只需清洗圆形托盘即可，无需清理底座，避免了操作人员的不便，防止了由于清理底座时误触其他部件而对仪器带来的损伤；使测试更加精准降低误差。
【IPC分类】G01N9-00
【公开号】CN204556438
【申请号】CN201520248834
【发明人】刘慧玲, 张振兴
【申请人】机械工业办公自动化设备检验所
【公开日】2015年8月12日
【申请日】2015年4月22日