一种用于非标准usb2.0的测试辅助装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种用于非标准USB2.0的测试辅助装置。
【背景技术】
[0002]在现有的电子设备，尤其是电脑主板上所安装的USB2.0 口均要通过一个测试治具进行测试，对于标准的USB2.0 口，一般采用一个测试小板(例如EA USB2.0高速测试夹具)，该测试小板上有标准USB2.0测试连接口，能够将标准USB2.0 口直接插入测试小板，测试小板的另一端连接示波器进行测试，具体的在USB2.0 口四个引出针脚D+、D-、电源和接地脚之中，需要测试小板上的测试口与两个被测信号点D+针脚和D-针脚连接。但是，也存在一些非标准的USB2.0 口，这些非标准的USB2.0 口不能直接连接到现有的测试小板上。现有的解决办法是将被测的非标准USB2.0 口的两个被测信号点D+和D-加上电源和接地脚都引出，焊接到标准的USB2.0 口上，再将标准的USB2.0 口连接到现有的测试小板(例如EA USB2.0高速测试夹具)上。而焊接工艺消耗的时间较长，造成时间和人力的浪费，而且需要焊接的内置口较多，焊接工艺容易造成USB 口的损坏，有着较高的风险。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型旨在解决上述技术问题，提供一种用于非标准USB2.0的测试辅助装置，包括具备标准USB2.0 口测试口的测试小板，还包括第一探针和第二探针，所述第一探针的一端具备第一探头，用于与被测的非标准USB2.0 口的第一被测点(D-点)相点接，所述第一探针的另一端与所述测试小板的标准USB2.0 口测试口的第一测试点(D-点)相连接；所述第二探针的一端具备第二探头，用于与被测的非标准USB2.0 口的第二被测点(D+点)相点接，所述第二探针的另一端与所述测试小板的标准USB2.0 口测试口的第二测试点(D+点)相连接。
[0004]优选的，所述第一探针与所述第一测试点的连接方式为焊接。
[0005]优选的，所述第二探针与所述第二测试点的连接方式为焊接。
[0006]优选的，所述第一探针和所述第二探针均为金属导电材料构成。
[0007]优选的，所述测试辅助装置还具备壳体，所述壳体用于容纳所述测试小板以及第一探针和第二探针。
[0008]利用本实用新型的用于非标准USB2.0的测试辅助装置，能够将现有测试方案中需要对被测的非标准USB2.0 口进行焊接的方式改为点接，避免造成被测非标准USB2.0 口损害的风险，节省测试时间和人力资源，电路简单易于实现。
【附图说明】
[0009]图1为本实用新型的用于非标准USB2.0的测试辅助装置的结构示意图；
[0010]图2为本实用新型的用于非标准USB2.0的测试辅助装置的电路图。
【具体实施方式】
[0011]下面结合附图和【具体实施方式】对本实用新型的用于非标准USB2.0的测试辅助装置作进一步的详细描述，但不作为对本发明的限定。
[0012]如图1所示，壳体1中收纳有测试小板2，本实施方式中测试小板2采用的是现有的EA USB2.0高速测试夹具，在测试小板2上配置有标准USB2.0 口测试口 3，其四个pin分别与标准USB2.0 口的四个pin对应，在图中从左到右方向上的四个pin分别对应于电源、D-点(第一测试点)、D+点(第二测试点)和接地GND。从D-点(第一测试点)和D+点(第二测试点)分别引出第一探针4和第二探针5。第一探针4和第二探针5与测试口 3的连接方式可以为焊接，也可以采用其他连接方式。第一探针4和第二探针5的一端分别具有第一探头和第二探头，分别用于点接被测试的非标准USB2.0 口的D-点和D+点，以下，对于被测的非标准USB2.0 口的D-点和D+点，分别称为第一被测点和第二被测点。
[0013]图2为本实用新型的用于非标准USB2.0的测试辅助装置的电路图，对于测试小板2上的标准USB2.0 口测试口 3，其中脚管D-为第一测试点31、脚管D+为第二测试点32，VBUS点和GND点预留悬空。在被测的非标准USB2.0 口 6上同样相对的，脚管D-为第一被测试点61，脚管D+为第二被测试点62。通过与第一测试点31焊接的第一探针4的第一探头对第一被测试点61点接，与第二测试点32焊接的第二探针5的第二探头与第二被测试点62的点接，从而实现了如图2所示的连接，即第一测试点31连接至第一被测试点61，第二测试点32连接至第二被测试点62。从而实现了使用现有的测试小板对非标准USB2.0 口进行测试。避免了现有技术中采用焊接等方法对被测非标准USB2.0 口损坏的风险。
[0014]另外，第一探针4还可对第二被测试点62进行点测，同时第二探针5还可对第一被测试点61进行点测，对测试结果没有影响。
[0015]以上【具体实施方式】仅为本实用新型的示例性实施方式，不能用于限定本发明，本发明的保护范围由权利要求书限定。本领域技术人员可以在本发明的实质和保护范围内，对本发明做出各种修改或等同替换，这些修改或等同替换也应视为落在本发明的保护范围内。
【主权项】
1.一种用于非标准USB2.0的测试辅助装置，包括具备标准USB2.0 口测试口的测试小板，其特征在于，还包括第一探针和第二探针，所述第一探针的一端具备第一探头，用于与被测的非标准USB2.0 口的第一被测点相点接，所述第一探针的另一端与所述测试小板的标准USB2.0 口测试口的第一测试点相连接；所述第二探针的一端具备第二探头，用于与被测的非标准USB2.0 口的第二被测点相点接，所述第二探针的另一端与所述测试小板的标准USB2.0 口测试口的第二测试点相连接。2.如权利要求1所述的用于非标准USB2.0的测试辅助装置，其特征在于，所述第一探针与所述第一测试点的连接方式为焊接。3.如权利要求1所述的用于非标准USB2.0的测试辅助装置，其特征在于，所述第二探针与所述第二测试点的连接方式为焊接。4.如权利要求1所述的用于非标准USB2.0的测试辅助装置，其特征在于，所述第一探针和所述第二探针均为金属导电材料构成。5.如权利要求1所述的用于非标准USB2.0的测试辅助装置，其特征在于，所述测试辅助装置还具备壳体，所述壳体用于容纳所述测试小板以及第一探针和第二探针。
【专利摘要】一种用于非标准USB2.0的测试辅助装置，包括具备标准USB2.0口测试口的测试小板、第一探针和第二探针，第一探针的一端具备第一探头，用于与被测的非标准USB2.0口的第一被测点相点接，第一探针的另一端与测试小板的标准USB2.0口测试口的第一测试点相连接；第二探针的一端具备第二探头，用于与被测的非标准USB2.0口的第二被测点相点接，第二探针的另一端与测试小板的标准USB2.0口测试口的第二测试点相连接。本实用新型能够避免造成被测非标准USB2.0口损害的风险，节省测试时间和人力资源，电路简单易于实现。
【IPC分类】G01R1/067, G01R31/00
【公开号】CN204989349
【申请号】CN201520733538
【发明人】代建林, 孙虎
【申请人】合肥联宝信息技术有限公司
【公开日】2016年1月20日
【申请日】2015年9月21日